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spc統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制手冊(cè)-資料下載頁(yè)

2024-11-07 12:28本頁(yè)面

【導(dǎo)讀】取得了長(zhǎng)足的發(fā)展。以預(yù)防為主、減少浪費(fèi)、通過(guò)持續(xù)改進(jìn)不斷滿足顧客日益增。六月QS-9000系列手冊(cè)中文版獲得美國(guó)三大汽車公司認(rèn)可。根據(jù)版權(quán)協(xié)議的要求。果分析、測(cè)量系統(tǒng)分析和統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制。在此表示誠(chéng)摯的謝意。感謝手冊(cè)中文版97年版編委會(huì)中方及美方的全體成員。葉盛基、張建偉、孫林、汪惠林、劉耀民、趙幼賢、張建中、顏景茂、李偉禹;特別感謝美國(guó)品士公司總培訓(xùn)師方儉先生比給予的支持與指導(dǎo)。分析、基礎(chǔ)統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制共七冊(cè)]。國(guó)三大汽車公司及德?tīng)柛9抉v中國(guó)機(jī)構(gòu)的密切配合與協(xié)作。各有關(guān)單位共同組成編委會(huì),組織有關(guān)專家對(duì)譯稿先后進(jìn)行了三輪的認(rèn)真審議。形成正式譯稿后,陸續(xù)寄至美國(guó)汽車工業(yè)行動(dòng)集團(tuán)審閱確認(rèn)。QS-9000及其配套手冊(cè)中文本是中美雙方專家集體智慧的成果。配套手冊(cè)中文本編委會(huì)全體專家和編譯人員卓有成效的工作。商品的統(tǒng)計(jì)方法的發(fā)展,也不包括所有的SPC技術(shù)??汕笾陬櫩唾|(zhì)量部門。出版和發(fā)行中做出的重要貢獻(xiàn)。

  

【正文】 一個(gè)子組內(nèi)的變差代表很短時(shí)間內(nèi)的零件間的變差,則在子組之間出現(xiàn)不正常的變差則表明過(guò)程發(fā)生變化,應(yīng)進(jìn)行調(diào)查并采取適當(dāng)?shù)拇胧? 在過(guò)程的初期研究中,子組一般由 4 到 5 件連續(xù)生產(chǎn)的組合,僅代表單一刀具、沖頭、模槽(型腔)等生產(chǎn)出的零件(即一個(gè)單一的過(guò)程流)。這樣做的目的是每個(gè)子組內(nèi)的零件都是在很短的時(shí)間間隔內(nèi)及非常相似的生產(chǎn)條件下生產(chǎn)出來(lái)的并且相互之間砂存在其他的系統(tǒng)的關(guān)系。因此,每個(gè)子組內(nèi)的變差主要應(yīng)是普通原因造成的。當(dāng)這些條件不滿足時(shí),最后的控制圖可能不會(huì)有效地區(qū)分變差 的特殊原因,或可能出現(xiàn)本節(jié) 和 中所述的異常圖形。對(duì)于所有的子組樣本的容量應(yīng)保持恒定。 —— 其目的是檢查經(jīng)過(guò)一段時(shí)間后過(guò)程中的變化。應(yīng)當(dāng)在適當(dāng)?shù)臅r(shí)間收集足夠的子組,這樣子組才能反映潛在的變化。這些變化的潛在原因可能是換班、或操作人員更換、溫升趨勢(shì)、材料批次等原因造成的。 在過(guò)程的初期研究中,通常是連續(xù)進(jìn)行分組或很短的時(shí)間間隔進(jìn)行分組,以便檢查過(guò)程在很短的時(shí)間間隔內(nèi)是否有其它不穩(wěn)定的因素存在。當(dāng)證明過(guò)程已處于穩(wěn)定狀態(tài)(或已對(duì)過(guò)程進(jìn)行改進(jìn)),子組間的時(shí)間間隔可能增加。對(duì)正在生產(chǎn)的的產(chǎn)品進(jìn)行監(jiān)測(cè)的子組頻率可以是每班兩次、每小時(shí)一次或其他可行的頻率。 —— 子組數(shù)的大小應(yīng)滿足兩個(gè)原則,從過(guò)程的角度來(lái)看,收集越多的子組可以確保變差的主要原因有機(jī)會(huì)出現(xiàn),一般情況下,包含 100 或更多單值讀數(shù)的 25 或更多個(gè)子組可以很好地用來(lái)檢驗(yàn)穩(wěn)定性,如果過(guò)程已穩(wěn)定,則可以得到過(guò)程位置和分布寬度的有效的估計(jì)值。 在有些情況下,可以利用現(xiàn)有的數(shù)據(jù)來(lái)加速這個(gè)第一階段的研究。然而,只有它們是最近的,并且對(duì)建立子組的基礎(chǔ)很清楚的情況下才能使用。 注:為進(jìn)一步了解分組對(duì)控制圖解釋的影響,參見(jiàn)附錄 A。 