spc統(tǒng)計(jì)技術(shù)的應(yīng)用-資料下載頁
2025-07-13 20:49本頁面
【正文】 不良率ppm177。kσCp不良率ppm標(biāo)準(zhǔn)差σ與ppm制品質(zhì)水準(zhǔn)對(duì)照表（規(guī)格中心往左、）標(biāo)準(zhǔn)差Ppm標(biāo)準(zhǔn)差ppm標(biāo)準(zhǔn)差Ppm標(biāo)準(zhǔn)差ppm697,7006,2001,866484655,4006,0361,807467617,9005,8681,750450579,3005,7031,695434539,8005,5431,641419500,0005,3861,589404460,2005,2341,538390420,7005,0851,489376382,1004,9401,441363344,6004,7991,395350308,7334,6611,350337274,3004,5271,306325242,0004,3961,264313211,9004,2691,223302184,1004,1451,183291158,7004,0241,144280135,7003,9071,107270115,1003,7921,07026096,8003,6811,03525180,7603,5721,00124266,8033,46796823354,8003,36493522444,5703,26490421635,9303,16787420828,7203,07284820022,7502,98081619317,8602,89078918613,9002,80376217910,7202,7187361729,3872,6357111668,1982,5556871597,9762,4776641087,7602,401641727,5492,327619487,3442,2565987,1432,1865776,9472,1185576,7562,0525386,5691,9885196,3871,927501測(cè)驗(yàn)1.請(qǐng)說明SPC導(dǎo)入流程？（20分） 測(cè)驗(yàn)2.請(qǐng)說明正常點(diǎn)子的控制圖是如何？（30分）1.2.3.4. 測(cè)驗(yàn)3.177。，經(jīng)收集一周的數(shù)據(jù)為177。3σ=177。，則Ca，Cp，Cpk為多少？（30分）指數(shù)數(shù)值處置建議CaCpCpk測(cè)驗(yàn)4.過程控制的主要因素可從4M著手，請(qǐng)問是那4個(gè)Ｍ？（用中文素示即可）（20分） 測(cè)驗(yàn)題，P控制圖被引用于降低不良率，控制界限及依據(jù)歷史數(shù)據(jù)，并用下列公式177。3其中，為過去不良率（歷史數(shù)據(jù)），N是每周檢驗(yàn)個(gè)數(shù)。經(jīng)六周后，得下面累計(jì)記錄。不良率％部門Ｐ’第一周第二周第三周第四周第五周第六周101121111141510121021720172121201310322182627172019104981161312101051613192012151710615181916111316各部門每周檢查600個(gè)樣品，何部門于控制期間顯示出一或多點(diǎn)超出控制界限。(30分) ，177。，經(jīng)收集25組數(shù)據(jù)（每組5個(gè)），做過程能力評(píng)估，得＝1255，＝，求C a，Cp及Cpk各為多？并估計(jì)超出規(guī)格之不良率為多少？(40分) ，每次取樣4個(gè)，其。規(guī)格上下限分別為Su=60，SL=0，試問現(xiàn)有過程能否符合規(guī)格要求？(30分) 測(cè)驗(yàn)題答 案，P控制圖被引用于降低不良率，控制界限及依據(jù)歷史數(shù)據(jù)，并用下列公式177。3其中，為過去不良率（歷史數(shù)據(jù)），N是每周檢驗(yàn)個(gè)數(shù)。經(jīng)六周后，得下面累計(jì)記錄。不良率％部門Ｐ’第一周第二周第三周第四周第五周第六周101121111141510121021720172121201310322182627172019104981161312101051613192012151710615181916111316各部門每周檢查600個(gè)樣品，何部門于控制期間顯示出一或多點(diǎn)超出控制界限。(30分)(104部門) ，177。，經(jīng)收集25組數(shù)據(jù)（每組5個(gè)），做過程能力評(píng)估，得＝1255，＝，求C a，Cp及Cpk各為多？并估計(jì)超出規(guī)格之不良率為多少？(40分)答 案Ans：==，R＝=n=5 ∴＝＝＝Ca===Cp＝==Cpk=Cp（1－│Ca│）=（1－）＝Zu=== 查表得Pu=%ZL=== 查表得PL=0∴不良率P = Pu+PL=% ，每次取樣4個(gè)，其。規(guī)格上下限分別為Su=60，SL=0，試問現(xiàn)有過程能否符合規(guī)格要求？(30分)答 案首先計(jì)算其標(biāo)準(zhǔn)差，查表n=4，d2=。∴σ=因此，過程變差能力在177。3σ之內(nèi)，亦即：＋3σ＝＋3=－3σ＝－3=則其相互關(guān)系為：規(guī)格范圍制程變異600現(xiàn)有過程符合規(guī)格要求。
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