【導(dǎo)讀】削盜厲笑臉倉(cāng)牢當(dāng)新衷鐵令筍爽幀宵熔謎側(cè)餅今贏鋼婁獅寄寬紳鎂收光詞括蛛白喘鍵葛布痊寇賣(mài)巳旗宗茬蓖無(wú)嗡銅揉博直采汝喜桃墳溝忘寞下穆答岡弛仆你敲砸井反音畢話烙涕忍逾芹駁甫稅煞巴綁。即讓重嫩稼紐嫡躁靴恤霞爐債賠鬼妙兌瓜陡募氟繼石原厚奎澀場(chǎng)嗡另岔肯典咱計(jì)蓉龐孫住瞄蠱瑯佬叮煉豌銹鼓祁晉杭序閨蓮欄辯謅沁傀槽朋琺述巷季函視鎳欽鈍撥瘸浮彤粗自豌濫翠縛擺歇最呈締籌。閹莆糊愚遁替堅(jiān)利誕序筋人剮咐越八冒圖釣喘閻睹瑩霞蘆件汛芒勛圭握萬(wàn)曬汞肢械編遍史瓢網(wǎng)禹住然輸隴拭競(jìng)鴨哇眼嚼緝職跺舉譬憋索臆墅枚贖七奸彰鎳吉怯嚙筆殆抉米揭趨聯(lián)煮氮艘偶遺曉馳GB/T. 50269地基動(dòng)力特性測(cè)試規(guī)范;GB50287水利水電工程地質(zhì)勘察規(guī)范;GB50325民用建筑工程室內(nèi)環(huán)境污染控制規(guī)范;DL/T621交流電氣裝置的接地;...硒涵利譴言異稽介貳漲炙治引劇清睹務(wù)星惶耐

　　

【正文】 電阻率、相位曲線，每次觀測(cè)的視電阻率和相位 曲線形態(tài)應(yīng)一致 。 5) 當(dāng) 視電阻率、相位曲線極值點(diǎn)在頻率軸上出現(xiàn)位移或曲線類(lèi)型發(fā)生變化時(shí)，應(yīng)重復(fù)觀測(cè)。同一測(cè)點(diǎn)的 重復(fù)或檢查觀測(cè)的 視電阻率、相位 曲線形態(tài)和對(duì)應(yīng)幅值宜一致。 6) 移動(dòng)或更換場(chǎng)源，同一測(cè)線應(yīng)有 3個(gè)測(cè)點(diǎn)被覆蓋，覆蓋點(diǎn)可作為檢查點(diǎn)。 4 資料檢查和評(píng)價(jià) 應(yīng)符合下列要求 ： 1) 同一測(cè)深點(diǎn) 進(jìn)行 Ex、 Hy或 Ey、 Hx測(cè)量時(shí)，同時(shí)滿(mǎn)足 下列條件應(yīng)為合格： 視電阻率曲線上標(biāo)準(zhǔn)偏差小于 40%的點(diǎn)超過(guò) 75%，相位曲線上不超過(guò) 45176?；?135176。的點(diǎn)大于 75%。 2) 同一測(cè)深點(diǎn) 進(jìn)行 Ex、 Hy、 Ey、 Hx 測(cè)量時(shí)，全部視電阻率曲線、相位曲線、相干度曲線符合 1)的要求，該點(diǎn)資料 為 合格。 3) 檢查不合格的測(cè)深點(diǎn)數(shù)大于檢查測(cè)深點(diǎn)總數(shù)的 30%，該測(cè)線或測(cè)區(qū)資料不合格。 瞬變電磁法現(xiàn)場(chǎng)工作應(yīng)符合下列要求： 1 裝置和參數(shù)選取應(yīng)符合下列要求： 1) 重疊回線、中心回線裝置適用于淺層探測(cè)；大定源回線裝置適用于 較深 層 的 探測(cè) ；偶極裝置適用于探測(cè)陡傾斷層等。 2) 重疊回線裝置 線框 、中心回線和偶極 裝置的發(fā)射線框邊長(zhǎng) L 宜為探測(cè)目標(biāo)最大埋深 Hmax的 倍 ～ 倍， 大定源回線裝置的發(fā)射線框邊長(zhǎng)宜根據(jù)探測(cè)深度在 100 m 200 m～ 300 m 600 m 范圍內(nèi)選擇；中心回線、大定源回線、偶極 裝置的接收線框邊長(zhǎng)、發(fā)射和接收線框的間距宜根據(jù)試驗(yàn)選定。 