【正文】 tion（樣品登記）”窗口。②在“Sample Registration（樣品登記）”窗口點擊【Analysis Group…】顯示“Select Analysis Group（選擇分析組）”窗口。③點擊“Quant.（定量）”按紐，顯示出組名稱列表。④選擇列表中新建組。⑤把“Purpose of Measurement（測量目的）”設(shè)置為“Unknown（未知）”。⑥點擊【OK】按紐，“Select Analysis Group（選擇分析組）”窗口消失，選擇的分析組名稱顯示在【Analysis Group…】按鈕的下面。2） 輸入樣品名稱　　在“Sample Registration（樣品登記）”窗口輸入要分析的樣品的“Sample Name（樣品名稱）”，“Position（位置）”，和“Comment（備注）”。備注：樣品名稱可以用包括以下字符的20個字節(jié)組成：　　　　　V:,。*?◇“ˋˊ　　　　在樣品登記窗口中，在位置一欄中顯示的是初始值，數(shù)值是連續(xù)的。用戶可以改變它。分析的順序按登記的順序進(jìn)行，但并不是樣品轉(zhuǎn)臺的順序。　　輸入未知樣品輸入要分析的樣品后，點擊窗口中的【OK】按紐，登記內(nèi)容就顯示在“Analyssis（分析窗口）”中的“Sc….分析進(jìn)程）”中.。3） 開始分析把標(biāo)準(zhǔn)樣品放置在樣品旋轉(zhuǎn)臺上，按“Analysis（分析）”窗口的【Start】按鈕開始分析。4） 查看結(jié)果測量完成后，在“Result Display（結(jié)果顯示）”窗口會顯示出定量分析結(jié)果。備注：如果監(jiān)視畫面沒有自動顯示出來，可以選擇“View（查看）”菜單中的“Result Display（結(jié)果顯示）”。如果在分析組條件中的“Oneline Output（在線輸出）”中選擇了“Print（打?。?，分析結(jié)果就會自動的打印出來。如果要對該樣品的分析結(jié)果進(jìn)行再處理，點擊【Process Data（數(shù)據(jù)處理）】按鈕，“Data Processing（數(shù)據(jù)處理）”窗口就會脫機(jī)顯示出來，就可以的對數(shù)據(jù)進(jìn)行再處理?！　∥粗獦悠贩治鼋Y(jié)果本章以不銹鋼為例描述基體元素校正方法。當(dāng)樣品中主要組成包含多種元素的時候，內(nèi)部產(chǎn)生的Ｘ?zé)晒馐芷渌兀ɑw元素）的影響，因此當(dāng)射線到達(dá)樣品表面的時候，強(qiáng)度受影響改變了。此外，每個元素的結(jié)構(gòu)不同，影響也是不同的，這就意味著即使樣品的組成元素相同，但Ｘ射線強(qiáng)度也可能不同，這樣標(biāo)準(zhǔn)曲線上的點就是分散的。這就叫作基體效應(yīng)或基體元素效應(yīng)。若基體元素和分析元素的X射線波長相距很近的話，它們會強(qiáng)烈重疊，結(jié)果是被分析元素的強(qiáng)度產(chǎn)生改變，為消除基體元素的影響，可以用基體元素校正公式對標(biāo)準(zhǔn)曲線進(jìn)行校正。本程序中有以下幾個基體元素校正公式。A）dj方法（JIS方法）Wi=(aI2+bI+c)(1+∑djWj)－∑LjWj j≠i　　基體含量范圍小的時候有效（不超過10％）B)LachanceTrail方法Wi=(bI+c)(1+∑αjWj)－∑LjWj j≠I含量范圍大的時候有效（超過10％）C）RassberyHeinrich方法Wi=(bI+c)(1+∑αjWj+(∑βkWk)247。(1+Wi))－∑LjWj j≠I比B)更精確的方法關(guān)于ｉ，當(dāng)影響為吸收時選擇ｊ，當(dāng)影響為增強(qiáng)時選擇K。