【正文】 110177。21)變化率：是指老化后測量值的中間值與老化前測量值的中間值之差與老化前測量值的中間值之比的百分率。表7 電纜絕緣混合料的特殊性能試驗(yàn)要求0123456混合料代號(見4．2)單 位PEHDPEXLPEEPR耐臭氧試驗(yàn)(IEG6081121中第8章)臭氧濃度(體積百分率)不發(fā)生開裂的試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間%h 24熱延伸試驗(yàn)(IEC6081121中第9章)處理：空氣溫度偏差負(fù)載時(shí)間機(jī)械應(yīng)力負(fù)載下最大伸長率冷卻后最大永久伸長率℃℃hN/cm2%%200177。3152017515250177。3152017515 收縮試驗(yàn)(IEC6081113中第10章) 標(biāo)志間距離L 溫度 偏差 持續(xù)時(shí)間 最大允許收縮mm℃℃h%200100177。264200115177。264200130177。364－－－－ 密度(1EC6081113中第8章) 最小密度g/cm3表8 電纜熱塑性聚乙烯護(hù)套混合料的特殊性能試驗(yàn)要求01234混合料代號(見4．3)單 位ST3ST71碳黑含量(僅對黑色外護(hù)套) (1EC6081141中第11章)標(biāo)稱值偏差%%2．5177。177。表9 電纜聚氯乙烯護(hù)套混合料的特殊性能試驗(yàn)要求0234混合料代號(見4．3)單 位STlST2空氣箱內(nèi)熱失重 (IEC6081132中8．2)處理：溫度 　 偏差 持續(xù)時(shí)間最大允許失重℃℃dmg/cm2－－－－100177。27 低溫性能1) (IE06081114中第8章)試驗(yàn)前不需老化處理啞鈴片的低溫拉伸試驗(yàn)試驗(yàn)溫度偏差低溫沖擊試驗(yàn)試驗(yàn)溫度偏差℃℃℃℃15177。215177。215177。215177。2 熱沖擊試驗(yàn) (IEC6081131中9．2)試驗(yàn)溫度偏差試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間℃℃h150177。31150177。31 1)根據(jù)氣候條件，各國家標(biāo)準(zhǔn)可以要求采用更低的試驗(yàn)溫度。 附錄A（規(guī)范性附錄）數(shù)值修約規(guī)則當(dāng)要將數(shù)值修約到規(guī)定位數(shù)的小數(shù)時(shí)，例如由幾個測量值計(jì)算出的平均值或由一個給定的標(biāo)稱值的百分率偏差算出一個最小值時(shí)，應(yīng)按下述步驟進(jìn)行。如修約前要保留的末位數(shù)字后為0、3和4時(shí)，則要保留的末位數(shù)保持不變(舍棄)。如修約前要保留的末位數(shù)字后為6和5時(shí)，則要保留的末位數(shù)字應(yīng)加一(進(jìn)位)。例如： ≈ 　 修約到兩位小數(shù)： ≈ 　 修約到一位小數(shù)； ≈ 修約到兩位小數(shù)： ≈ 修約到一位小數(shù)： ≈ 修約到三位小數(shù)： ≈ 修約到兩位小數(shù)： ≈ 修約到一位小數(shù)。附錄B（規(guī)范性附錄）半導(dǎo)電屏蔽電阻率測量方法每個試件應(yīng)從一段150mm長的成品電纜試樣上取下制備。將纜芯試樣沿縱向切成兩半，除去導(dǎo)體如有隔離層也一起除去即制成導(dǎo)體屏蔽的試件（見圖B．1a）。將纜芯外部所有包覆層除去即制成絕緣屏蔽試件(見圖B．1b)。測定這兩種屏蔽層的的體積電阻率的步驟如下：將四只涂銀電極A、B、C和D(見圖B．1a和B．1b)裝在半導(dǎo)電層的表面。兩個電位電極B和C之間的距離應(yīng)為50mm，兩個電流電極A和D應(yīng)分別放在每個電位電極外側(cè)至少25mm處。