【導(dǎo)讀】目前大型的生產(chǎn)加工企業(yè)使用的是基于PC+PLC的控制方式，該方式價(jià)。針對(duì)小型加工企業(yè)和生產(chǎn)自動(dòng)化程度要求不高的場(chǎng)合，既要考慮成本又要節(jié)。動(dòng)上料控制系統(tǒng)”。控制器，要求該控制器能夠進(jìn)行上料放料整個(gè)工作流程的控制。上料時(shí)間，放料時(shí)間。制，從而構(gòu)成了真空自動(dòng)上料、放料的功能。題目來源及課題意義···········································································1

　　

【正文】 件便可以進(jìn)行單片機(jī)系統(tǒng)的仿真。 我們使用 KEIL 仿真軟件和 PROTEUS 仿真軟件進(jìn)行軟硬件聯(lián)合仿真。 程序仿真的步驟如下： 首先 ， 用 KEIL 進(jìn)行軟件仿真，主要包括 C 語言的編譯、連接、并生成HEX 文件提供給 PROTEUS，仿真界面如下圖所示。 其次， 用 PROTEUS 進(jìn)行硬件仿真，在 PROTEUS 中選擇相應(yīng)的元器件再結(jié)合 KEIL生成的 HEX 文件可以對(duì)系統(tǒng)整體性能進(jìn)行仿真 。 Proteus 仿真整體效果圖如圖 51 所示。 Proteus 鍵值設(shè)定仿真效果圖如圖 52 所示。 Proteus 數(shù)碼管顯示仿真效果圖如圖 53 所示。 安徽建筑工業(yè)學(xué)院 畢業(yè) 設(shè)計(jì) （論文） 第 23 頁 共 43 頁 圖 51 圖 52 安徽建筑工業(yè)學(xué)院 畢業(yè) 設(shè)計(jì) （論文） 第 24 頁 共 43 頁 圖 53 結(jié) 論 在這次畢業(yè)設(shè)計(jì)中，從領(lǐng)取任務(wù)書起 ，迷茫了一段時(shí)間，在欒老師細(xì)心的講解下，終于有點(diǎn)破云見霧的感覺。慢 慢的我對(duì)我的畢業(yè)設(shè)計(jì)產(chǎn)生了興趣，并且這是臨畢業(yè)學(xué)校給我們的一次機(jī)會(huì)，證明這四年里學(xué)到的知識(shí)。 我做的主要是硬件方面的設(shè)計(jì)。 從查閱相關(guān)資料到親手畫電路圖、 PCB 板圖、元器件的選型、系統(tǒng) 的調(diào)試。在每一步中我都碰到了許多模糊的問題，但也通過解決問題而得到啟示。這整個(gè)過程讓我受益匪淺，深刻的意識(shí)到認(rèn)真做一件事對(duì)提高個(gè)人能力的積極意義。 本設(shè)計(jì)是基于 AT89S51 的自動(dòng)加料系統(tǒng)沒有外擴(kuò) ROM 和 RAM，程序直接放在AT89S51 內(nèi)部閃存中。 另外，系統(tǒng)從硬件方面采取了抗干擾措施。 但是在物體送到料斗式干燥機(jī)后沒有設(shè)計(jì)如何 把物體從干燥機(jī)排除來，如果考慮到這一點(diǎn)，那設(shè)計(jì)就更加完美了。 安徽建筑工業(yè)學(xué)院 畢業(yè) 設(shè)計(jì) （論文） 第 25 頁 共 43 頁 致 謝 在此論文完成之際，我要向我的指導(dǎo)老師欒慶磊老師表示最衷心的感謝。經(jīng)過這半學(xué)期的學(xué)習(xí)和相處，欒老師嚴(yán)謹(jǐn)認(rèn)真的工作學(xué)習(xí)作風(fēng)，真誠(chéng)正直、寬厚待人的品德等，都給我留下深刻的印象，在畢業(yè)設(shè)計(jì)過程中，欒老師每一次都能很認(rèn)真的給我們指導(dǎo)，我們深知自己的知識(shí)很淺薄，但欒老師一直鼓勵(lì)我們多查閱資料，使我們對(duì)此設(shè)計(jì)理解的很到位。而且欒老師對(duì)我們的畢業(yè)設(shè)計(jì)進(jìn)度安排的井井有條，使我們有充分的時(shí)間去做每一部分。這些優(yōu)秀的作風(fēng)，治學(xué)的態(tài)度和高尚的品德都將是我一 生中的寶貴財(cái)富。 同時(shí)也要感謝跟我搭檔的同學(xué)，由于我們住的很近，經(jīng)常的相互探討，很多問題能夠通過我們的討論得到一個(gè)統(tǒng)一結(jié)果，有了他的配合相助，避免了不少錯(cuò)誤和彎路，經(jīng)過我們的互相調(diào)協(xié)，最終使我做的硬件和他做的軟件得到了結(jié)合。 最后感謝我的學(xué)校，在大學(xué)里的四年時(shí)光里，我學(xué)到了知識(shí)，鍛煉了身體，更重要的是學(xué)會(huì)了為人處世之道。所有這些，都將是我在人生道路上不斷前進(jìn)的力量之源。另外感謝學(xué)校給我們提供這次機(jī)會(huì)，讓我們學(xué)以致用，為大學(xué)四年劃上完美的句號(hào)！ 論文脫稿之際，祝福我的父母，老師、同學(xué)和所有關(guān)心和幫助過我的朋友 ！ 安徽建筑工業(yè)學(xué)院 畢業(yè) 設(shè)計(jì) （論文） 第 26 頁 共 43 頁 參考文獻(xiàn) 【 1】 孫涵芳 徐愛卿 《單片機(jī)原理及應(yīng)用》 北京航空航天大學(xué)出版社 【 2】 閻石 《數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)（第五版）》 高等教育出版社 2021 【 3】 康華光 陳大欽 《電子技術(shù)基礎(chǔ)模擬部分（第五版）》 高等教育出版社 【 4】 于海生 《計(jì)算機(jī)控制技術(shù)》 機(jī)械工業(yè)出版社 【 5】 李曉瑩 張新榮 《傳感器與測(cè)試技術(shù)》 高等教育出版社 【 6】 張瑾 張偉 《電路設(shè)計(jì)與制版 Protel 99SE 入門與提高》 人民郵電出版社 【 7】 譚浩強(qiáng) 《 C 語言程序設(shè)計(jì)（第三版）》 清華大學(xué) 出版社 【 8】 朱云芳 江樺 《 Protel 99SE 電路設(shè)計(jì)與主板快學(xué)易通》 機(jī)械工業(yè)出版社 【 9】 劉燦軍，《實(shí)用傳感器》，國(guó)防工業(yè)出版社， 【 10】 賈瑞皋，薛慶忠 ，《電磁學(xué)》， 高等教育出版社 ， 【 11】 ATMEL. 