光學(xué)三維測量技術(shù)綜述-資料下載頁
2025-07-13 21:37本頁面
【正文】 采用逐點處理的，所以任意形狀的條紋圖都可以使用該方法。 (3)由于相移法直接測量變形光柵條紋的相位值，其精度相當(dāng)令人滿意，而且很容易實現(xiàn)自動測量。 但是，相移法也有一些有待于進一步改進的地方： (1)相移法要求所使用投影光柵圖像必須為正弦光柵，然而，在實際中制作正弦光柵比較困難，所以我們往往使用準(zhǔn)正弦光柵。 (2)由于對相移裝置的精度要求非常高，所以要求測量環(huán)境比較穩(wěn)定，特別是在動態(tài)物體的測量中，相移法的表現(xiàn)還不能讓人滿意。 在實際的應(yīng)用過程中，誤差還是不可避免的，如光強的量化誤差、相移誤差，攝像元器件的非線性特性等，這就會造成被測物體的深度信息會發(fā)生一定的偏移。在這些誤差中，移相誤差為主要誤差來源，目前有兩種解決方法： (1)使用一種對非線性誤差以及移相器不太敏感的算法。 (2)校正移相器，從而對其非線性誤差以及標(biāo)定誤差進行有效的抑制，從而提高整個測量系統(tǒng)的測量精度。(DCM)提取相位卷積解調(diào)法(DCM，Demodulation and Convolution Method)是一種使用卷積和解調(diào)來計算光柵相位的數(shù)學(xué)方法。 假設(shè)是偶函數(shù)，用傅里葉級數(shù)展開變形光柵函數(shù)為： 顯然為低頻分量，則對其低通濾波就可得到 同理，式()兩邊同乘即得： 顯然，只有是低頻分量，對它使用低通濾波： 于是有： 由于相位的提取最終要使用反正切來計算，所以求得的相位值總是在之間，而真正的相位即絕對相位就被包裹在其中，相位展開要做的工作就是由包裹相位得到真實的絕對相位，這已經(jīng)超出了本文的研究范圍，在此不再詳述。結(jié)論本文系統(tǒng)地介紹了光學(xué)三維測量技術(shù)。通過分析可以看出,所有方法各有利弊,不存在能夠滿足所有場合的測量技術(shù)。因此,在實際應(yīng)用中,要根據(jù)不同場合選用不同的測量技術(shù)。一些重要參數(shù)如測量精度、測量尺寸、工作效率、適用場合以及系統(tǒng)價位等是需要首先考慮的因素。除上述的信息測量技術(shù)外,信息處理技術(shù)以及與實際應(yīng)用緊密結(jié)合的特征提取技術(shù)也顯得尤為重要。對于信息處理技術(shù),算法的選擇較為關(guān)鍵,處理時間與處理精度是算法的重要評判準(zhǔn)則。對于特征提取技術(shù),不同的應(yīng)用有著不同的要求,如何準(zhǔn)確、自動地進行模型的建立與特征的提取是其關(guān)鍵,也是此種技術(shù)能否廣泛應(yīng)用的基礎(chǔ)。由此可見,物體三維信息的測量技術(shù)是基礎(chǔ),數(shù)據(jù)處理技術(shù)是核心,特征提取技術(shù)是關(guān)鍵。3個部分既相互補充又相互促進,共同決定著物體三維信息測量的應(yīng)用?？梢灶A(yù)見,隨著計算機技術(shù)的發(fā)展以及各種算法的提出與完善,必將帶動光學(xué)三維測量技術(shù)的進一步發(fā)展與廣泛應(yīng)用。 參考文獻[1] 劉航,李淥潔,王英鴻. 淺談光學(xué)三維測量技術(shù)[J]. 科技創(chuàng)新與應(yīng)用,2015,30:46.[2] 宋成業(yè). 基于正弦光柵的結(jié)構(gòu)光測量技術(shù)研究[D].哈爾濱工程大學(xué),2013.[3] 李永懷,馮其波. 光學(xué)三維輪廓測量技術(shù)進展[J]. 激光與紅外,2005,03:143147.[4] 孫宇臣,葛寶臻,張以謨. 物體三維信息測量技術(shù)綜述[J]. 光電子激光,2004,02:248254.[5] 吳艷. 結(jié)構(gòu)光投影三維測量方法的研究[D].西安建筑科技大學(xué),201
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