【正文】 首先將“ ”文件拷貝到工程 debug 目錄下，然后在測試程序的最后添加動(dòng)態(tài)調(diào)用 DLL 文件的函數(shù) MPS_TEST()，程序代碼如下所示： float CTestsystemView::MPS_TEST() { HINSTANCE hDll = LoadLibrary()。 VoltageIn2[h]=0。 value_buf[s]=value_buf[s+1]。tSampleNumber1。 unsigned char DI[SampleNumber]。 UpdateWindow()。 } else { int i。 } ///////////////////////////////////////////////////////////////////////////// // CTestsystemView printing 基于數(shù)據(jù)采集卡的敏感元件動(dòng)態(tài)測試系統(tǒng) 19 BOOL CTestsystemView::OnPreparePrinting(CPrintInfo* pInfo) { // default preparation return DoPreparePrinting(pInfo)。 //創(chuàng)建畫筆，實(shí)線，藍(lán)色 CPen* pOldPen3=pDCSelectObject(amp。 pDCLineTo(hOriginPoint,vOriginPointmaxHeight)。i=200。 //創(chuàng)建畫坐標(biāo)的畫筆，實(shí)線，黑色 CPen* pOldPen=pDCSelectObject(amp。 圖 各主菜單下的子菜單資源 基于數(shù)據(jù)采集卡的敏感元件動(dòng)態(tài)測試系統(tǒng) 15 （ 1）圖形實(shí)時(shí)顯示模塊：在繪制出應(yīng)用程序界面的基本要求上，其主要功能是根據(jù)使用者的要求把采集到的數(shù)據(jù)繪制成曲線，使用戶能夠直觀的感覺到傳感器的響應(yīng)變化，其橫坐標(biāo)是采樣時(shí)間（單位是秒），縱坐標(biāo)是電壓（單位是伏）。 int * Counter2：指向保存計(jì)數(shù)器 2 計(jì)數(shù)值的變量的指針。值得注意的是：當(dāng)對應(yīng)的端口Dx端口被設(shè)置為輸入模式時(shí)，向 Dx 輸出低電平表示將 Dx拉低， Dx將不隨輸入變化而變化；向 Dx 輸出高電平表示將 Dx 配置為輸入狀態(tài)，此時(shí)才可以從 Dx 中讀到外界輸入的電平狀態(tài)。注意注意：：該函數(shù)必須與 DataIn 函數(shù)同時(shí)執(zhí)行函數(shù)同時(shí)執(zhí)行，且必須保 證 DataIn 執(zhí)行無中斷或延遲無中斷或延遲，否則會影響輸出信號的連續(xù)性否則會影響輸出信號的連續(xù)性。若函數(shù)執(zhí)行成功，該數(shù)組內(nèi)數(shù)據(jù)被自動(dòng)更新為最新采集到的數(shù)據(jù)（更新的元素個(gè)數(shù)由 SampleNumber 決定）；若函數(shù)執(zhí)行失敗，該數(shù)組內(nèi)數(shù)據(jù)無效。 int DeviceNumber：操作所針對的設(shè)備號。若 DIOModal 為其他值自動(dòng)配置 DIOModal = 0。若函數(shù)執(zhí)行成功，返回 1；執(zhí)行失敗返回 0。 DLL 可以方便的在 VC、 VB、LabVIEW 等語言下被調(diào)用，在 VC 中調(diào)用 DLL： typedef void ( * FUNC )(void)。如使用外部信號源，則將信號線與 AD1 連接，信號源地線與板卡 GND 連接。2LSB ? 刷新時(shí)鐘： 5Ksps80Ksps 內(nèi)部時(shí)鐘或外部時(shí)鐘 數(shù)字信號輸入 /輸出 ? 輸入 /輸出通道： 8 路 ? 輸入 /輸出模式： 全輸入 /全輸出 /半輸入半輸出 ? 輸入電平： 兼容 TTL 或 CMOS ? 輸出電平： CMOS ? 輸入 /輸出時(shí)鐘： 5Ksps80Ksps 內(nèi)部時(shí)鐘或外部時(shí)鐘 比較器 ? 比較器個(gè)數(shù)： 2 ? 輸入 電壓： ? 響應(yīng)時(shí)間： ≤10 微秒 基于數(shù)據(jù)采集卡的敏感元件動(dòng)態(tài)測試系統(tǒng) 6 ? 回差電壓： 正向與反向各 2mv ? 比較器輸出： CMOS 電平 計(jì)數(shù)器 ? 計(jì)數(shù)器個(gè)數(shù)： 2 ? 輸入電平： TTL 或 CMOS ? 計(jì)數(shù)位： 16 位（最大 65535） ? 