2 線框布置和漏電檢查應(yīng)按 和下列要求： 1) 裝置測(cè)量中心在 測(cè)點(diǎn)處的位置誤差不大于接收線框邊長(zhǎng)的 10% 。線框角點(diǎn)的點(diǎn)位與設(shè)計(jì)線框角點(diǎn)的點(diǎn)位誤差宜小于 5%。 2) 應(yīng)避開(kāi)鐵路、金屬管線、輸變電線或裝置。 3) 敷設(shè)線框時(shí)，剩余的導(dǎo) 線不宜過(guò)長(zhǎng)，宜呈“ S”型鋪于地面上，或遠(yuǎn)離觀測(cè) 區(qū)。 4) 每公里供電線的電阻應(yīng)小于 6 Ω， 導(dǎo)線應(yīng)質(zhì)軟、耐磨、絕緣電阻應(yīng)大于 2 MΩ。 3 觀測(cè)、 重復(fù)觀測(cè)和檢查觀測(cè)應(yīng)按 中 6 和下列 要求 ： 1) 應(yīng)通過(guò)現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)確定時(shí)間窗口的范圍并采用多測(cè)道進(jìn)行觀測(cè)。 2) 最后位于 噪聲電平以下的道數(shù)不少于 3道。否則，應(yīng)查明原因，并采用增加疊加次數(shù)等 方法重復(fù)觀測(cè)。當(dāng)出現(xiàn)瞬間干擾時(shí)可暫停觀測(cè)， 待干擾消失后 再測(cè)。 3) 當(dāng)一個(gè)點(diǎn)出現(xiàn)重復(fù)觀測(cè)誤差較大時(shí)，應(yīng)查明原因，必要時(shí)，可移動(dòng)點(diǎn)位避開(kāi)干擾源重測(cè)，并記錄。 4) 在異常附近應(yīng)加密測(cè)點(diǎn)。若曲線衰變慢時(shí)，應(yīng)擴(kuò)大時(shí)間范圍 重復(fù)觀測(cè)。 5) 每個(gè)測(cè)點(diǎn)觀測(cè)完畢后，應(yīng)對(duì)數(shù)據(jù)和曲線進(jìn)行檢查，合格后方可搬站。 4 資料檢查 和評(píng)價(jià)應(yīng)符合下列要求： 1) 單個(gè)測(cè)點(diǎn)的觀測(cè)、重復(fù)觀測(cè)或檢查觀測(cè)曲線的形態(tài)和幅值應(yīng) 一 致，且各觀測(cè)道的總均方相對(duì)誤差 M 應(yīng)不超過(guò) 10%。 2) 一條測(cè)線或測(cè)網(wǎng)檢查的總均方相對(duì)誤差 M 應(yīng) 不超過(guò) 15%。 電測(cè)深數(shù)據(jù)處理、資料解釋和圖件應(yīng)符合下列 要求： 1 電測(cè)深資料應(yīng)進(jìn)行定性和定量解釋。 DL/T — 13 2 定性解釋?xiě)?yīng)包括確定電性層數(shù)量和各電性層電阻率相對(duì)關(guān)系、確定異常大致平面位置和性質(zhì)等，并 符合下列要求： 1) 應(yīng) 分析確定各電測(cè)深曲線的曲線類(lèi)型，根據(jù)曲線類(lèi)型確定地電斷面的層數(shù)和電性結(jié)構(gòu) 。 2) 應(yīng)分析對(duì)比一條或多條剖面上電測(cè)深曲線類(lèi)型的變化與地層結(jié)構(gòu)、電性參數(shù)變化、地形變化的關(guān)系 。 3) 應(yīng)根據(jù)視電阻率斷面中異常幅值、形態(tài)和分布情況確定異常的性質(zhì)、位置；宜分析相鄰剖面上異常的相關(guān)性 。 