D)dejongh方法Wi=(bI+c)(1+∑αjWj)－∑LjWj j≠i含量范圍大的時候有效（超過10％每個符號的意思如下：Wj:基體元素定量結(jié)果。dj,α,β,k:吸收影響系數(shù)。Lj:重疊影響系數(shù)Wi:被校正元素的定量結(jié)果。I:被校正元素的Ｘ射線強(qiáng)度。a,b,c標(biāo)準(zhǔn)曲線常數(shù)。備注：這里，在公式中ｄｊ和αｊ作為“ｄ1ｊ”和＂ｄ２ｋ＂顯示的。作為校正系數(shù)計算，提供兩種可選擇的方法，回歸計算方法是依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)樣品的分析結(jié)果計算的；SFP法是依據(jù)理論系數(shù)計算的。本節(jié)中，以回歸計算為例，下一節(jié)以ＳＦＰ及計算為例。把計算不銹鋼中Ni和Mo對Cr的影響系數(shù)作為例子介紹操作方法。1） 顯示標(biāo)準(zhǔn)曲線窗口⑴點擊“Main Manu(主菜單)”中的”Condition(條件)”按鈕。⑵選擇利用標(biāo)準(zhǔn)曲線法建立的分析組，點擊【Open…】按鈕顯示出“Group Condition（組條件）”窗口。⑶點擊“Quantitative Information（定量資料）”按鈕顯示出元素列表。⑷從列表中選擇目標(biāo)元素Ｃｒ，點擊“Calibration curve（標(biāo)準(zhǔn)曲線）”按鈕顯示出Ｃｒ的“Calibration curve（標(biāo)準(zhǔn)曲線）”窗口　?。茫虻臉?biāo)準(zhǔn)曲線2） 設(shè)置基體元素校正方法及曲線次數(shù)⑴選擇＂ｄｊ＂作為“基體校正”的方式，選擇“1”為其曲線的“乘方數(shù)”。⑵點擊【Matrix Correction…(基體校正)】按鈕，顯示出“Matrix Correction…（基體校正）“窗口　　基體校正窗口3） 選擇計算方法在“Matrix Correction…（基體校正）“窗口的”Type of Calculation（計算類型）“一欄中。利用多重回歸法計算得到校正系數(shù)選擇”Regression（回歸）“，利用“SFP”時候選擇“SFP”。4） 設(shè)置校正元素設(shè)置校正元素的名稱，類型，顯示在吸收、增強(qiáng)校正的下面。⑴選擇“Type（類型）“為“ｄ1ｊ＂。⑵選擇“Coeff.（系數(shù)）”為“To Calculation（計算）”。⑶在“Correction　Element（校正元素）”一欄中選擇“Nｉ”并按Add(添加)“按紐，Nｉ就作為ｄ1ｊ條目的一項被設(shè)置在列表內(nèi)。⑷同樣方法，設(shè)置Mｏ備注：在RassberyHeinrich方法中提供三種可以選擇的方式：ｄ1ｊ（吸收方式），ｄ2ｋ（增強(qiáng)方式），ｌｊ（重疊方式）。而在其他校正方法中只提供兩種方式：ｄ1ｊ（吸收方式），ｌｊ（重疊方式）。如果有不同校正類型的校正元素，應(yīng)該首先改變“Type（類型）”的設(shè)置，然后選擇元素。設(shè)置完校正元素，點擊【OK】按鈕，“Matrix Correction…（基體校正）“窗口關(guān)閉，“Calibeation curve（標(biāo)準(zhǔn)曲線）”顯示出。5） 計算點擊“Calibeation curve（標(biāo)準(zhǔn)曲線）”窗口中的【Calculation（計算）】按鈕，計算出基準(zhǔn)曲線系數(shù)并顯示出曲線圖。點擊“Matrix Correction…（基體校正）”窗口中的【Matrix Correction…(基體校正)】按鈕，元素校正系數(shù)同時計算出?！　