圖 8 R 圖 —— 數(shù)據(jù) A. 2 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù)(見(jiàn)圖 8) X— R 圖通常是將 X 圖畫在 R 圖之上方,下面再接一個(gè)數(shù)據(jù)欄。 X 和 R的值為縱坐標(biāo),按時(shí)間先后的子組為橫坐標(biāo),數(shù)據(jù)值以及極差和均值點(diǎn)應(yīng)縱向?qū)R。 數(shù)據(jù)欄應(yīng)包括每個(gè)讀數(shù)的空間。同時(shí)還應(yīng)包括記錄讀數(shù)的和、均值( X)、極差( R)以及日期 /時(shí)間或其他識(shí)別子組的代碼空間。 填入每個(gè)子組的單個(gè)讀數(shù)及識(shí)別代碼。 A. 3 計(jì)算每個(gè)子組的均值( X)和極差( R)(見(jiàn) 圖 8) 畫在控制圖上的特性量是每個(gè)子組的樣本均值( X)和樣本極差( R),合在一起后它們分別反映整個(gè)過(guò)程的均值及其變差。 對(duì)每個(gè)子組,計(jì)算: X= R=X 最大值 — X最小值 式中: X1 , X2 ?為子組內(nèi)的每個(gè)測(cè)量值。 N為子組的樣本容量。 圖 9 X— R圖 —— “初始研究” A. 4 選擇控制圖的刻度(見(jiàn)圖 9) 兩個(gè)控制圖的縱坐標(biāo)分別用于 X 和 R 的測(cè)量值,用于 確定刻度值的一些通用的指南是有幫助的,盡管它們?cè)谔厥馇闆r下可能要修改。對(duì)于 X圖,坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值之差應(yīng)少為子組均值( X)的最大與最小值差的 2倍。對(duì)于 R圖,刻度值應(yīng)從最低值 0開(kāi)始到最大值之間的差值為初始階段所遇到的最大極差( R)的 2倍。 注:一個(gè)有用的建議是將 R圖的刻度值設(shè)置為均值圖的刻度值的 2 倍(例如:平均值圖上 1個(gè)刻度代表 英寸,則在極端差圖上 1刻度代表 英寸,在一般的子組大小情況下,均值和極差的控制限將具有大約相同的寬度,給分析以直觀的幫助。 A. 5 將均值和極差畫到控 制圖上(見(jiàn)圖 9) 將均值和極差分別畫在其各自的圖上。該工作在確定了刻度以后盡快完成。將各點(diǎn)用直線聯(lián)接起來(lái)從而得到可見(jiàn)的圖形趨勢(shì)。 簡(jiǎn)要地瀏覽一下所有畫上去的點(diǎn),看它們是否合理,如果有的點(diǎn)比別的點(diǎn)高得很鑫或低得很多,需確認(rèn)計(jì)算及圖是否正確的,應(yīng)確保所畫的 X和 R點(diǎn)在縱向是對(duì)應(yīng)的。 注:為了再次強(qiáng)調(diào)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的所有控制限的控制圖的應(yīng)用,還沒(méi)有計(jì)算控制限(由于沒(méi)有足夠的數(shù)據(jù))的初期操作控制圖上應(yīng)清楚地注明“初始研究”字樣。這樣,這些標(biāo)有“初始研究”的控制圖,不論是用于能力的初次確定還是用于過(guò)程經(jīng)過(guò)改進(jìn) /改變后的研究,是僅允許用在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)中還沒(méi)有控制限的過(guò)程控制圖。 圖 10 有控制限的 X— R圖 計(jì)算控制限 首先計(jì)算極差圖的控制限,再計(jì)算均值圖的控制限,計(jì)量型數(shù)據(jù)的控制圖的控制限的計(jì)算要使用下列公式中的字母表示的系數(shù)。這些系數(shù)隨著子組大?。?n)的不同而不同,列在下面對(duì)應(yīng)公式的表中,附錄 E 提供了更完整的表。 B. 1 計(jì)算平均極差( R)及過(guò)程均值( X)(見(jiàn)圖 10) 在研究階段,計(jì)算: R= X= 式中: k 為子組的數(shù)量, R1 和 X1 即為第 1 個(gè)子組的極差和均值, R2 和X2為第 1 個(gè)子組的極差和均值,等等。 B. 2 計(jì)算控制限(見(jiàn)圖 10) 計(jì)算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時(shí)子組的均值和極差的變化和范圍??刂葡奘怯勺咏M的樣本容量以及反映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來(lái)決定的。按下式計(jì)算極差和均值的上下控制限: UCLR=D4R LCLR=D3R UCLX=X+A2R LCLX=X— A2R 式中: D D A2為常數(shù),它們隨樣本容量的不同而不同,下表是從附錄 E 摘錄的樣本容量從 2到 10的一個(gè)表: n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 * * * * * A2 *對(duì)于樣本容量小于 7 的情 況 ,LCLR 可能技術(shù)上為一個(gè)負(fù)值 .