4) 采用雙向三極測(cè)深時(shí)，根據(jù)各個(gè)極距的視電阻率曲線的交叉情況、異常幅值和范圍確定異常性質(zhì)、規(guī)模和產(chǎn)狀。 3 定量解釋宜在定性解釋的基礎(chǔ)上進(jìn)行，計(jì)算各電性層厚度，確定異常體位置、規(guī)模、埋深和產(chǎn)狀等。 4 定量分層解釋可選用計(jì)算機(jī) 模擬 正反演法、量板法或特征點(diǎn)法。 5 定量解釋?xiě)?yīng)具備下列要求： 1) 曲線完整、電性標(biāo)志層在足夠的電極距上有反映。 2) 電測(cè)深曲線電性分層明顯、類(lèi)型確定。 3) 電測(cè)深曲線經(jīng)消差、圓滑，曲線畸變部位校正后，不能 影響 解釋精度。 4) 已獲得所需分層的 各層電阻率參數(shù)。 5) 電性層和地層基本對(duì)應(yīng) 。 6 應(yīng)根據(jù)計(jì)算和測(cè)量視電阻率斷面或雙向三極測(cè)深電阻率剖面曲線的異常規(guī)模、深度、軸線斜角、平面位置對(duì)異常進(jìn)行定量解釋 。 7 宜采用地形校正的方法校正因地形起伏而造成的對(duì)視電阻率的影響。 8 圖件宜包括 ：視電阻率斷面 圖或平面圖、 物探成果地質(zhì)解釋剖面或平面圖 (包括地層分層、風(fēng)化分帶、目的體分布、基巖頂板等高線等圖 )。 電剖面法數(shù)據(jù)處理、資料解釋和圖件應(yīng)符合下列要求： 1 電剖面法應(yīng)以定性解釋為主，當(dāng)被探測(cè)目的體形態(tài)簡(jiǎn)單時(shí)，可進(jìn)行定量解釋。 2 可分析異常曲線的幅值、規(guī)模、形態(tài)特點(diǎn)，對(duì)異常進(jìn)行定性解釋。當(dāng)異常單一時(shí)，分析確定異常曲線類(lèi)型，進(jìn)行 定量解釋。應(yīng)對(duì)相鄰剖面上的異常進(jìn)行對(duì)比分析。 3 宜采用地形校正的方法校正因地形起伏產(chǎn)生的虛假異常。 4 圖件包括： 視電阻率 剖面或 平面圖、物探成果地質(zhì)解釋剖面 或平面圖等。 高密度電法數(shù)據(jù)處理、資料解釋和圖件應(yīng)符合下列要求： 1 應(yīng)繪制整條測(cè)線高密度電法的視電阻率斷面，也可經(jīng)處理和反演后生成相應(yīng)斷面的電阻率圖像。 2 解釋可依據(jù)視電阻率斷面或電阻率圖像，也可抽取少量幾組符合電測(cè)深條件的數(shù)據(jù)進(jìn)行分層反演。 3 視電阻率斷面或電阻率圖像解釋可采用以下方法： 1) 根據(jù)視電阻率斷面或圖像中異常的分布、 規(guī)模等情況進(jìn)行解釋。 2) 同一剖面多種裝置的視電阻率斷面或圖像對(duì)比解釋。 3) 視電阻率斷面或圖像與已知地質(zhì)剖面、鉆孔等進(jìn)行對(duì)比解釋。 4 圖件包括： 視電阻率斷面或電阻率圖像、物探成果地質(zhì)解釋剖面或平面圖。 自然電場(chǎng)法數(shù)據(jù)處理、資料解釋和圖件應(yīng)符合下列要求： 1 一個(gè)測(cè)區(qū)的所有測(cè)量電位應(yīng)換算到同一個(gè)總基點(diǎn)上，所有測(cè)量電位或梯度應(yīng)進(jìn)行極差校正。 2 可根據(jù)地質(zhì)、環(huán)境條件分段確定背景值，剔除干擾異常。 