【正文】 擴(kuò)充和更新，使系統(tǒng)的適應(yīng)性強(qiáng)。維修方便快捷。功能模板可以組織批量生產(chǎn)，使質(zhì)量穩(wěn)定并降低成本。83 智能儀器中微機(jī)系統(tǒng)有哪幾種構(gòu)成方式？分別試用于哪些場(chǎng)合？84 總結(jié)目前市場(chǎng)流行的單片機(jī)型號(hào)、特點(diǎn)。（1） MicroChip單片機(jī)：MicroChip單片機(jī)的主要產(chǎn)品是PIC16C系列和17C系列8位單片機(jī)，CPU采用RISC結(jié)構(gòu)。運(yùn)行速度快，低工作電壓，低功耗，較大的輸入輸出直接驅(qū)動(dòng)能力，價(jià)格低，一次性編程，小體積。適用于量大，檔次低，價(jià)格敏感的產(chǎn)品。在辦公自動(dòng)化設(shè)備，消費(fèi)電子產(chǎn)品，電訊通信，智能儀器儀表，汽車(chē)電子，金融電子，工業(yè)控制不同領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用。（2） 51系列擁有基于復(fù)雜指令集（CISC）的單片機(jī)內(nèi)核，雖然其速度不快，12個(gè)振蕩周期才能執(zhí)行一個(gè)單周期指令，但其端口結(jié)構(gòu)為準(zhǔn)雙向并行口，可兼有外部并行總線(xiàn)，故使其擴(kuò)展性能非常強(qiáng)大。51的內(nèi)部硬件預(yù)設(shè)，可用特殊功能寄存器對(duì)其進(jìn)行編輯。（3） AVR單片機(jī)高速RISC（精簡(jiǎn)指令集）:主頻最高達(dá)20MHz；低功耗，寬電壓：，最低全速運(yùn)行功耗300uA；IO口驅(qū)動(dòng)能力強(qiáng)：推拉電流能力均達(dá)30mA，可以直接驅(qū)動(dòng)蜂鳴器、繼電器等；片內(nèi)資源豐富：外部中斷、定時(shí)/計(jì)數(shù)器、UART、SPI、IIC、ADC、模擬比較器型號(hào)齊全，而且40腳一下點(diǎn)的AVR均具有DIP的封裝形式。（4） MSP430單品級(jí)的特點(diǎn)MSP430系列單片機(jī)的迅速發(fā)展和應(yīng)用的范圍的不斷擴(kuò)大，主要取決于一下的特點(diǎn)。強(qiáng)大的處理能力MSP430系列單片機(jī)是一個(gè)16位的單片機(jī)，采用了精簡(jiǎn)指令集（RISC）結(jié)構(gòu)，具有豐富的尋址方式（7中源操作數(shù)尋址、4種目的操作數(shù)尋址）、簡(jiǎn)介的27條內(nèi)核指令以及大量的魔力指令；大量的寄存器以及片內(nèi)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器都可參加多種運(yùn)算；還有搞笑的查表處理敕令，有較高的處理速度，在8MHz晶體驅(qū)動(dòng)下指令周期為125ns的指令周期。16位的數(shù)據(jù)寬度、125ns的指令周期一節(jié)多功能的硬件乘法器（能實(shí)現(xiàn)加乘）相配合，能實(shí)現(xiàn)數(shù)字信號(hào)處理的某些算法（如FFT等）。MSP430系列單片機(jī)的終端源較多，并且可以任意嵌套，使用靈活方便。當(dāng)系統(tǒng)處于省電的備用狀態(tài)時(shí)，用終端請(qǐng)求將它喚醒只用6us。超低功耗MSP430單片機(jī)之所以有超低的功耗，是因?yàn)槠湓诮档托酒碾娫措妷杭办`活而可控的運(yùn)行時(shí)鐘方面都有其獨(dú)到之處。85 TMS320系列DSP中，有哪些芯片適合智能儀器，概括其主要性能特點(diǎn)。86 簡(jiǎn)述《儀器設(shè)計(jì)任務(wù)書(shū)》的主要內(nèi)容、主要作用和編寫(xiě)注意事項(xiàng)。P232P233主要內(nèi)容：（1）儀器名稱(chēng)、用途、特點(diǎn)及簡(jiǎn)要設(shè)計(jì)思想（2）主要技術(shù)指標(biāo)，包括：精度、被測(cè)參數(shù)名稱(chēng)及測(cè)量范圍和工作環(huán)境、穩(wěn)定性等。（3）儀器應(yīng)具備的功能，包括：輸出功能、人機(jī)對(duì)話(huà)功能、運(yùn)算功能、出錯(cuò)或超限報(bào)警提示功能以及諸如儀器檢測(cè)狀態(tài)的自動(dòng)調(diào)整功能。（4）儀器的設(shè)備規(guī)模（5）系統(tǒng)的操作規(guī)范主要作用：（1）作為用戶(hù)（或委托方）和研制單位之間的合約附件或研制單位儀器設(shè)計(jì)的立項(xiàng)基礎(chǔ)。（2）反映儀器的結(jié)構(gòu)、規(guī)定儀器的功能指標(biāo)，是研制人員的設(shè)計(jì)目標(biāo)。（3）作為研制完畢進(jìn)行項(xiàng)目驗(yàn)收的依據(jù)。