工作時(shí)鐘： 5Ksps80Ksps 內(nèi)部時(shí)鐘或外部時(shí)鐘 PWM 輸出 ? PWM 輸出通道： 2 ? PWM 輸出電平： CMOS ? PWM 輸出脈寬： 8bit 或 16bit ? PWM 時(shí)基： 2M 或 24M ? PWM 狀態(tài)顯示： LED FIFO 存儲器 ? FIFO 個(gè)數(shù)： 4 ? 存儲深度： 1K 工作溫度 ? 0℃ 70℃ 應(yīng)用領(lǐng)域：便攜式儀表和測試設(shè)備、傳感器信號采集與分析、工業(yè)控制。 而通用串行總線(Universal Serial Bus,USB)具有高傳輸速度，易擴(kuò)展性，即插即用的特點(diǎn)，能夠適用當(dāng)今高速發(fā)展的設(shè)備需求，在具備這些優(yōu)點(diǎn)的同時(shí)提高了系統(tǒng)的穩(wěn)定性和精準(zhǔn)性。雖然高聚物基的 PTC 材料準(zhǔn)變溫度低一些，但其成本低及易加工成型，可設(shè)計(jì)性好等特點(diǎn)是陶瓷基材料所不可代替的。本文從 PTC 熱敏電阻器測試規(guī)范出發(fā)， 利用 USB 總線自供電，即插即用，速度快，穩(wěn)定性高等特點(diǎn)，以計(jì)算機(jī)為核 心，開發(fā)出一套完整的軟件應(yīng)用程序，給出一種基于 USB 總線的集數(shù)據(jù)采集，分析，測試為一體的 USB 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，可以動(dòng)態(tài)的測量 PTC 熱敏電阻在不同溫度下的阻值變化情況。它最先由 Frydman 在 1948 年首先發(fā)現(xiàn)，但當(dāng)時(shí)沒有引起人們的重視。不同的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)針對不同的需求而設(shè)計(jì)，但是分析方法和目的卻是相同的。 MPS010602 采用 高速總線接口，支持即插即用和熱插拔，是便攜式系統(tǒng)用戶的最佳選擇，可以取代傳統(tǒng)儀器與 PCI 等接口板卡。板卡上的紅色指示燈亮起。如果與其它 DLL之間沒有沖突，該文件通常映射到進(jìn)程虛擬空間的同一地址上。 （ 3） VC 動(dòng)態(tài)鏈接庫的分類 Visual C++支持三種 DLL，它們分別是 NonMFC DLL（非 MFC 動(dòng)態(tài)庫）、 MFC Regular DLL（ MFC 規(guī)則 DLL）、 MFC Extension DLL（ MFC 擴(kuò)展 DLL）。若 ADPGAofChannals[i]為其他值，則自動(dòng)設(shè)置 ADPGAofChannals[i] = 1。一般情況下建議使用內(nèi)部時(shí)鐘。 VoltageIn2 為一個(gè)一維數(shù)組，其每個(gè)元素代表一個(gè)采樣點(diǎn)的電壓值。 int DeviceNumber：操作所 針對的設(shè)備號。 unsigned char * DO：數(shù)字輸入 /輸出通道 D1D8 將輸出的數(shù)據(jù)。指針?biāo)赶虻膶ο鬄檎蛿?shù)，函數(shù)成果執(zhí)行后該整型數(shù)將被更新為最新的計(jì)數(shù)器 計(jì)數(shù)值。應(yīng)用程序界面如圖 所示。 graphWndGetClientRect(amp。 (temp)。 //采用 12保持精度 } else 基于數(shù)據(jù)采集卡的敏感元件動(dòng)態(tài)測試系統(tǒng) 17 { pDCMoveTo(hOriginPoint2,vOriginPointi*12)。i++) { if(VoltAnolog[i]!=100) pDCLineTo(hOriginPoint+i,vOriginPoint(int)(VoltAnolog[i]*))。 // TODO: calculate the total size of this view =hOriginPoint+maxWidth+30。 } void CTestsystemView::OnDataacqstop() { // TODO: Add your mand handler code here stopflag=TRUE。 if(num=1) { pDocVoltAnolog[num1]=VoltAnolog[num1]。//={1,1,1,1,1,1,1,1, 1,1,1,1,1,1,1,1,}。tSampleNumber。// 采 集 得 到 的 值 返 回 到VoltAnolog[num]中 } } 編輯好程序代碼，進(jìn)行調(diào)試，如果調(diào)試沒有出現(xiàn)錯(cuò)誤，則可以插上數(shù)據(jù)采集卡，連接硬件電路進(jìn)行測試。 //初始化參數(shù)：采樣率為 K； 2 通道采集；無增益； Dx 全部為輸出模式；無 PWM 輸出；比較器禁止；內(nèi)部時(shí)鐘；設(shè)備 if(MPS_flag==0) { AfxMessageBox(DAQ Error! Please check hardware!)。 Type_SetPara MPS_SetPara=(Type_SetPara)GetProcAddress(hDll, SetPara)。//動(dòng)態(tài)調(diào)用 MPS_TEST() //查殺毛刺并顯示 CTestsystemDoc* pDoc=GetDocument()。i20xx。NewPen4)。 //選擇新筆，并保存舊筆 //標(biāo)識坐標(biāo)軸 pDCTextOut(hOriginPoint+5,vOriginPointmaxHeight,Volt/V)。 pDCLineTo(hOriginPoint+maxWidth10,vOriginPoint+5)。i++) { _itoa(i*100,temp,10)。j20xx。 該數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)是采用 Visual C++ 編寫應(yīng)用軟件程序的。該參數(shù)的最小值為 128，且必須為 128 的倍數(shù)，否則根據(jù)向下就近原則自動(dòng)配置為 128 的倍數(shù)。 float * VoltageOut2 ：模擬輸出通道 DA2 將輸出的數(shù)據(jù)。 DI 指向的數(shù)組大小應(yīng)大于 SampleNumber 的大小。 VoltageIn1 為一個(gè)一維數(shù)組，其每個(gè)元素 代表一個(gè)采樣點(diǎn)的電壓值。注：若 SampleRate大于等于 50000， PWM2時(shí)基為 24M,PWM2輸出為 16bit 循環(huán)模式；若 SampleRate 小于 50000， PWM2 時(shí)基為 2M， PWM2 輸出為 8bit 循環(huán)模式（ PWM2 的高 8 位有效）。 int ADChannalNumber：模擬輸入通道數(shù)。 對動(dòng)態(tài)鏈接庫，我們還需建立如下概念 [14]： （ 1） DLL 的編制與具體的編程語言及編譯器無關(guān) 只要遵循約定的 DLL 接口規(guī)范和調(diào)用方式，用各種語言編寫的 DLL 都可以相互調(diào)用。 MPS010602 的功能測試程序界面如圖 所示。 ? 藍(lán)色 LED： PWM 輸出狀態(tài)指示。 第 2章 測試系統(tǒng)的原理框架和硬件簡述 測試系統(tǒng)的原理框架 USB 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的原理框圖，如圖 所示。表征阻 溫特性的另一重要參數(shù)電阻溫度系數(shù) At(%Pe)，定義為 : At=dR/（ RdT） （ ） 溫度系數(shù)越大，電阻溫度曲線越陡峭， PTC 特性就越好 [10， 11]。 關(guān)鍵詞： PTC 熱敏電阻，數(shù)據(jù)采集， USB， Visual C++ Abstract At present, the PTC element is widely used at home and abroad, because of which the testing and performance parameters is significant. The article is started from the PTC thermistor’s test specification, and the advantages of USB with selfpowered, plug and play, high speed and high stability are fully used. The puter as the core develops a plete set of software applications and gives a USB busbased data acquisition, analysis, testing as one of the USB data acquisition system that can dynamically measure the PTC thermistor resistance change of circumstances at different temperatures. The paper mainly focuses on the system hardware testing framework, the software design process and analysis of test results, and so on. The system uses MPS010602 multifunction signal acquisition card connects the puter wi