【正文】 ???????npppLCLnpppUCLpCLp 101 SPC及品質工具方法培訓 智聯(lián)培訓 不合格品率控制圖（ p圖）的步驟（續(xù)） 計算控制限 計算過程平均不合格品率 計算控制限 在控制圖上控制限 p? ?? ? npppLCLnpppUC LpCLppp???????1313102 SPC及品質工具方法培訓 智聯(lián)培訓 不合格品率控制圖（ p圖）的步驟（續(xù)） 在控制圖上畫出控制限 確定可能超過其平均值177。 25%的樣本容量范圍，找出樣本容量超出該范圍有所有子組，重新計算其控制限（ n為特殊子組的樣本量，點與點之間只有 n的變化）： 在控制圖上描繪受影響的子組新的上、下控制限，作為識為特殊原因的依據。 ? ? npppLCLUC L pp ??? 13,103 SPC及品質工具方法培訓 智聯(lián)培訓 樣本量（ n） 不合格品數(shù)（ np） 不合格品率（ p） 日期 968 1216 804 1401 1376 995 1202 1028 1184 542 1325 1066 1721 1305 1190 2306 1365 973 1058 1244 392 1433 1225 1352 8 13 13 16 14 15 13 10 24 18 16 17 19 9 14 9 13 5 15 19 10 17 13 15 Jan 20 21 22 25 26 27 28 29 Feb 1 2 3 4 5 8 9 10 11 12 15 16 17 18 19 22 1187 21 23 應記錄人員 、 材料 、 設備 、 方法 、 環(huán)境或測量系統(tǒng)中的任何變化 ， 這些記錄將在控制圖上出現(xiàn)信號進而幫助你采取糾正或改進過程的措施 。 日期 時間 備 注 Feb 01 7:30 AM 新的檢驗員值班 Feb 15 7:30 AM 原檢驗員值班 ? ? , ????????? npppLCLUC L1194?n 這些控制限適用于樣本容量為 1194 177。 25%=895~1493。 Jan 22, n=804, Feb 2, n=542, Feb 5, n=1721, Feb 10, n=2306, Feb 17, n=392, , ?LCLL ?? , LCLUC , ?LCLL ?? , LCLUC L 0041.,0199. 點超出控制限 p 104 SPC及品質工具方法培訓 智聯(lián)培訓 樣本量（ n） 不合格品數(shù)（ np） 不合格品率（ p） 日期 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 12 15 19 13 9 26 18 14 17 18 16 24 11 31 16 10 16 17 20 15 8 13 12 17 May 6 7 8 11 12 13 14 15 18 19 20 21 22 26 27 28 29 Jun 1 2 3 4 5 8 9 500 18 10 UCL= CL= LCL= 點超出控制限 p 105 SPC及品質工具方法培訓 智聯(lián)培訓 不合格品率控制圖（ p圖）的步驟（續(xù)） 過程控制用控制圖解釋 目的：找出過程失控的證據，并采取相應的措施。 分析數(shù)據，找出不穩(wěn)定的證據 a. 超出控制限的點： 超出上控制限的點（不合格率特別高）通常表明存在以下的一個或多個情況： ●控制限或描點錯誤 ●過程性能惡化（在當時那點或作為趨勢的一部分） ●評價系統(tǒng)發(fā)生變化 低于下控制限的點通常表明存在下列一個或多個情況： ●控制限或描點錯誤 ●過程性能已改進（應研究這種情況，納入操作規(guī)范，長期保持下去） ●測量系統(tǒng)已改變 在控制限之內出現(xiàn)異常的圖形或趨勢（如存在高于均值 /低于均值的長鏈、存在連續(xù)上升 /連續(xù)下降的長鏈），會給出有關狀態(tài)的警告，要進行糾正。 106 SPC及品質工具方法培訓 智聯(lián)培訓 不合格品率控制圖（ p圖）的步驟（續(xù)） C 過程控制用控制圖解釋 分析數(shù)據，找出不穩(wěn)定的證據 a. 超出控制限的點 b. 鏈：在一個受控過程中， 較大（不小于 9）時，落在均值兩側的點的數(shù)量幾乎相等。 下列任一情況都表明過程變化或開始有變化的趨勢： ●連續(xù) 7點位于均值的一側 ●連續(xù) 7點上升或下降 出現(xiàn)高于均值的長鏈或連續(xù)上升的點，通常表明存在下列情況： ●過程性能已惡化，而且可能還在惡化； ●評價系統(tǒng)發(fā)生變化 出現(xiàn)低于均值的長鏈或下降的點，通常表明存在下列情況： ●過程性能已必變（應分析原因，納入操作規(guī)范）； ●評價系統(tǒng)發(fā)生變化 當 很?。ㄐ∮?5）時，出現(xiàn)低于均值的鏈的可能性增加，因此，以鏈長為 8點或更多的點來作為不合格品率降低的標志。 pnpn107 SPC及品質工具方法培訓 智聯(lián)培訓 不合格品率控制圖（ p圖）的步驟（續(xù)） 過程控制用控制圖解釋 分析數(shù)據，找出不穩(wěn)定的證據 a. 超出控制限的點鏈 c. 