【導(dǎo)讀】目前，國內(nèi)外PTC元件的應(yīng)用日益廣泛，測試與確定其性能參數(shù)意義重大。本文從PTC熱敏電阻器測試規(guī)范出發(fā)，利用USB總線自供電，即插即用，速度快，的測量PTC熱敏電阻在不同溫度下的阻值變化情況。論文重點闡述了系統(tǒng)硬件測。試框架，軟件設(shè)計流程以及運行結(jié)果的測試分析等。系統(tǒng)采用MPS-010602多功能。有好的應(yīng)用程序測試界面。用戶設(shè)置好測試參數(shù)便可以對敏感元件進行實時動態(tài)。的測量，實現(xiàn)曲線的顯示。在測試結(jié)果的分析中，找到了誤差的根源所在，并提。供了相對應(yīng)的解決方案。這種基于USB的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，大大提高了測試效率和儀器的自動化程度，是一種有效、經(jīng)濟、方便的數(shù)據(jù)采集方式，給工程帶來了極大的方便。

　　

【正文】 bject(amp。NewPen2)。 //選擇新筆，并保存舊筆 //標識坐標軸 pDCTextOut(hOriginPoint+5,vOriginPointmaxHeight,Volt/V)。 pDCTextOut(hOriginPoint+maxWidth+5,vOriginPoint,t/s)。 //顯示鼠標的位置坐標 pDCTextOut(+15,+5,m_string)。 if(VoltAnolog[0]!=100) pDCMoveTo(hOriginPoint,vOriginPoint(int)(VoltAnolog[0]*))。 //采用120 保持精度 for(i=0。i20xx。i++) { if(VoltAnolog[i]!=100) pDCLineTo(hOriginPoint+i,vOriginPoint(int)(VoltAnolog[i]*))。 //采用 120保持精度 } pDCSelectObject(pOldPen2)。 //還原舊筆 基于數(shù)據(jù)采集卡的敏感元件動態(tài)測試系統(tǒng) 18 //選擇高低電平 if(mouseclickflag1==1) { CPen NewPen3(PS_SOLID,1,RGB(0,0,255))。 //創(chuàng)建畫筆，實線，藍色 CPen* pOldPen3=pDCSelectObject(amp。NewPen3)。 pDCMoveTo(hOriginPoint,)。 pDCLineTo(hOriginPoint+maxWidth,)。 pDCSelectObject(pOldPen3)。 } if(mouseclickflag2==1) { CPen NewPen4(PS_SOLID,1,RGB(0,0,255))。 //創(chuàng)建畫筆，實線，藍色 CPen* pOldPen4=pDCSelectObject(amp。NewPen4)。 pDCMoveTo(hOriginPoint,)。 pDCLineTo(hOriginPoint+maxWidth,)。 pDCSelectObject(pOldPen4)。 } } } void CTestsystemView::OnInitialUpdate() { CScrollView::OnInitialUpdate()。 CSize sizeTotal。 // TODO: calculate the total size of this view =hOriginPoint+maxWidth+30。 = vOriginPoint+20。 SetScrollSizes(MM_TEXT, sizeTotal)。 } ///////////////////////////////////////////////////////////////////////////// // CTestsystemView printing 基于數(shù)據(jù)采集卡的敏感元件動態(tài)測試系統(tǒng) 19 BOOL CTestsystemView::OnPreparePrinting(CPrintInfo* pInfo) { // default preparation return DoPreparePrinting(pInfo)。 } void CTestsystemView::OnBeginPrinting(CDC* /*pDC*/, CPrintInfo* /*pInfo*/) { // TODO: add extra initialization before printing } void CTestsystemView::OnEndPrinting(CDC* /*pDC*/, CPrintInfo* /*pInfo*/) { // TODO: add cleanup after printing } （ 2）數(shù)據(jù)采集模塊：在用戶設(shè)置好數(shù) 據(jù)采集卡參數(shù)的基礎(chǔ)上，對采集到的模擬量進行 A/D 轉(zhuǎn)換，并將得到的數(shù)據(jù)在實時顯示模塊以直觀的曲線形式展現(xiàn)在用戶眼前。數(shù)據(jù)采集模塊的主要程序代碼如下所示： void CTestsystemView::OnDataacqgo() { // TODO: Add your mand handler code here UpdateData()。 drawflag=FALSE。 stopflag=FALSE。 CTestsystemDoc* pDoc=GetDocument()。 for(int i=0。i20xx。i++) { VoltDigital[i]=0。 VoltAnolog[i]=100。 pDocVoltAnolog[i]=100。 } num=0。 SetTimer(1, 1000, 0)。 } void CTestsystemView::OnDataacqstop() { // TODO: Add your mand handler code here stopflag=TRUE。 } 基于數(shù)據(jù)采集卡的敏感元件動態(tài)測試系統(tǒng) 20 void CTestsystemView::OnTimer(UINT nIDEvent) { // TODO: Add your message handler code here and/or call default if(nIDEvent==1) { if((stopflag==TRUE)|(num=20xx)) { stopflag=FALSE。 