應(yīng)采用合適的夾子將連接線接至各個電極。把連接線接在導(dǎo)體屏蔽上的電極時(shí)，應(yīng)確保夾子與試件外表面的絕緣屏蔽層相互絕緣。把組裝好的試件放人已經(jīng)預(yù)熱至規(guī)定溫度的烘箱中，至少放置30min后，用功率不大于100mW的測量電路測量兩個電位電極間的電阻。在測量電阻后，應(yīng)在環(huán)境溫度下在如圖B．1b所示試樣上測量導(dǎo)體屏蔽和絕緣屏蔽的外徑以及導(dǎo)體屏蔽和絕緣屏蔽的厚度，每項(xiàng)測量六個數(shù)據(jù)后取其平均值。以歐米表示的體積電阻率應(yīng)按下式計(jì)算：導(dǎo)體屏蔽式中： Pc體積電阻率，歐姆*m； 　 Rc測量電阻，歐姆； Lc電位電極間距離，m； Dc導(dǎo)體屏蔽外徑，m； Tc導(dǎo)體屏蔽平均厚度，m。絕緣屏蔽式中： Pi——體積電阻率， 歐姆*m： Ri——測量電阻，歐姆 Li——電位電極間距離，m； Di——絕緣屏蔽外徑，m： Ti——絕緣屏蔽平均厚度，m。 導(dǎo)體屏蔽體積電阻率測量 絕緣屏蔽體積電阻率測量 導(dǎo)體及絕緣屏蔽電阻率測量用試件的制備附錄C（規(guī)范性附錄）滲水試驗(yàn)　試件對一段至少6m長的未經(jīng)11．3中任何試驗(yàn)的成品電纜試樣，應(yīng)按11．3．4規(guī)定進(jìn)行彎曲試驗(yàn)。應(yīng)在經(jīng)過彎曲試驗(yàn)后的電纜上切取一段3m長的電纜并水平放置。在其中部開一個寬約50mm的圓環(huán)。剝除圓環(huán)內(nèi)絕緣屏蔽》，、部所有各層材料。如果聲明導(dǎo)體有阻水屏障，則應(yīng)剝除圓環(huán)內(nèi)導(dǎo)體外部的所有各層材料。如電纜含有不連續(xù)的縱向阻水屏障，則試件應(yīng)包含至少兩個這樣的屏障，圓環(huán)則開在兩個屏障之間，在此情況下，應(yīng)知道這種電纜的阻水屏障之間的平均距離并據(jù)此確定試件的長度。圓環(huán)的切割面應(yīng)能使相關(guān)的間隙容易暴露在水中。如果電纜設(shè)計(jì)只有導(dǎo)體阻水屏障，則可用合適的材料將圓環(huán)中的相關(guān)切割面加以密封或者將導(dǎo)體外部的所有包復(fù)層全部剝除。裝配一個合適的裝置(見圖C．1)，把一根直徑至少10mm的管子垂直地在切開的圓環(huán)上并與電纜外護(hù)套表面相密封。在電纜穿出此裝置處的密封不應(yīng)在電纜上產(chǎn)生機(jī)械應(yīng)力。注：某些阻水屏障對縱向滲水的響應(yīng)與水的成分(例如pH值，離子濃度)有關(guān)。除非另有規(guī)定，一般宜采用普通自來水作試驗(yàn)。　試驗(yàn)在5min內(nèi)，用溫度為(20177。10)℃的水注入管內(nèi)，使管內(nèi)的水位高于電纜中心1m(見圖）。試件應(yīng)保持此狀態(tài)24h。然后試樣應(yīng)經(jīng)受10次加熱循環(huán)。應(yīng)采用合適的方法把導(dǎo)體加熱到正常運(yùn)行時(shí)的導(dǎo)體最高溫度以上5～100c之間的一個穩(wěn)定溫度，但不應(yīng)達(dá)到100~C。加熱至少8h，在每一加熱期內(nèi)導(dǎo)體溫度應(yīng)保持在規(guī)定溫度范圍內(nèi)至少2h。接著應(yīng)自然冷卻至少16h。水頭應(yīng)保持為1m。注：在整個試驗(yàn)中不施加電壓，因此可以與被試電纜串接一段結(jié)構(gòu)與其相同的電纜，溫度可在這段電纜的導(dǎo)體上直接予以測量?！∫笤谠囼?yàn)期間，試樣兩端不應(yīng)有水分滲出。 