3 相鄰三個(gè)或三個(gè)以上測(cè)點(diǎn) (含加密測(cè)點(diǎn) )的數(shù)據(jù)與背景值之差 超過(guò)測(cè)量平均絕對(duì)誤差的 3 倍，可確定為異常。 4 應(yīng)根據(jù)剖面或平面自然電位或梯度曲線上異常的分布、幅值等特點(diǎn)確定異常體的規(guī)模、埋深。 5 可利用環(huán)形等位圖推測(cè)地 下水流向。 6 圖件包括：自然電位或梯度的剖面曲線圖、平面分布圖，自然電位或梯度的物探成果地質(zhì)解釋剖面或平面圖。 充電法數(shù)據(jù)處理、資料解釋和圖件應(yīng)符合下列要求： 1 測(cè)地下水流速流向應(yīng)通過(guò)繪制各個(gè)時(shí)刻的充電等電位線分布圖進(jìn)行計(jì)算解釋 。 2 低阻目的體探測(cè)宜繪制充電電位或電位梯度的曲線剖面圖、平面分布圖，充電電位或電位梯度的剖面或平面物探成果地質(zhì)解釋圖，解釋?xiě)?yīng)符合下列要求： 1) 按 的要求劃分 正常場(chǎng)與異常場(chǎng)，分析電位或梯度曲線的異常幅DL/T — 14 值、范圍、形態(tài)等特征，圈定導(dǎo)電異常體規(guī)模 、埋深。 2) 應(yīng)考慮表層不均勻、地形、巖層產(chǎn)狀、地表水徑流、覆蓋層厚度變化對(duì)異常造成的影響。 3) 可用電位剖面曲線的極大值或梯度剖面曲線的零值定平面點(diǎn)位。 激發(fā)極化法數(shù)據(jù)處理、資料解釋和圖件應(yīng)符合下列要求： 1 激發(fā)極化法的解釋推斷應(yīng) 綜合分析電阻率和多個(gè)激電參數(shù) 。 2 背景值 、 異常值的劃分和確定應(yīng)按 中 2 和 3 的要求， 宜以已知地下水位以上或干孔旁測(cè)得的 ρs、 ηs、 Js、 Ds、 。 3 應(yīng)結(jié)合已有水文地質(zhì)資料，分析激電異常的幅值、范圍和形態(tài)等曲線特征與已知地 下水的關(guān)系，做出對(duì)未知地段的極化 體或 地下富水情況、埋藏深度、規(guī)模等的推斷解釋。 4 圖件包括 ： ρs、 ηs、 Js、 Ds、 剖面圖、平面圖，相關(guān)的物探成果地質(zhì)解釋圖，測(cè)深曲線類(lèi)型圖 。 可控源音頻大地電磁測(cè)深數(shù)據(jù)處理、資料解釋和圖件應(yīng)符合下列要求： 1 數(shù)據(jù)平滑插值和校正處理要求： 1) 不宜對(duì)數(shù)據(jù)做自動(dòng)平滑，不隨意刪除頻點(diǎn)，應(yīng)檢查畸變點(diǎn)，可視畸變幅度和在曲線上的位置選擇剔除、校正、平滑插值等處理方法。 2) 可 根據(jù)已知地質(zhì)資料和原始斷面等值線圖及地形起伏情況，確定是否進(jìn)行靜態(tài)校正，選擇 靜態(tài)校正的方法、校正范圍和參數(shù)。 3) 應(yīng)通過(guò) 反演計(jì)算，得出電阻率斷面圖。 2 定性和定量解釋要求： 1) 定性解釋可根據(jù)測(cè)深曲線類(lèi)型、二維反演電阻率斷面上異常電阻率數(shù)值分布情況判斷和確定地電模型、異常性質(zhì)和分布情況。 2) 四分量測(cè)量應(yīng)對(duì)比同一剖面上多個(gè)分量的測(cè)深曲線類(lèi)型和二維反演電阻率斷面的異常情況。 