KillTimer(1)。 } else { int i。 int n=128。 unsigned short value_buf[128]。 for(i=0。in。i++) { value_buf[i]=0。 } VoltAnolog[num]=MPS_TEST()。//動態(tài)調(diào)用 MPS_TEST() //查殺毛刺并顯示 CTestsystemDoc* pDoc=GetDocument()。 if(num=2) if((((VoltAnolog[num1]VoltAnolog[num2])=)amp。amp。((VoltAnolog[num1]VoltAnolog[num])=)) |(((VoltAnolog[num2]VoltAnolog[num1])=)amp。amp。((VoltAnolog[num]VoltAnolog[num1])=))) VoltAnolog[num1]=VoltAnolog[num2]。 if(num=1) { pDocVoltAnolog[num1]=VoltAnolog[num1]。 drawflag=TRUE。 //準備重新繪制窗口曲線 Invalidate()。 UpdateWindow()。 } 基于數(shù)據(jù)采集卡的敏感元件動態(tài)測試系統(tǒng) 21 num++。 } } CScrollView::OnTimer(nIDEvent)。 } 為了實現(xiàn)模擬量輸入，需使用 MPS010602 板卡提供的動態(tài)鏈接庫（ DLL）。首先將“ ”文件拷貝到工程 debug 目錄下，然后在測試程序的最后添加動態(tài)調(diào)用 DLL 文件的函數(shù) MPS_TEST()，程序代碼如下所示： float CTestsystemView::MPS_TEST() { HINSTANCE hDll = LoadLibrary()。 //加載 DLL if(hDll==NULL) { AfxMessageBox(加載 DLL 文件失敗 )。 } //函數(shù)聲明 //SetPara 函數(shù) typedef int(* Type_SetPara)(int SampleRate, int ADChannalNumber, int *ADPGAofChannals, int DIOModal, unsigned short PWM1, unsigned short PWM2, int ComparatorEnable, int ExtTrigger, int DeviceNumber)。 Type_SetPara MPS_SetPara=(Type_SetPara)GetProcAddress(hDll, SetPara)。 if(MPS_SetPara==NULL) { AfxMessageBox(無法找到 SetPara函數(shù) )。 } //DataIn 函數(shù) typedef int(*Type_DataIn)(float *VoltageIn1, float *VoltageIn2, unsigned char *DI, int SampleNumber, int DeviceNumber)。 Type_DataIn MPS_DataIn=(Type_DataIn)GetProcAddress(hDll, DataIn)。 if(MPS_DataIn==NULL) { AfxMessageBox(無法找到 DataIn函數(shù) )。 基于數(shù)據(jù)采集卡的敏感元件動態(tài)測試系統(tǒng) 22 } //變量定義及初始化 int PGAArray[16]。//={1,1,1,1,1,1,1,1, 1,1,1,1,1,1,1,1,}。 define SampleNumber 128 float VoltageIn1[SampleNumber]。 float VoltageIn2[SampleNumber]。 unsigned char DI[SampleNumber]。 int MPS_flag=0。 int h=SampleNumber。 while(h) { VoltageIn1[h]=0。 VoltageIn2[h]=0。 DI[h]=0。 } //采集與輸出 MPS_flag=MPS_SetPara(5000, 2, PGAArray,2, 0, 0, 0, 0, 0)。 //初始化參數(shù)：采樣率為 K； 2 通道采集；無增益； Dx 全部為輸出模式；無 PWM 輸出；比較器禁止；內(nèi)部時鐘；設(shè)備 if(MPS_flag==0) { AfxMessageBox(DAQ Error! Please check hardware!)。 } { MPS_flag=MPS_DataIn(VoltageIn1,VoltageIn2,DI,SampleNumber, 0)。 //采集 if(MPS_flag==0) { AfxMessageBox(DAQ Error! Please check hardware!)。 } int t,s。 float temp, value_buf[SampleNumber]。 for(t=0。tSampleNumber。t++) { value_buf[t]=VoltageIn1[t]。 } for(t=0。tSampleNumber1。t++) //冒泡排序， 128 個點 基于數(shù)據(jù)采集卡的敏感元件動態(tài)測試系統(tǒng) 23 { for(s=0。sht。s++) { if(value_buf[s]value_buf[s+1]) { temp=value_buf[s]。 value_buf[s]=value_buf[s+1]。 value_buf[s+1]=temp。 } } } return(value_buf[(SampleNumber1)/2])。// 采 集 得 到 的 值 返 回 到VoltAnolog[num]中 } } 編輯好程序代碼，進行調(diào)試，如果調(diào)試沒有出現(xiàn)錯誤，則可以插上數(shù)據(jù)采集卡，連接硬件電路進行測試。需要注意的是，如果沒有正確插入數(shù)據(jù)采集卡，程序會出現(xiàn)警告，如圖 所示。 圖 未插入數(shù)據(jù)采集卡程序的響應(yīng)界面圖 第 4章 運行結(jié)果及測試結(jié)果分析 測試結(jié)果 為了檢測本套數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的實用和精準性，