8bit Micro controller with Flash application note,1998 【 12】 ATEML. Corporation. Nonvolatile Memory Date Book, May 1996 安徽建筑工業(yè)學(xué)院 畢業(yè) 設(shè)計(jì) （論文） 第 27 頁 共 43 頁 附錄 I 系統(tǒng)硬件原理圖 C330pFEA/VP31X119X218RESET9RD17WR16INT012INT113T014T115P101P112P123P134P145P156P167P178P0039P0138P0237P0336P0435P0534P0633P0732P2021P2122P2223P2324P2425P2526P2627P2728PSEN29ALE/P30TXD11RXD10GND20VCC40IC18051x 12MC430pFVCCS4放料增S3上料減S2上料增S5放料減VCC8/WP3VSS4RESET7/CS/WDI1SCK6SI5SO2X5043/45IC2VCCS1開關(guān)R2 5KR3 5KU4TLP521U3TLP521U2TLP521U1TLP5211 2 3 4J3 電磁閥123J2 接近開關(guān)+24VC1 104+CC1470UFVCCVCC+24VR205K*3R21 R22 吸料機(jī)原理圖1 2D2 1 2D1 1 2D3 R4R5R6 R75k * 5C2 104+CC2470UF+24VR8 X5045M3 IRF540M1 IRF540M2 IRF540ST142238415DFIN6VEE7VSS8A9B 10C11D12E13G14F15VCC16IC3CD4056ST142238415DFIN6VEE7VSS8A9B 10C11D12E13G14F15VCC16IC4CD40562323123IN4007*3R25 R24 R23 5K*31234J1 CON4+24V電源+5V電源R1 5K100*5C11104R365KE3 E4 E5C2E3E4E5R14R15R16R17R26R27R28R29R30A1A2 A3 A4A2 A3 A1 A4A2 A3 A1 A4C1C2 C1B11B22B33A1 A2 A3 A4 C3C4D4 D5B11B22B33D1D2D3D4D5D1D2D3a3 b3 c3 d3 e3 f3 g3a1 b1 c1 d1 e1 f1 g1a b c d e f gabfb1a1g1f1cgdec1d1e1b2a2f2b3a3g3f3c2g2d2e2c3d3e3C1C2C3C4R11R12R13b1a2f 3vcc4vcc5b16a17g18f19e110d111c112dp113e14d15g16c17dp18SMG1b1a2f 3vcc4vcc5b16a17g18f19e110d111c112dp113e14d15g16c17dp18SMG2ST142238415DFIN6VEE7VSS8A9B 10C11D12E13G14F15VCC16IC5CD4056A2 A3 A1 A4a2 b2 c2 d2 e2 f2 g2ST142238415DFIN6VEE7VSS8A9B 10C11D12E13G14F15VCC16IC6CD4056VCCC5 104VCC+24V 安徽建筑工業(yè)學(xué)院 畢業(yè) 設(shè)計(jì) （論文） 第 28 頁 共 43 頁 附錄 II電路 PCB板圖 安徽建筑工業(yè)學(xué)院 畢業(yè) 設(shè)計(jì) （論文） 第 29 頁 共 43 頁 附錄 III 英文翻譯及譯文 Power system automation simulation system and its application Introduction Power system for power automation equipment specifications and product quality requirements have been increasing, the research units and the manufacturer39。s investment in scientific research more and more, the prototype of the technology index is high, but mass production far back product operation is not satisfactory, mainly in the production process to debug, test and inspection equipment is not prehensive enough Centre at. Whether early transistors, integrated circuits, or the current puter protection device, the traditional production mode and debug method is basically the same, and generally use the contract system, from the veneer to the overall debugging pleted at the same station, both affect product quality and consistency, but also difficult to mass production, low efficiency, and the entire screen most of the factory inspection manual used on a single screen rather than on the position of the line protection system under simulated operational environment to experiment. NARIRELAYS Electric Co. Lid. In the production of means of quality control work done indepth, volume of product quality to ensure consistency, reduce human error factors, to improve production efficiency to establish hightech automatic production line. All products by module deposition, the formation of assemblyline, the first automated testing of single modules, and then automatically test machine, this all puterbased single board puter machine tester and automatic test instrument developed and put into use, not only greatl y improve the efficiency of tabor, and fundamentally changed the concept of relay production debugging, to eliminate the human factor caused by quality problems. However, this approach can only be tested on a single device, ensure that the single unit of product quality