在這種情況下沒(méi)有下控制限 ,這意味著對(duì)于一個(gè)樣本數(shù)為 6的子組 ,6 個(gè)“同樣的”測(cè)量結(jié)果是可能成立的。 B. 3 在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線(見(jiàn)圖 10) 將平均極差( R)和過(guò)程均值( X)畫成水平實(shí)線,各控制限( UCLR, LCLR,UCLX, LCLX)畫成水平虛線;把線標(biāo)上記號(hào),在初始研究階段,這些被稱為試驗(yàn)控制限。 圖 11 R 圖 —— 有超出控制限的點(diǎn)存在(略) C.過(guò)程控制解釋 對(duì)控制限的解釋如下:如果過(guò)程的零件間的變異性和過(guò)程均值保持在現(xiàn)有的水平(如分 別通過(guò) R 和 X 來(lái)估計(jì)的),單個(gè)的子組極差( R)和均值( X)會(huì)單獨(dú)地隨機(jī)變化,但它們會(huì)很少超過(guò)控制限。而且,數(shù)據(jù)中不會(huì)出現(xiàn)與由于隨機(jī)變化產(chǎn)生的圖形有明顯不同的圖形與趨勢(shì)。分析控制圖的目的在于識(shí)別過(guò)程變化性的任何證據(jù)或過(guò)程均值沒(méi)有處于恒定的水平的證據(jù) —— 即其中之一或兩者均不受統(tǒng)計(jì)控制 —— 進(jìn)而采取適當(dāng)?shù)拇胧?R圖和 X圖應(yīng)分別分析,但是對(duì)兩個(gè)圖形進(jìn)行比較時(shí),有時(shí)可以幫助深入了解影響過(guò)程的特殊原因。 C. 1 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) 由于不論解釋子組極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差。因此首先分析 R圖。將數(shù)據(jù) 點(diǎn)與控制限相比確定超出控制限的點(diǎn)或非隨機(jī)的圖形或趨勢(shì)。 超出控制限的點(diǎn)(圖 11) —— 出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何一個(gè)控制限是該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要證據(jù)。因?yàn)樵谥淮嬖谄胀ㄔ蛞鹱儾畹那闆r下超出控制限的點(diǎn)會(huì)很少,我們便假設(shè)該超出的是由于特殊原因造成的。因此,任何超出控制限的點(diǎn)是立即進(jìn)行分析,找出存在特殊原因的信號(hào)。給任何超出控制限的點(diǎn)作標(biāo)記,以便根據(jù)特殊原因?qū)嶋H開(kāi)始的時(shí)間進(jìn)行調(diào)查,采取糾正措施(見(jiàn)本節(jié) 段)。 超出極差上控制限的點(diǎn)通常說(shuō)明存在下列情況中的一種或幾種: 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò); 零件間的變化性或分布的寬度已經(jīng)增大(即變壞),這種增大的可以發(fā)生在某個(gè)時(shí)間點(diǎn)上,也可能是整個(gè)趨勢(shì)的一部分; 測(cè)量系統(tǒng)變化(例如,不同的檢驗(yàn)員或量具); 測(cè)量系統(tǒng)沒(méi)有適當(dāng)?shù)姆直媪Α? 有一點(diǎn)位于控制限之下(對(duì)于樣本容量大于等于 7 的情況),說(shuō)明存在下列情況的一種或幾種: 控制限或描點(diǎn)錯(cuò)誤; 分布的寬度變?。醋兒茫?; 測(cè)量系統(tǒng)已改變(包括數(shù)據(jù)編輯或變換)。 控制限之內(nèi)的圖形或趨勢(shì) —— 當(dāng)出現(xiàn)非隨機(jī)的圖形或趨勢(shì)時(shí),盡管所有的極差都在控制限之內(nèi),也表明出現(xiàn)這種圖形或趨勢(shì)的時(shí)期內(nèi)過(guò)程失迭或過(guò)程分 布寬度發(fā)生變化。這種情況會(huì)給出首次警告:應(yīng)糾正不利條件。相反,某些圖形或趨勢(shì)是好的,并且應(yīng)當(dāng)研究以便使過(guò)程得到可能的永久性改進(jìn)。比較極差和均值圖的圖形也可以更深刻地理解。 鏈(見(jiàn)圖 12) —— 在下列現(xiàn)象之一表明過(guò)程已改變或出現(xiàn)這種趨勢(shì): 連續(xù) 7 點(diǎn)位于平均值的一側(cè); 連續(xù) 7 點(diǎn)上升(后續(xù)等于或大于前點(diǎn))或下降; 標(biāo)記促使人們作出決定的點(diǎn),并從這點(diǎn)做一條參考線延伸到鏈的開(kāi)始點(diǎn)將是有幫助的。