【導(dǎo)讀】本文從內(nèi)容上主要分為六個(gè)章節(jié),第一章DC-DC芯片。簡介,概況性的介紹DC-DC芯片,增強(qiáng)對于全文的初步認(rèn)識(shí)。試機(jī)測試DC-DC芯片的方法,給全文的主要觀點(diǎn)做出支持。第五章芯片LM2576測試案例,用一個(gè)DC-DC芯片測試的例子。簡化來加強(qiáng)學(xué)習(xí)和理解。第6章總結(jié),概要了論文。源芯片有更加深刻的理解,同時(shí)對于以后的應(yīng)用有莫大的幫助。認(rèn)識(shí),對于測試流程有了更準(zhǔn)確的認(rèn)知。雖然沒有實(shí)踐的效果,但是。電源芯片應(yīng)用廣泛,芯片性能的穩(wěn)定性提出了相當(dāng)高的要。求,而對于芯片測試就是一個(gè)關(guān)鍵的因素。測試的現(xiàn)狀和發(fā)展做出了概述。然后來描述芯片測試的整個(gè)流程方。法,通過對于測試過程的熟悉,對于測試作出分析。參數(shù)的必要性的了解,也使用了開爾文測試的方法。異常分析的意見。在完成論文期間,首先查閱了大量的資料關(guān)于DC-DC芯片測試,先先是熟悉ASL1000測試手冊,了解到該測試機(jī)的特點(diǎn)和使用方法。法,包括理論和實(shí)際操作。在計(jì)劃中尋找到優(yōu)秀的資料是一。同時(shí)由于該項(xiàng)目對。間等諸多方面的要求。