數控機床的位置檢測裝置培訓課件-資料下載頁
2024-12-31 16:27本頁面
【正文】 不同可分為 透射光柵 和 反射光柵 。透射光柵是在透明的玻璃表面刻上間隔相等的不透明的線紋制成的，線紋密度可達到每毫米 1000條以上；反射光柵一般是在金屬的反光平面上刻上平行、等距的密集刻線，利用反射光進行測量，其刻線密度一般為每毫米 300～ 1﹐ 500線，最常用的是 600線 /mm。 第三章 數控機床的位置檢測裝置 光柵 光柵的組成結構和檢測原理 直線透射光柵尺的結構如下圖所示，由光源、長光柵 (標尺光柵 )、短光柵 (指示光柵 )、光電元件等組成，一般移動的光柵為短光柵，長光柵裝在機床的固定部件上。短光柵隨工作臺一起移動，長光柵的有效長度即為測量范圍。兩塊光柵的刻線密度 (即柵距 )相等，其相互平行并保持一定的間隙(～ mm)，并且使兩塊光柵的刻線相互傾斜一個微小的角度 θ。 第三章 數控機床的位置檢測裝置 光柵 光柵的組成結構和檢測原理 當光線平行照射光柵時，由于光的透射及衍射效應，在與線紋垂直的方向上，準確地說， 在與兩光柵線紋夾角 θ的平分線相垂直的方向上 ，會出現明暗交替、間隔相等的粗條紋，這就是“ 莫爾干涉條紋 ”，簡稱莫爾條紋。下圖是莫爾條紋形成的原理圖。 在光源的照射下，交叉點近旁的小區(qū)域內由于黑色線紋重疊，因而遮光面積最小，擋光效應最弱，光的累積作用使得這個區(qū)域出現亮帶。相反，距交叉點較遠的區(qū)域，因兩光柵尺不透明的黑色線紋的重疊部分變得越來越少，不透明區(qū)域面積逐漸變大，即遮光面積逐漸變大，使得擋光效應變強，只有較少的光線能通過這個區(qū)域透過光柵，使這個區(qū)域出現暗帶，從而便形成了我們所見到的莫爾條紋。 第三章 數控機床的位置檢測裝置 光柵 光柵的組成結構和檢測原理 莫爾條紋形成的原理 當光柵移動一個 柵距形 時，莫爾條紋也相應移動一 莫爾條紋的間距 B，即光柵某一固定點的光強按明一暗一明規(guī)律交替變化一次。因此， 光電元件只要讀出移動的莫爾條紋數目，就知道光柵移動了多少柵距，從而也就知道了運動部件的準確位移量。 第三章 數控機床的位置檢測裝置 光柵 光柵的組成結構和檢測原理 為了對莫爾條紋的移動計數，并 判別工作臺移動的方向 ，在光柵尺的一側安裝上光源，另一側安裝上 4個光敏元件，每個光敏元件相距為四分之一光柵刻線間距 ( ω／ 4) 。當標尺光柵隨機床運動部件移動時 1）照射到光敏元件上的光線也隨著莫爾條紋移動而產生明暗相間的變化，經過光敏元件的“光一電”變換，得到與刻線移動相對應的正弦波信號，經過放大、整形等處理后，變成測量脈沖輸出，波形如下圖所示。脈沖數等于移動過的刻線數，將該脈沖信號送到計數器中計數，則計數值就反映了光柵尺移動的距離。 2）每個光敏元件相距為四分之一光柵刻線間距 (ω ／ 4)，使輸出信號的相位差為 90176。，通過過鑒相電路可判別其運動方向。 第三章 數控機床的位置檢測裝置 光柵 光柵的組成結構和檢測原理 第三章 數控機床的位置檢測裝置 光柵 圓光柵 第三章 數控機床的位置檢測裝置 磁尺 磁尺又稱為磁柵，是一種計算磁波數目的位置檢測元件?？捎糜谥本€和轉角的測量，其優(yōu)點是精度高、復制簡單及安裝方便等，且具有較好的穩(wěn)定性，常用在油污、粉塵較多的場合。因此，在數控機床、精密機床和各種測量機上得到了廣泛使用。 第三章 數控機床的位置檢測裝置 磁尺的組成及結構 磁尺由磁性標尺，磁頭和檢測電路組成，磁頭是進行磁 — 電轉換的器件，它把反映位置的磁信號檢測出來，并轉換成電信號輸送給檢測電路。 磁尺是利用錄磁原理工作的。是在非導磁材料的基體上，采用涂敷，化學沉積或電鍍上一層很薄的磁性材料，先用錄磁磁頭將按一定周期變化的方波、正弦波或電脈沖信號錄制在磁性標尺上，作為測量基準。檢測時，用拾磁磁頭將磁性標尺上的磁信號轉化成電信號，再送到檢測電路中去，把磁頭相對于磁性標尺的位移量用數字顯示出來，并傳輸給數控系統(tǒng)。 磁化信號可以是脈沖，也可以為正弦波或飽和磁波。磁化信號的節(jié)距（或周期）一般有 ㎜， ， ㎜， 1㎜等幾種。 第三章 數控機床的位置檢測裝置 磁尺 磁頭 磁頭是進行磁 — 電轉換的器件，它把反映位置的磁信號檢測出來，并轉換成電信號輸送給檢測電路。 第三章 數控機床的位置檢測裝置 磁尺 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH
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