分析時(shí)應(yīng)考慮開(kāi)始出現(xiàn)改變或趨勢(shì)的大致時(shí)間。 高于平均極差的鏈或上升說(shuō)明存在下列情況之一或全部: 輸出值的分布寬度 增加,其原因可觀膽無(wú)規(guī)律的(例如設(shè)備工作不正常或固定松動(dòng))或是由于過(guò)程中的某個(gè)要素變化(例如,使用新的不是很一致的原材料),這些都是常見(jiàn)的問(wèn)題,需要糾正; 測(cè)量系統(tǒng)改變(例如,新的檢驗(yàn)員或量具)。 低于平均極差的鏈,或下降鏈表明存在下列情況之一或全部: 輸出值分布寬度減小,這常常是一個(gè)好狀態(tài),應(yīng)研究以便推廣應(yīng)用和改進(jìn)過(guò)程; 測(cè)量系統(tǒng)改變,這樣會(huì)遮掩過(guò)程真實(shí)性能的變化。 注:當(dāng)子組數(shù)( n)變得更?。?5 或更?。r(shí),低于 R 的鏈的可能性增加,則 8 點(diǎn)或更多點(diǎn)組成的鏈才能表明過(guò)程變差減小。 圖 13 R 圖 — 非隨機(jī)模式 c.明顯的非隨機(jī)圖形(見(jiàn)圖 13) —— 除了會(huì)出現(xiàn)超過(guò)控制界的點(diǎn)或長(zhǎng)鏈之外,數(shù)據(jù)中還可能出現(xiàn)其他的易分辨的由于特殊原因造成的圖形。注意不要過(guò)分地解釋數(shù)據(jù),因?yàn)榧词闺S機(jī)的數(shù)據(jù)(即普通原因)有時(shí)也可能表現(xiàn)出非隨機(jī)(即出現(xiàn)特殊原因)的假象。非隨機(jī)的圖形例子:明顯的趨勢(shì)(盡管它們不屬于鏈的情況),周期性,數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個(gè)控制限內(nèi),或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等(例如:第一個(gè)讀數(shù)可能總是最大值)。下列介紹一種驗(yàn)證子組內(nèi)數(shù)據(jù)點(diǎn)的總體分布的準(zhǔn)則: 各點(diǎn)與 R 的距離:一般地,大約 2/3 的描點(diǎn)應(yīng)落在控 制限的中間三分之一的區(qū)域內(nèi),大約 1/3 的點(diǎn)落在其外的三分之二的區(qū)域。 如果顯著多于 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R很近之處(對(duì)于 25 個(gè)子組,如果超過(guò) 90%的點(diǎn)落在控制限三分之一的區(qū)域),則應(yīng)對(duì)下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查: 控制限或描點(diǎn)已計(jì)算錯(cuò)或描錯(cuò); 過(guò)程或取親方法被分層;每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩個(gè)或多個(gè)具有完全不同的過(guò)程均值的過(guò)程流的測(cè)量值(例如:從幾組軸中,每組抽一根,測(cè)取數(shù)據(jù)) *; 數(shù)據(jù)已經(jīng)過(guò)編輯(極差與均值相差甚遠(yuǎn)的幾個(gè)子組被更改或剔除)。 如果顯著少于 2/3以下的描點(diǎn)落在離 R很 近的區(qū)域(對(duì)于 25個(gè)子組,如果有 40%或少于 40%的點(diǎn)落在中間三分之一的區(qū)域),則應(yīng)對(duì)下列情況的一種或兩種進(jìn)行調(diào)查: 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)或描錯(cuò); 過(guò)程或抽樣方法造成連續(xù)的分組中包含從兩個(gè)或多個(gè)具有明顯不同的變化性的過(guò)程流的測(cè)量值(例如:輸入材料批次混淆)。 * 如果存在幾個(gè)過(guò)程流,應(yīng)分別識(shí)別和追蹤。 * *參見(jiàn)附錄 A。 圖 14 X— R圖 — 重新計(jì)算控制限(極差)(略) C. 2 識(shí)別并標(biāo)注特殊原因(極差圖)(見(jiàn)圖 14) 對(duì)于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每個(gè)特殊原因進(jìn)行標(biāo)注 ,作一個(gè)過(guò)程操作分析,從而確定該原因并改進(jìn)對(duì)過(guò)程的理解;糾正條件并且防止它再發(fā)生??刂茍D本身就是問(wèn)題分析的有用的工具,能提示何時(shí)該條件開(kāi)始以及該條件持續(xù)多長(zhǎng)時(shí)間。但是應(yīng)意識(shí)到并不是所
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