multisim在電工電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)教學(xué)中的應(yīng)用-資料下載頁
2025-07-13 20:45本頁面
【正文】 ranch作為output variables。設(shè)置完畢，點(diǎn)擊對話框上的Simulate，得到圖8所示晶體管輸出特性曲線。但該曲線與習(xí)慣表示方法不同，縱坐標(biāo)數(shù)據(jù)為負(fù)數(shù)，因此，再利用Multisim的后處理功能（Postprocess），將測試曲線進(jìn)行簡單的數(shù)學(xué)運(yùn)算，即輸出數(shù)據(jù)取反，便可得到習(xí)慣表示法。具體參數(shù)設(shè)置如圖7對話框所示。重畫后的晶體管輸出特性曲線如圖9所示。圖6 DC Sweep Analyses對話框設(shè)置圖7 Postprocess對話框設(shè)置圖8 晶體管測試曲線圖9 晶體管輸出特性曲線4 結(jié)論從以上列舉的仿真試驗(yàn)中，可以看出，用MultiSim進(jìn)行電工電子虛擬實(shí)驗(yàn)非常方便，現(xiàn)象直觀，結(jié)果精確。這對電工電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)教學(xué)是一種很好的輔助手段。并且，還為學(xué)生進(jìn)行綜合性、創(chuàng)造性實(shí)驗(yàn)提供了一個(gè)廣闊空間。隨著MultiSim應(yīng)用的推廣和深入，其必將在電子工程、信息工程、電氣工程、自動(dòng)控制等領(lǐng)域的輔助教學(xué)中發(fā)揮重要作用。參考文獻(xiàn)：[1] Interactive Image Technology Ltd，Multisim V7 User Guide [M]，Canada，2003．[2] 鄭步生，吳渭，Multisim2001電路設(shè)計(jì)及仿真入門與應(yīng)用[M]，北京：電子工業(yè)出版社，2002．[3] 康光華，電子技術(shù)基礎(chǔ)（模擬部分），北京：高等教育出版社．5 / 5
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