節(jié)點特征分析nsa技術培訓教材-資料下載頁
2025-06-26 07:12本頁面
【正文】 件還是集成電路，無論直插式還是貼片式，只要有端口有引線，就能用上NST。 NST的使用，并不苛求使用者有較高的技術水平與較完備的技術資料。即便缺乏專業(yè)知識、沒有經驗甚至沒有任何技術資料，都不會妨礙你使用NST進行電路診斷。相反，通過NST的使用，你能獲得知識和經驗。在電路診斷過程中，最麻煩的莫過于查找集成電路，尤其是引腳很多的IC中的毛病。然而，經驗指出，在一個有缺陷的IC中許多毛病出現(xiàn)在它的輸入/輸出區(qū)域，往往表現(xiàn)在IC的外部端子上，這就是所謂的“端口型故障”。而端口上總會有特征顯現(xiàn)，因此，許多IC的缺點可通過節(jié)點特征分析顯現(xiàn)出來。事實上，大多數(shù)電子電路中展示了PN結獨有的特征圖形。無論多么復雜，在IC中數(shù)量眾多的器件的結構都基于這種簡單的PN結。同時我們將發(fā)現(xiàn)，不管引腳的數(shù)量有多大，在IC中僅僅只有少量幾種明顯不同的特征圖形。因此，是有規(guī)律可循的。許多數(shù)字電路含有成組的信號總線，用來并行地傳送數(shù)據(jù)或信號（例如，CPU、ROM、RAM、I/O接口等大規(guī)模集成電路的數(shù)據(jù)/地址總線）。這些總線上的每條信號線通常顯示同樣的特征。在測試復雜的IC 時，這種安排很適合于使用NST的比較法。具體地說，每一次完整的NST測試過程，大體上要作三件事，即三個步驟：第一、 調整儀器——選擇量程；第二、 連線目標——探測節(jié)點；第三、 得出結果——分析判別。 首先，NST的量程選擇涉及Vs、Fs、Rs三個參數(shù)，前面已有詳細敘述。簡而言之，大多數(shù)情況下，在測試由集成電路、晶體管、電阻、電容等構成的電路時Vs先選用峰值為3V的M量程，測試頻率Fs為20Hz，限流電阻Rs為10KW或1KW。然后，依實測情況分別進行調整。 其次，測試引線與普通多用表一樣，通常只用紅黑兩條。在NST儀器上，將帶探針的紅色測試線插入 “+”插孔，帶“鱷魚夾”或探針的黑色測試線插入 “COM”插孔。黑色引線應該與被測電路的公共參考點相連，通常就連電路的接地端。用紅色的探針觸及被測節(jié)點，即可觀測期望的特征。如有必要電源端也可以是參考點，以校驗特征是否正確類似。在某些情況下，你可能看見不穩(wěn)定的特征圖，此時，試著把地線和電源一起與黑色的COM 引線相連。除了紅黑兩條不可缺少的測試線，還有一條“OUT”引線或許對你有用。從“OUT”插孔可輸出“閘門”信號。在線測試可控硅、MOS場效應管、晶體三極管、光電耦合器或其它三端電子開關時，可用它作為觸發(fā)/控制電平。下一節(jié)“典型示范”中會以實例作介紹。 在解讀特征圖時，請注意來自不同功廠商的同類 ICs 之間在特征上的差別，或許它門使用了不同的生產工藝。在認定器件失效之前，先將可疑端點的特征與同一器件的其它端點的特征進行比較。 絕大多數(shù)電路故障是“端口型故障”，尤其是使用后發(fā)生的，基本上屬于此類。其共同點是處于最接近外部的端口上。因此，建議采取“先外后里，由大到小”的測試策略。當診斷修理一個完整的電路模塊時，例如插件式電路板，按下列次序檢驗特征：邊緣連接器——其它連接器——大的 ICs——小的 ICs ——其它元件。甚至于，首先檢驗被測設備的電源插頭上的特征圖，也許就能發(fā)現(xiàn)問題。因為電源變壓器次級側的短路會“反射”耦合到與插頭相連的初級側，引起特征圖的變異。對此，后邊將有例舉。至此，有關NSA與NST的介紹即將結束。接下來，介紹一些測試實例，以期拋磚引玉。我們相信，這種用起來同多用表一樣簡便，卻能多用表所不能的特征圖示儀器，只要價格低廉，一定廣為采用。為此，附錄中，將對廉價實用的“GM128A多用特征圖示儀”作較全面的介紹。7．5 典型示范例1， 從一個儀器面板的測試插孔中得到的特征圖看到了儀器內部輸入通道的IC損壞例2， ADuC812的Vref端損壞例3， 變壓器的二次側的短路引起的特征圖形的變化例4， 用“GATE”O(jiān)UT在線測試4463型MOSFET例5， 典型的器件74HC14在線測試的好壞特征圖形的照片例6，可編程器件CPLDLC4064在線測試的好壞特征圖形的照片 例7，GM128A中的U9集成模擬開關ADG411第10腳上好壞兩種特征圖11 / 1
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