02全套六西格瑪培訓(xùn)資料-測(cè)量1gbm-03基礎(chǔ)統(tǒng)計(jì)-資料下載頁(yè)
2025-02-22 13:20本頁(yè)面
【正文】 = 1 P( X = 0 ) P( X = 1 ) = 1 ? ? ? ? = 1 = 10 0 10 1 例題 3 二項(xiàng)分布是現(xiàn)場(chǎng)的不良品 DATA時(shí) 多使用吧 ! 計(jì)數(shù)型概率分布 Proprietary to Samsung Electronics Company Measure基礎(chǔ)統(tǒng)計(jì) 38 Rev. ? P( X ? 2 ) = 1 P( X ? 1 ) 選擇累積概率 輸入施行次數(shù) 輸入欲求概率的值 輸入原有的概率 Calc Probability Distribution Binomial Distribution Step 1 ? Minitab 實(shí)習(xí) 計(jì)數(shù)型概率分布 Proprietary to Samsung Electronics Company Measure基礎(chǔ)統(tǒng)計(jì) 39 Rev. 關(guān)于 P( X ? 1 的 概率 因此， 知道 P( X ? 2 ) = 1 P( X ? 1 ) = 1 = Session 結(jié)果確認(rèn) Step 2 計(jì)數(shù)型概率分布 Proprietary to Samsung Electronics Company Measure基礎(chǔ)統(tǒng)計(jì) 40 Rev. ? 泊松分布 (Poisson Distribution) 適用于按時(shí)間或空間發(fā)生頻率低的稀奇事件的每單位發(fā)生數(shù)等適用的分布。 例 ) 機(jī)器一天的故障次數(shù)，每單位時(shí)間打來(lái)的電話次數(shù)，制品的每單位面積 缺點(diǎn)數(shù)，交叉路上一天發(fā)生的交通事故數(shù)，大量生產(chǎn)制品的不良數(shù)。 一般 在 n大， p小時(shí)適用 0 1 0 5 10 15 20 缺點(diǎn)數(shù) ?? dpu= dpu= dpu= dpu= dpu= 例 ) 顯示隨每單位缺點(diǎn)數(shù) (dpu)值的概率值的圖表。 計(jì)數(shù)型概率分布 Proprietary to Samsung Electronics Company Measure基礎(chǔ)統(tǒng)計(jì) 41 Rev. ,...2,1,0,! )()()( ???? ? xx mexXPxf xm? 概率質(zhì)量函數(shù) 平均發(fā)生次數(shù) : m ? 平均和分散 平均 : E(X) = m(=dpu) , 分散 : V(X) = m(=dpu) 在半導(dǎo)體工程生產(chǎn)的 wafer每單位面積平均缺點(diǎn)數(shù)是每 。 在這工程中生產(chǎn) 10cm2的 wafer 時(shí)， wafer 有兩個(gè)缺點(diǎn)數(shù)的概率是 ? 計(jì)算 ) 10cm2 wafer平均缺點(diǎn)數(shù) : wafer有兩個(gè)缺點(diǎn)數(shù)的概率 因此，能知道概率是 . 例題 4 ? ? !24)2(2 ?????Xp 4 ??m計(jì)數(shù)型概率分布 Proprietary to Samsung Electronics Company Measure基礎(chǔ)統(tǒng)計(jì) 42 Rev. Calc Probability Distribution Poisson Distribution Step 1 選擇出現(xiàn) 缺點(diǎn)的概率 輸入平均缺點(diǎn)數(shù) 輸入欲求概率的值 Session 結(jié)果確認(rèn) Step 2 ? Minitab 實(shí)習(xí) 計(jì)數(shù)型概率分布 Proprietary to Samsung Electronics Company Measure基礎(chǔ)統(tǒng)計(jì) 43 Rev. 概率分布的種類(lèi)及活用 概率分布 計(jì) 量 型 計(jì) 數(shù) 型 正態(tài)分布 t 分布 Chi— Square 檢定 F 分布 泊松分布 二項(xiàng)分布 ? 對(duì)母平均 /母比率的推定與檢定 知道母分散時(shí) 不知道母分散，但標(biāo)本的數(shù)大時(shí) ? 對(duì)母平均的推定與檢定 不知道母分散時(shí) 知道母分散，但標(biāo)本的數(shù)小時(shí) ? 對(duì)母分散的推定與檢定 ? 根據(jù)分割表的獨(dú)立性檢定 ? 對(duì)兩個(gè)母分散差的推定與檢定 ? 分散分析中與要因相關(guān)的留意性檢定 ? 對(duì)母比率的推定與檢定 例 ) 不良率 ? 對(duì)單位時(shí)間或單位面積別發(fā)生事件概率的推定與檢定 例 ) 每單位缺點(diǎn)數(shù) 活用 Proprietary to Samsung Electronics Company Measure基礎(chǔ)統(tǒng)計(jì) 44 Rev. 練習(xí)問(wèn)題 1. 預(yù)示各位的作業(yè)現(xiàn)場(chǎng)或生活周邊可以得到的 DATA， 2. 分類(lèi)它們的類(lèi)型。 2. 某工程的不良率是 5%，從這工程中生產(chǎn)的制品中取 大小 15的樣品時(shí)，求不良品包含 3個(gè)以下的概率。 ( 使用 Minitab ) 3. 信用卡公司的請(qǐng)求書(shū)作成部門(mén)要管理請(qǐng)求書(shū)中出現(xiàn)的失誤。一個(gè) 請(qǐng)求書(shū)發(fā)生的失誤隨 ，任意選擇的請(qǐng)求書(shū)中失誤為 3個(gè)以下的概率是多少 ? (使用 Minitab ) Proprietary to Samsung Electronics Company Measure基礎(chǔ)統(tǒng)計(jì) 45 Rev. 4. 在充電工程中生產(chǎn)的制品重量是平均 5 kg，標(biāo)準(zhǔn)偏差 . 求在其中抽出一個(gè)制品時(shí)，重量在 5 kg以上 kg以下的概率。 5. 進(jìn)口檢查中被檢查的部品中不合格部品的比率是 10%。 調(diào)查 100個(gè)部品時(shí)， (a) 不合格制品數(shù)為 15個(gè)以下的概率 ? (b) 不合格制品數(shù)為 25個(gè)以上的概率 ? 練習(xí)問(wèn)題 Proprietary to Samsung Electronics Company Measure基礎(chǔ)統(tǒng)計(jì) 46 Rev. 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAIT
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