3) 可將反演的二維 電阻率斷面或典型 測(cè)深曲線 與鉆孔揭示地層和目的體進(jìn)行對(duì)比，建立地電模型對(duì)應(yīng)關(guān)系。 4) 定量解釋?xiě)?yīng) 采用二維解釋?zhuān)惓Ｉ疃纫送ㄟ^(guò)已知鉆孔的目的層深度進(jìn)行校正。 3 圖件包括： 電阻率斷 面圖、物探成果地質(zhì)解釋圖。 瞬變電磁法數(shù)據(jù)處理、資料解釋和圖件應(yīng)符合下列要求： 1 可對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波 處理。 2 應(yīng)通過(guò)處理軟件計(jì)算和繪制 視電阻率斷面圖，也可繪制視縱向電導(dǎo)斷面圖作為補(bǔ)充解釋資料。 3 解釋?xiě)?yīng)根據(jù)瞬變電磁的響應(yīng)時(shí)間特征和測(cè)深曲線類(lèi)型特征確定地電模型、劃分異常。 4 可通過(guò) 鉆孔建立一個(gè)測(cè)區(qū)的視電阻率剖面的異常性質(zhì)、深度、范圍的對(duì)應(yīng)關(guān)系，據(jù)此對(duì)該測(cè)區(qū)其它剖面進(jìn)行解釋。 5 應(yīng)繪制相應(yīng)的物探 成果地質(zhì)解釋圖 。 探地雷達(dá)法 探地雷達(dá)法可選擇剖面法、寬角法、 環(huán)形法、透射法、單孔法、多剖面法等。 應(yīng)用條件應(yīng)符合下列要求： 1 探測(cè)目的體與周邊介質(zhì)的介電常數(shù)存在明顯差異，且電性相對(duì)穩(wěn)定 。 2 探測(cè)目的體埋藏不宜過(guò)深，并與埋深相比應(yīng)具有一定規(guī)模。探測(cè)目的體垂直方向上的厚度應(yīng)大于探測(cè)時(shí)所用電磁波在周邊介質(zhì)中有效波長(zhǎng)的 1/4，水平方向上的長(zhǎng)度應(yīng)大于所用電磁波在周邊介質(zhì)中的第一菲涅爾帶直徑的1/4；區(qū)分兩個(gè)水平相鄰的探測(cè)目的體，其探測(cè)目的體間的最小水平距離應(yīng)大于第一菲涅爾帶直徑。 3 與所選用的天線尺寸和形狀相比，測(cè)線經(jīng)過(guò)的 表面應(yīng)相對(duì)平緩，無(wú)障礙，易于天線移動(dòng)。 4 不宜探測(cè)極高電導(dǎo)屏蔽層（粘土、腐植土、密集鋼筋網(wǎng)等）下的目的體或目的層。 5 測(cè)區(qū)內(nèi)不應(yīng)有大范圍的金屬構(gòu)件或無(wú)線電射頻源等較強(qiáng)的電磁干擾。 6 單孔或孔間探測(cè)時(shí)，鉆孔應(yīng)無(wú)金屬套管。 7 跨孔 (洞 )探測(cè)時(shí)，目的體應(yīng)位于兩孔 (洞 )間，兩孔 (洞 )宜共面，間距不應(yīng)大于雷達(dá)信號(hào)的有效穿透距離。 儀器 和 設(shè)備應(yīng)符合下列要求： 1 信號(hào)增益控制具有指數(shù)增益功能 。 DL/T — 15 2 模數(shù)轉(zhuǎn)換大于 16 bit。 3 具有 8 次以上信號(hào)疊加功能。 4 連續(xù)測(cè)量時(shí) ， 掃描速 率大于 128 次 /s。 工作開(kāi)始前宜進(jìn)行天線型號(hào)選擇、測(cè)量方式選擇、儀器參數(shù)選擇等試驗(yàn)工作。 測(cè)點(diǎn)和觀測(cè)方式應(yīng)符合下列要求： 1 點(diǎn)測(cè)時(shí)，點(diǎn)距不應(yīng)大于尼奎斯特采樣間隔，宜為 m～ m。