明顯的非隨機圖形 點到過程均值的距離：僅存在普通原因的變差， 較大時，大約有 2/3的點在 C區(qū)，有 1/3的點在 B區(qū)，有 1/20的點在 A區(qū)。 pnA B B A C C UCL CL LCL 108 SPC及品質工具方法培訓 智聯(lián)培訓 不合格品率控制圖（ p圖）的步驟（續(xù)） 過程控制用控制圖解釋 分析數(shù)據，找出不穩(wěn)定的證據 c. 明顯的非隨機圖形 點到過程均值的距離：僅存在普通原因的變差， 較大時，大約有 2/3的點在 C區(qū)，有 1/3的點在 B區(qū)，有 1/20的點在 A區(qū)。 如果 C區(qū)的點明顯多于 2/3（對個子組，如果有 90%的點位于 C區(qū)），則意味著： ●控制限計算錯誤或描點錯誤 ●過程或取樣方法存在問題（每個子組的數(shù)據來自兩個或兩個以上的總體）； ●數(shù)據被編輯過（明顯偏離均值的數(shù)據被剔除） 如果 C區(qū)的點大大少于 2/3（對個子組， C區(qū)的點少于 40%），則意味著： ●控制限計算錯誤或描點錯誤 ●過程或取樣方法存在問題（每個子組的數(shù)據來自兩個或兩個以上的總體）； 如果數(shù)據來自不同的總體（存在幾個過程流，應對其分別識別、跟蹤） pn109 SPC及品質工具方法培訓 智聯(lián)培訓 不合格品率控制圖（ p圖）的步驟（續(xù)） 過程控制用控制圖解釋 分析數(shù)據，找出不穩(wěn)定的證據 尋找并糾正特殊原因 重新計算控制限 樣本量（ n） 不合格品數(shù)（ np） 不合格品率（ p） 日期 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 12 15 19 13 9 26 18 14 17 18 16 24 11 31 16 10 16 17 20 15 8 13 12 17 May 6 7 8 11 12 13 14 15 18 19 20 21 22 26 27 28 29 Jun 1 2 3 4 5 8 9 500 18 10 UCLnew= CLnew= LCLnew= p 110 SPC及品質工具方法培訓 智聯(lián)培訓 不合格品率控制圖（ p圖）的步驟（續(xù)完） 過程能力解釋對計數(shù)型控制圖，過程能力是過程無特殊原因（即過程處于統(tǒng)計控制狀態(tài)）時的平均不合格品率。（計量型控制圖的過程能力是穩(wěn)定過程的固有變差） 計算過程能力 ● 當所有點都受控后，過程能力是平均不合格品率。 ●過程能力的初步估計值，應使用歷史數(shù)據，但應剔除存在特殊原因的數(shù)據。 ● 正式研究過程能力時應使用新的數(shù)據，最好是 25個子組或更多子組，且所有的點都受控。 評價過程能 提高過程能力，降低平均不合格品率 集中解決影響不合格品率的普通原因，通常要求采取管理措施。 繪制并分析修改后的過程控制圖 ● 當對過程采取了系統(tǒng)措施以后，其效果在控制圖上能反映出來。 ● 對過程進行改變時，應小心地監(jiān)視控制圖。 ● 在過程改變期間出現(xiàn)特殊原因變差被識別并糾正后，過程將按新的過程均值處于統(tǒng)計控制狀態(tài)。過程處于統(tǒng)計穩(wěn)定狀態(tài)，還應對系統(tǒng)進行調查和改進。 111 SPC及品質工具方法培訓 智聯(lián)培訓 不合格品率控制圖（ p圖）的步驟（續(xù)） C 過程控制用控制圖解釋 分析數(shù)據，找出不穩(wěn)定的證據 a. 超出控制限的點 b. 鏈：在一個受控過程中， 較大（不小于 9）時，落在均值兩側的點的數(shù)量幾乎相等。 下列任一情況都表明過程變化或開始有變化的趨勢： ●連續(xù) 7點位于均值的一側 ●連續(xù) 7點上升或下降 出現(xiàn)高于均值的長鏈或連續(xù)上升的點，通常表明存在下列情況： ●過程性能已惡化，而且可能還在惡化； ●評價系統(tǒng)發(fā)生變化 出現(xiàn)低于均值的長鏈或下降的點，通常表明存在下列情況： ●過程性能已必變（應分析原因，納入操作規(guī)范）； ●評價系統(tǒng)發(fā)生變化 當 很小（小于 5）時，出現(xiàn)低于均值的鏈的可能性增加，因此，以鏈長為 8點或更多的點來作為不合格品率降低的標志。 pnpn112 SPC及品質工具方法培訓 智聯(lián)培訓 不合格品率控制圖（ p圖）的步驟（續(xù)） 過程控制用控制圖解釋 分析數(shù)據，找出不穩(wěn)定的證據 c. 明顯的非隨機圖形 pChart Test 點到過程均值的距離：僅存在普通原因的變差， 較大時，大約有 2/3的點在 C區(qū)，有 1/3的點在 B區(qū)，有 1/20的點在 A區(qū)。 如果 C區(qū)的點明顯多于 2/3（對個子組，如果有 90%的點位于 C區(qū)），則意味著： ●控制限計算錯誤或描點錯誤 ●過程或取樣方法存在問題（每個子組的數(shù)據來自兩個或兩個以上的總體）； ●數(shù)據被編輯過（明顯偏離均值的數(shù)據被剔除） 如果 C區(qū)的點大大少于 2/3（對個子組， C區(qū)的點少于 40%），則意味著： ●控制限