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2025-02-18 14:37本頁(yè)面
【正文】 偏移情況下的過(guò)程能力指數(shù)， CpK越大，則二者偏離越小，也即過(guò)程分布中心對(duì)規(guī)范中心越“瞄準(zhǔn)”，是“過(guò)程能力”與“管理能力”二者共同作用的結(jié)果。 Lσ水平的不合格品率 K 不合格品率 P 說(shuō)明 Cp值 1 = 102 合格品率為 68 102 2 = 102 合格品率為 102 3 = 103 合格品率為 102 4 合格品率為 102 5 合格品率為 102 6 2ppm 合格品率為 100% 2 聯(lián)合應(yīng)用 Cp與 Cpk所代表的合格品率 Cp CPK % % % % % % % % % % % % % % % % % % % % % Pp與 PPK 有人將其譯為“性能指數(shù)”，實(shí)績(jī)是不恰當(dāng)?shù)模瑧?yīng)譯為“實(shí)績(jī)指數(shù)”或“長(zhǎng)期過(guò)程能力指數(shù)”。 Cp:無(wú)偏移短期過(guò)程能力指數(shù)。 CPU:無(wú)偏移上側(cè)短期過(guò)程能力指數(shù)。 CPL:無(wú)偏移下側(cè)短期過(guò)程能力指數(shù)。 CPK:有偏移短期過(guò)程能力指數(shù)。 PP:無(wú)偏移實(shí)績(jī)（長(zhǎng)期）過(guò)程能力指數(shù)。 PPU:無(wú)偏移上側(cè)實(shí)績(jī)（長(zhǎng)期）過(guò)程能力指數(shù)。 PPL:無(wú)偏移下側(cè)實(shí)績(jī)（長(zhǎng)期）過(guò)程能力指數(shù)。 PPK:有偏移長(zhǎng)期實(shí)績(jī)（長(zhǎng)期）能力指數(shù)。 Cp圖解 Cpk圖解，這下看明白了吧 ? Lσ控制方式的 PPM與均值偏移 σ情形的 PPM Lσ控制方式 均值無(wú)偏移情形的不合格率 均值偏移 σ情形的 ppm 1σ控制方式 102 697670 2σ控制方式 102 308770 3σ控制方式 103 66870 4σ控制方式 106= 6210 5σ控制方式 106= 233 6σ控制方式 2 109=2ppb 7σ控制方式 109= 6σ 與 3σ的比較 無(wú)偏移條件下， 6σ 比3σ小 135萬(wàn)倍 偏移 σ條件下， 6σ 比 3σ小 2萬(wàn)倍 十一 、 P控制圖 P—Chart用于控制產(chǎn)品不良率 、 人員缺勤率等方面 （ 1） 控制界限的計(jì)算： P=Pn/n=不合格品個(gè)數(shù) /總檢查數(shù) P=ΣPn/Σn=總不合格品數(shù) /總檢查數(shù) CL= P UCL=P+3 P（ 1P） /n LCL=P3 P（ 1P） /n （ 2） 作圖步驟 同 X—R圖 注： P—Chart的過(guò)程能力是用平均不合格率 P來(lái)表示的 。 ? P—Chart數(shù)據(jù)收集與 X—R圖有一定的區(qū)別。 P—Chart一般要求子組容量在 50到 200或是更多， 以便使每一個(gè)組內(nèi)可以包括幾個(gè)不合格品，但是要 注意每個(gè)子組代表很長(zhǎng)的時(shí)間段，大的子組容量又 會(huì)帶來(lái)不利之處。 注：以上介紹，（控制界限的計(jì)算公式）只適用于 子組容量相同的情況下。 歡迎垂詢 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH
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