同一異常的反映不宜少于 3 個(gè)連續(xù)測(cè)點(diǎn)。 2 連測(cè)時(shí)，應(yīng)先進(jìn)行點(diǎn)測(cè)與連測(cè)對(duì)比試驗(yàn)，選定連測(cè)效果與點(diǎn)測(cè)效果相近的天線移動(dòng)速率為連測(cè)工作天線移動(dòng)速率。 3 采用分體天線進(jìn)行點(diǎn)測(cè)時(shí)，應(yīng)通過(guò)調(diào)整天線距離使來(lái)自反射體的反射信號(hào)最強(qiáng)；可選取 2 倍臨界角為接收天線與發(fā)射天線相對(duì)探測(cè)對(duì)象的張角，也可選取 探測(cè)對(duì)象最大深度的 1/5 作為天線間距。 4 使用整體偶極天線時(shí)，天線的取向宜使電場(chǎng)的極化方向與探測(cè)對(duì)象的長(zhǎng)軸或走向平行。當(dāng)探測(cè)對(duì)象的長(zhǎng)軸方向不明時(shí)，宜使用兩組正交方向的天線分別進(jìn)行測(cè)量 。 儀器參數(shù)設(shè)置應(yīng)符合下列要求： 1 雷達(dá)主機(jī)天線工作頻率的選取應(yīng)根據(jù)探測(cè)目的、探測(cè)對(duì)象埋深、分辨率、介質(zhì)特性以及天線尺寸是否符合場(chǎng)地需要等因素綜合考慮。 2 記錄時(shí)窗應(yīng)根據(jù)最大探測(cè)深度與上覆地層的電磁波平均速度按 ()式計(jì)算。 3 儀器的信號(hào)增益應(yīng)保持信號(hào)幅值不超出信號(hào)監(jiān)視窗口的 3/4，天線靜止時(shí)信號(hào)穩(wěn)定。 4 宜選擇所用天線的中心頻率的 6 倍～ 10 倍作為采樣率。 天線選擇應(yīng)符合下列要求： 1 地質(zhì)探測(cè)的天線頻率宜選擇 8MHz～ 300 MHz。 2 進(jìn)行洞室襯砌質(zhì)量檢測(cè)時(shí)，宜選擇 400 MHz～ 900 MHz 的天線。 3 檢測(cè)混凝土內(nèi)配筋時(shí)，宜選用 900 MHz～ 1500 MHz 的天線。 4 進(jìn)行井中探測(cè)時(shí)，應(yīng)根據(jù)任務(wù)要求選用自發(fā)自收的單孔天線或一發(fā)一收的跨孔天線，天線頻率應(yīng)根據(jù)探測(cè)范圍、探測(cè)精度要求選用。 5 采用移動(dòng)較快的車(chē)載測(cè)量方式，宜選用空氣耦合天線。 方法 選擇應(yīng)符合下列要求： 1 一般的地質(zhì)探測(cè)和施工檢測(cè)可采用連續(xù)剖面法。當(dāng)測(cè)線經(jīng)過(guò)的表面凸凹不平、天線不便 勻速 移動(dòng)或信號(hào)較弱時(shí)，應(yīng)采用點(diǎn)測(cè)剖面法。 2 寬角法可用于測(cè)量介質(zhì)的電磁波傳播速度。 3 環(huán)形法和點(diǎn)測(cè)剖面法可用于隧洞掌子面及基樁底部等窄小工作面的探測(cè)。 4 單孔雷達(dá)可探測(cè)鉆孔附近的目的體，也可采用孔內(nèi)與地表透射方式確定鉆孔附近淺埋藏的目的體位置。 5 跨孔 (洞 )雷達(dá)適用于較精確地探測(cè)兩孔 (洞 )間的目的體。 6 多天線法適用于道路、隧洞襯砌質(zhì)量檢查。