⌒Ｕ蟮挠嬎闱€6） 在校正系數(shù)欄內(nèi)輸入固定值你可以手動輸入一個固定的值，如由其它儀器獲得的校正系數(shù)，他人提供的JIS方法系數(shù)，依靠SPF方法計算的系數(shù)（在下一節(jié)中描述）。⑴在“Coeff.（系數(shù)）”欄內(nèi)選擇“Fix”，在“Matrix Correction…（基體校正）”窗口中選擇登記一個校正元素。⑵然后在“Cofficient（系數(shù)）”右邊的數(shù)據(jù)欄內(nèi)填入一個固定值。⑶點擊“Add（添加）”按紐，在校正元素表中顯示出元素名，校正類型以及輸入的固定值。7） 刪除一個校正元素⑴在“Matrix Correction…（基體校正）”窗口的校正元素列表中選擇你想要刪除的校正元素。⑵然后選擇“Delete”按紐，刪除所選的元素?！FP法基體元素校正本節(jié)介紹SFP法的應(yīng)用，用ＳＦＰ法計算基體元素校正系數(shù)。和回歸法一樣把不銹鋼中Cｒ作為例子。1） 顯示SFP計算窗口⑴在“Matrix Correction…（基體校正）”窗口中選擇”Type of Calculation（計算類型）為“SFP”。⑵點擊“SFP Calculation（SFP計算）”按鈕顯示出“SFP Calculation（SFP計算）”窗口?！　FP計算2）設(shè)置樣品的組成形式在ＳＦＰ計算模式下，計算條件只設(shè)定一個標(biāo)樣。作為樣品的組成形式，是否和最新的組成一樣都是可以接受的。然而，含量總和要求100％（本軟件中要求標(biāo)準(zhǔn)值總和100％177。2％）。首先顯示出“Analysis Information（分析資料）”中設(shè)定的元素。用以下方法設(shè)置樣品的組成?！鴱臉?biāo)準(zhǔn)樣品數(shù)據(jù)中拷貝標(biāo)準(zhǔn)值用戶可以把已經(jīng)設(shè)定好的標(biāo)準(zhǔn)樣品數(shù)據(jù)中的標(biāo)準(zhǔn)值拷貝到“SFP Calculation（SFP計算）”窗口中的“（標(biāo)準(zhǔn)值）”欄內(nèi)。 ⑴點擊【Copy Staanded Sample…】按鈕顯示出“點擊Copy Staanded Sample…”窗口。⑵從標(biāo)準(zhǔn)樣品列表中選擇要拷貝標(biāo)準(zhǔn)值的樣品，點擊【OK】按紐，標(biāo)準(zhǔn)值就被拷貝?！　臉?biāo)準(zhǔn)樣品中拷貝標(biāo)準(zhǔn)值　　▲改變元素資料內(nèi)容⑴點擊“SFP Calculation（SFP計算）”窗口中元素列表中的一個元素。⑵點擊【Change…】按紐顯示出“SFP Calculation（SFP計算）”窗口。⑶改變“Compound Name”，“”，和“”。完成后點擊【OK】按紐。 SFP元素資料　　▲添加一個新元素⑴點擊【Aｄｄ】按鈕顯示空白的“SFP Element Information（SFP元素資料）”窗口。⑵輸入“Compound Name”，“”，和“”。⑶完成后點擊【OK】按紐?！　　鴦h除一個元素⑴選擇“SFP Calculation（SFP計算）”窗口中元素列表中要刪除的元素。⑵點擊“Delete(刪除)”按鈕?！w和次基體如果“Base”元素被定量分析，那么校正元素就不得不設(shè)定為“Subbase”。如果“Base”元素是作為“Balance”或者“Fix”的話，就不必要設(shè)置次基體了。在這里，設(shè)置Fｅ作為“Base”，Ｎｉ做為“Subbase”。⑴在“Base”欄內(nèi)選擇“Fｅ”。⑵在“Subbase”內(nèi)選擇“Ｎｉ”。