實(shí)驗(yàn)三磁化率的測(cè)定-資料下載頁(yè)
2025-07-18 22:08本頁(yè)面
【正文】 質(zhì) ， 計(jì)算分子磁矩 μm 和未成對(duì)電子數(shù) 。 (3) 討論 FeSO47H2O和 K4Fe(CN)63H2O的配鍵類型 。 【 思考題 】 (1) 從理論上講 ， 不同勵(lì)磁電流下測(cè)得的m樣品的摩爾磁化率 XM是否相同 ? (2) 本實(shí)驗(yàn)計(jì)算公式做了哪些近似 ? 【 附錄 】 一：磁天平的使用 (1) 古埃磁天平包括電光天平 、 懸線 、 電磁線 、 勵(lì)磁電源 ， 外接電源為 220伏交流電壓 。 (2) 勵(lì)磁電流的升降應(yīng)平穩(wěn) 、 緩慢 ， 嚴(yán)防突發(fā)性斷電 ，以防止勵(lì)磁線圈產(chǎn)生的反電動(dòng)勢(shì)將晶體管等元件擊穿 。具體操作如下： 加磁場(chǎng) ， 打開電源開關(guān) ， 逐漸調(diào)節(jié)電位器 ， 讓電流逐漸上升至需要電流 。 去磁場(chǎng) ， 逐漸調(diào)節(jié)電位器 ， 使電流逐漸減為零 ， 然后關(guān)閉電源 。 (3)每次稱量后應(yīng)將天平盤托起 。 二：磁天平操作步驟說(shuō)明 ， 調(diào)節(jié)特斯拉計(jì)的調(diào)零電位器 ， 使其輸出顯示為零 。 2. 除下保護(hù)套，把特斯拉計(jì)探頭平面垂直置于磁場(chǎng)兩極中心，打開勵(lì)磁電源的電源開關(guān)，調(diào)節(jié)電流調(diào)節(jié)電位器，使電流增加至特斯拉計(jì)顯示“ ”，調(diào)整探頭上下左右的位置，觀察特斯拉計(jì)數(shù)字顯示值使其輸出最大，此乃探頭最佳位置。用探頭沿此位置的垂直線，測(cè)量離電磁鐵中心多遠(yuǎn)處的磁場(chǎng)強(qiáng)度為零，這也就是樣品管內(nèi)應(yīng)裝樣品的高度。關(guān)閉電源前，應(yīng)調(diào)節(jié)勵(lì)磁電源電流，使輸出電流為零。 。先取一支清潔的干燥的空樣品管懸掛在磁天平的掛鉤上，使樣品管正好與磁磁線中心線平齊，樣品管不可與磁極接觸，并與探頭有合適的距離。準(zhǔn)確稱取空樣品管的質(zhì)量（ H=0時(shí)），得 ml(H0),調(diào)節(jié)電流調(diào)節(jié)電位器，使特斯拉計(jì)顯示“ ”（ H1） ,迅速稱得 ml(H1)。逐漸增大電流，使特斯拉計(jì)數(shù)字顯示“ ”（ H2），又稱得 m1(H2)。將電流略微增大后再降至特斯拉計(jì)顯示“ ”（ H2），又稱得 m2(H2)。將電流降至特斯拉計(jì)顯示“ ”（ H1）時(shí)，稱得 m2(H1)，最后將電流調(diào)節(jié)至特斯拉計(jì)顯示“ ”（ H0）稱得 m2(H0)。這樣調(diào)節(jié)電流由小到大再由大到小的測(cè)定方法是為了抵消實(shí)驗(yàn)是磁場(chǎng)剩磁的影響。 △ m空管 （ H1） =1/2[△ m1(H1)＋ △ m2(H1)] △ m空管 （ H2） =1/2[△ m1(H2)＋ △ m2(H2)] 式中： △ m1(H1)=m1(H1)m1(H0)； △ m1(H2)=m1(H2)m1(H0) △ m2(H1)=m2(H1)m2(H0)； △ m2(H2)=m2(H2)m2(H0) 4． 按步驟 2所述高度 ， 在樣品管內(nèi)裝好樣品并使樣品均勻填實(shí) ， 掛在磁極中間 。 再按步驟 3所述的先后順序由小到大調(diào)節(jié)電流 ， 使特斯拉計(jì)顯示在不同點(diǎn) ， 同時(shí)稱出該點(diǎn)的樣品管和樣品一起的質(zhì)量 。 后按前述的方法由高調(diào)低電流 。 當(dāng)特斯拉計(jì)顯示不同點(diǎn)磁場(chǎng)強(qiáng)度時(shí) ， 同時(shí)稱出該點(diǎn)電流下降時(shí)的樣品管加樣品的質(zhì)量 。 三：注意事項(xiàng) ? ， 應(yīng)以平光的速度緩慢升降 。 ? ， 應(yīng)調(diào)節(jié)勵(lì)磁電源電流 ，使輸出電流為零 。 ? ， 測(cè)量時(shí)嚴(yán)禁用力過(guò)大 、 過(guò)猛及碰跌 。 ? 。 參考文獻(xiàn) ? 物理化學(xué)實(shí)驗(yàn) (第二版 ) 東北師范大學(xué)等校編 北京 : 高等教育出版社 ? 物理化學(xué)實(shí)驗(yàn) (第三版 ) 復(fù)旦大學(xué)等編 北京 :高等教育出版社
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