附錄D(規(guī)范性附錄)直埋接頭外保護(hù)層的試驗(yàn)　范圍本附錄規(guī)定了所有型式直埋接頭外保護(hù)套或在具有絕緣型外護(hù)套的電纜線路上采用的金屬套斷口以及有時(shí)要采用的與此有關(guān)的有屏蔽斷口的金屬套分段隔離絕緣的型式批準(zhǔn)試驗(yàn)采用的程序?！⌒褪脚鷾?zhǔn)的范圍要求對具有如互聯(lián)引線接人端的接頭外保護(hù)套進(jìn)行型式批準(zhǔn)時(shí)，被試外保護(hù)套應(yīng)包含這些結(jié)構(gòu)特點(diǎn)。在考慮型式批準(zhǔn)范圍時(shí)，最小和最大直徑的成品電纜所用的一種絕緣接頭外保護(hù)套通過型式試驗(yàn)后，則類似的非絕緣接頭的外保護(hù)套也可獲得型式批準(zhǔn)，但反之則不然。當(dāng)一種接頭外保護(hù)套得到型式批準(zhǔn)后，那么由同一制造廠提供的采用的基本設(shè)計(jì)原理相同，采用相同材料并且在已試驗(yàn)過的直徑范圍之內(nèi)的具有相同或較低試驗(yàn)電壓的所有接頭外保護(hù)套應(yīng)被認(rèn)為獲得型式批準(zhǔn)。(見12．5)?！〗蜔嵫h(huán)試樣組合件應(yīng)浸在水中，外保護(hù)套最高點(diǎn)的浸入深度不小于1m。如需要時(shí)，可采用一個水頭箱連接至裝入試樣組合件的密封容器的方法而達(dá)到此要求。采用將水溫升高到低于正常運(yùn)行時(shí)導(dǎo)體最高溫度15℃一20℃的方法進(jìn)行總數(shù)為20次的加熱冷卻循環(huán)。在每次循環(huán)中，水溫應(yīng)升高至規(guī)定溫度并保持至少5h，然后冷卻至環(huán)境溫度以上10℃之內(nèi)。可以在水中摻人高溫或低溫水使之達(dá)到試驗(yàn)溫度?！‰妷涸囼?yàn)熱循環(huán)試驗(yàn)完成后，在試樣組合件仍浸在水中的情況下，立即進(jìn)行下述電壓試驗(yàn)?！∑胀ń宇^組合件在電力電纜金屬屏蔽／金屬套和接頭外保護(hù)套的接地外表面之間應(yīng)施加直流試驗(yàn)電壓20kV，時(shí)間1min。　絕緣接頭組合件　直流電壓試驗(yàn)在附件兩端的電力電纜金屬屏蔽儉屬套之間以及在每一端電力電纜金屬屏蔽儉屬套和接頭外保護(hù)套的接地外表面之間應(yīng)施加直流試驗(yàn)電壓20kV，時(shí)間1min?！_擊電壓試驗(yàn)在附件兩端的電力電纜金屬屏蔽儉屬套之間以及在附件每一端的電力電纜金屬屏蔽/金屬套和接頭外保護(hù)套的接地外表面之間施加試驗(yàn)電壓。在環(huán)境溫度下，按IEC60230規(guī)定的程序?qū)宇^進(jìn)行試驗(yàn)。主絕緣的額定沖擊試驗(yàn)電壓值1)kV沖擊試驗(yàn)電壓值各部件之間各部件與地之間互聯(lián)引線≤3mkV互聯(lián)引線3m和≤10m2)kV互聯(lián)引線≤3mkV互聯(lián)引線3m和≤10m2)kV250—325550—750606060753030301）見表2第8欄。2）如金屬套電壓限制器位于接頭附近，則采用互聯(lián)引線≤3m時(shí)的試驗(yàn)電壓。在上述任何一項(xiàng)試驗(yàn)中不應(yīng)發(fā)生擊穿。如對浸在水中試樣組合件不能進(jìn)行沖擊電壓試驗(yàn)時(shí)，可以將試樣組合件從水中取出后立即進(jìn)行沖擊電壓試驗(yàn)。為此目的，應(yīng)事先在試樣組合件的整個外表面上涂一層導(dǎo)電層?！≡嚇咏M合件的檢驗(yàn)。對填充可更換的絕緣劑的接頭外保護(hù)套，如沒有可見的內(nèi)部氣隙和由于水分侵入而產(chǎn)生的絕緣劑的內(nèi)部位移或者絕緣劑經(jīng)過各密封處或盒壁流失的跡象，則可認(rèn)為檢查滿意。對于采用其他結(jié)構(gòu)和材料的接頭外保護(hù)套，則應(yīng)無水分侵人或內(nèi)部腐蝕的跡象