材料現(xiàn)代分析方法-資料下載頁(yè)
2025-08-05 07:49本頁(yè)面
【正文】 83。衍襯成像原理，并說明什么是明場(chǎng)象，暗場(chǎng)象和中心暗場(chǎng)象。答：答：在透射電子顯微鏡下觀察晶體薄膜樣品所獲得的圖像，其襯度特征與該晶體材料同入射電子束交互作用產(chǎn)生的電子衍射現(xiàn)象直接有關(guān)，此種襯度被稱為衍射襯度，簡(jiǎn)稱“衍襯”?利用單一光束的成像方式可以簡(jiǎn)單地通過在物鏡背焦平面上插入一個(gè)孔徑足夠小的光闌（光闌孔半徑小于r）來實(shí)現(xiàn)。 ?明場(chǎng):?光欄孔只讓透射束通過,熒光屏上亮的區(qū)域是透射區(qū)?暗場(chǎng):?光欄孔只讓衍射束通過,熒光屏上亮的區(qū)域是產(chǎn)生衍射的晶體區(qū)？影響晶體消光距離的主要物性參數(shù)和外界條件是什么？答：（1）由于衍射束與透射之間存在強(qiáng)烈的相互作用，晶體內(nèi)透射波與入射波的強(qiáng)度在晶體深度方向上發(fā)生周期性的振蕩，此振蕩的深度周期叫消光距離。（2）影響因素：晶體特征，成像透鏡的參數(shù)。第十三章1. 電子束入射固體樣品表面會(huì)激發(fā)哪些信號(hào)? 它們有哪些特點(diǎn)和用途?答：背散射電子:能量高；來自樣品表面幾百nm深度范圍；、成分分析以及結(jié)構(gòu)分析。二次電子:能量較低；來自表層5－10nm深度范圍；。吸收電子:其襯度恰好和SE或BE信號(hào)調(diào)制圖像襯度相反。，即可用來進(jìn)行定性的微區(qū)成分分析.透射電子：透射電子信號(hào)由微區(qū)的厚度、.特征X射線: 用特征值進(jìn)行成分分析，來自樣品較深的區(qū)域 俄歇電子: 各元素的俄歇電子能量值低；來自樣品表面1－2nm范圍。適合做表面分析.？用不同的信號(hào)成像時(shí)，其分辨率有何不同？所謂掃描電子顯微鏡的分辨率是指用何種信號(hào)成像時(shí)的分辨率？答：在其他條件相同的情況下，電子束的束斑大小、檢測(cè)信號(hào)的類型以及檢測(cè)部位的原子序數(shù)是影響掃描電鏡分辨率的三大因素。不同信號(hào)成像時(shí)，其作用體不同，二次電子分辨率最高，其最用的體積最小。所以掃描電鏡的分辨率用二次電子像分辨率表示。，并舉例說明在分析樣品中元素分布的應(yīng)用。答：二次電子像顯示表面形貌襯度時(shí)：1）凸出的尖棱，小粒子以及比較陡的斜面處SE產(chǎn)額較多，在熒光屏上這部分的亮度較大。2）平面上的SE產(chǎn)額較小，亮度較低。3）在深的凹槽底部盡管能產(chǎn)生較多二次電子，使其不易被控制到，因此相應(yīng)襯度也較暗。背散射電子像顯示表面形貌襯度時(shí)：1）用BE進(jìn)行形貌分析時(shí)，其分辨率遠(yuǎn)比SE像低。2）BE能量高，以直線軌跡逸出樣品表面，對(duì)于背向檢測(cè)器的樣品表面，因檢測(cè)器無(wú)法收集到BE而變成一片陰影，因此，其圖象襯度很強(qiáng)，襯度太大會(huì)失去細(xì)節(jié)的層次，不利于分析。因此，BE形貌分析效果遠(yuǎn)不及SE，故一般不用BE信號(hào)。應(yīng)用：第十五章？電子探針儀如何與掃描電子顯微鏡和投射電子顯微鏡配合進(jìn)行組織結(jié)構(gòu)與微區(qū)化學(xué)成分的同位分析？答：由于樣品中不同位向的晶體的衍射條件不同而造成的襯度差別叫做衍射襯度。質(zhì)厚襯度是由于樣品不同微區(qū)間存在的原子序數(shù)或厚度的差異而形成的
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