3）執(zhí)行SFP計算設(shè)置完計算條件后點擊【Calculation】。顯示出“（SFP結(jié)果）”窗口，計算所得的校正系數(shù)顯示出來?！　FP計算結(jié)果4） 登記系數(shù)登記SFP法計算的系數(shù)。⑴點擊“SFP Result（SFP結(jié)果）”窗口中的【Register】按紐顯示出“Register To”窗口。⑵選擇元素表中要登記的元素，可以是一個，也可以是多個元素。若選擇后再次點擊就放棄選擇。⑶選擇完成后點擊【OK】按鈕，校正元素和校正系數(shù)就被登記?！∵@里想選擇Cｒ．　　目的文件5）利用SFP系數(shù)進(jìn)行基體元素校正⑴返回到“Matrix Correction（基體校正）”窗口?！　』w元素校正（SFP計算后）⑵在”Type of Calculation（計算類型）畫面中把計算類型改為”Regression（回歸）”。⑶為了防止登記校正元素的“SFP Result（SFP結(jié)果）”窗口中的所有元素的系數(shù)被計算，被登記，刪除掉除Nｉ和Mｏ以外的其它元素。⑷在“Coeff.”選項中選擇“OK”按鈕。⑸如果點擊“Calibeation curve（標(biāo)準(zhǔn)曲線）”窗口中的【Calculation（計算）】按鈕，計算出基準(zhǔn)曲線系數(shù)并顯示出曲線圖。校正系數(shù)用于ＳＦＰ法。4．2定量分析校正方法本節(jié)闡述了各種定量分析的有效校正方法的操作步驟。背景校正、漂移校正、空白校正、內(nèi)標(biāo)校正都是對Ｘ射線強(qiáng)度的校正，控制曲線校正是對工作曲線上的定量值和基體元素的校正。（BG）校正（BG）校正被測的Ｘ射線光譜是由熒光Ｘ射線和散射Ｘ射線（背景）組成的。用于分析的X射線強(qiáng)度是由測到的Ｘ射線減去背景計算得到的，這就是背景校正。在定量分析中，強(qiáng)度校正有兩種方法，“測量條件”窗口的分光計操作設(shè)置為“固定”或“掃描”（在窗口顯示為“分步”或“連續(xù)”），背景校正就是基于這些方法，如果測量設(shè)置為“固定”背景測量點固定在同一個峰值，這些峰值就作為背景強(qiáng)度計算。在掃描方式中，把測得的波形強(qiáng)度作為背景強(qiáng)度計算，本節(jié)描述了如何利用“固定”方式進(jìn)行背景校正，掃描方式的背景校正參閱“”節(jié)?！　”尘靶Ｕ劈c擊“Main Manu(主菜單)”中的“Condition(條件)”按鈕，會顯示出選擇分析組窗口。⑵選擇要設(shè)置背景校正的組，點擊【Open】按鈕。⑶點擊分析資料軟件目錄中的“BG Correct./Intensity Calc（背景校正／強(qiáng)度計算）”項，“BG Correct./Intensity Calc（背景校正／強(qiáng)度計算）”窗口顯示出來.⑷打開“BG Correct.（背景校正）”畫面，設(shè)置“BG Correct.（背景校正）”。⑸在“（背景校正）”面板選擇“Scanner1（掃描器1）”或者“Scanner2（掃描器2）”。⑹在“BG points（背景位置）”的面板中的BG測量列表中設(shè)置背景測量的“Angle（角度）“，”（測量時間）?！埃ㄗ疃?6點）⑺在“（BG Calculation（背景計算）”畫面中選擇“BG Function（背景功能）”?！癈oefficient（系數(shù)）”意味著利用掃描器測得的BG強(qiáng)度系數(shù)是增強(qiáng)的　　備注：不同類型的功能要求的測量點是不同的?！　”尘肮δ茴愋秃鸵蟮臏y量BG功能類型要求BG測量點一點僅僅一點（系統(tǒng)僅用第一角度）一次線2點或者多于2點二次線3點或者更多三次線3點或者更多Lorenz3點或者更多雙曲線3點或者更多Spl