編寫(xiě)注意事項(xiàng)：（1） 設(shè)計(jì)任務(wù)書(shū)應(yīng)由項(xiàng)目主持人編寫(xiě)，力求簡(jiǎn)明，切勿陷入具體細(xì)節(jié)設(shè)計(jì)，但是要從總體上考慮實(shí)現(xiàn)總目標(biāo)所必須經(jīng)歷的研究途徑和實(shí)施方法。（2） 填寫(xiě)《儀器功能說(shuō)明書(shū)》中有關(guān)技術(shù)指標(biāo)的具體數(shù)據(jù)是要非常慎重。應(yīng)結(jié)合實(shí)際通盤(pán)考慮，切忌苛求高指標(biāo)，避免技術(shù)指標(biāo)在有限的人力和財(cái)力條件下難以實(shí)現(xiàn)。87 智能儀器設(shè)計(jì)時(shí)如何考慮硬件和軟件之間的關(guān)系。P233智能儀器設(shè)計(jì)時(shí)兩者緊密協(xié)調(diào)、不可分離。系統(tǒng)完成的某些功能（例如邏輯運(yùn)算、定時(shí)或延時(shí)功能以及串行接口等），從原則上既可以以硬件為主實(shí)現(xiàn)，又可以以軟件為主實(shí)現(xiàn)。一般的，利用硬件的方法，必須配置相應(yīng)的外圍芯片，它基本上不占用CPU的運(yùn)行時(shí)間，但硬件多了，不僅增加成本，且系統(tǒng)的故障的機(jī)會(huì)也相應(yīng)增多。利用軟件方法，可以使硬件配置最省，其實(shí)質(zhì)是以時(shí)間取代空間。軟件執(zhí)行過(guò)程需要時(shí)間，系統(tǒng)實(shí)時(shí)性會(huì)下降。但在實(shí)時(shí)性要求不高的系統(tǒng)，“以軟代硬”是很合算的。例如：觸電去抖動(dòng)的軟件延時(shí)法和軟件低通濾波方法通常指的采用。總之，硬件和軟件的劃分，要根據(jù)系統(tǒng)的規(guī)模、功能、指標(biāo)和成本等因素綜合考慮。一般原則是：如果儀器的生產(chǎn)批量很大，則應(yīng)盡量壓縮硬件投入，用以軟代硬的方法降低成本，且能提高系統(tǒng)的可靠性。然而，硬件和軟件的劃分一般不可能一步到位，在具體的設(shè)計(jì)過(guò)程中，為取得較為滿(mǎn)意的結(jié)果，軟件和硬件的劃分往往需要多次協(xié)調(diào)、折中和仔細(xì)權(quán)衡。88 簡(jiǎn)述微處理器內(nèi)嵌式智能儀器硬件設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)注意哪幾方面的問(wèn)題。P233P234（1） 要求硬件設(shè)計(jì)人員對(duì)所需硬件芯片的性能有充分的了解并盡可能采用功能強(qiáng)的芯片以簡(jiǎn)化硬件電路（2） 在設(shè)計(jì)時(shí)要考慮到可能會(huì)有修改和擴(kuò)展，因此，設(shè)計(jì)時(shí)硬件資源須留有足夠的余地（3） 為使智能儀器具有自診斷功能，需附加設(shè)計(jì)有關(guān)的監(jiān)測(cè)報(bào)警電路（4） 考慮硬件干擾措施和是否需設(shè)置RAM 的掉電保護(hù)（5） 繪制線(xiàn)路板時(shí)，尚需注意與機(jī)箱、面板的配哈，接插件安排等問(wèn)題，必須考慮到安裝、調(diào)試和維修的方便89 簡(jiǎn)述智能儀器軟件調(diào)試、綜合調(diào)試、整機(jī)性能測(cè)試的一般方法。軟件調(diào)試：從不需要調(diào)用其他子程序的最初子程序入手，然后逐級(jí)向上一級(jí)模塊程序（測(cè)試軟件）擴(kuò)展，最后才是監(jiān)控程序。綜合調(diào)試：在完成了樣機(jī)的硬件組裝和軟件設(shè)計(jì)后，就可著手系統(tǒng)調(diào)試，以排除硬件故障和糾正軟件錯(cuò)誤，并解決硬件和軟件之間的協(xié)調(diào)問(wèn)題。整機(jī)性能測(cè)試：需按照設(shè)計(jì)任務(wù)書(shū)規(guī)定的設(shè)計(jì)要求擬定一個(gè)測(cè)試方案，對(duì)各項(xiàng)功能和指標(biāo)進(jìn)行逐項(xiàng)測(cè)試，如果某項(xiàng)指標(biāo)不符合要求，還得查明原因，作相應(yīng)調(diào)整，直至完全達(dá)到設(shè)計(jì)要求為止。810 畫(huà)出相關(guān)處理的快速算法流程。概述相關(guān)檢測(cè)的主要應(yīng)用。P247圖817相關(guān)檢測(cè)的主要應(yīng)用：相關(guān)檢測(cè)是利用相關(guān)原理對(duì)某些物理量進(jìn)行檢測(cè)。兩個(gè)信號(hào)的互相關(guān)函數(shù)是個(gè)有用的統(tǒng)計(jì)量，他可以用來(lái)了解兩個(gè)信號(hào)的相似程度，或者兩個(gè)信號(hào)之間的時(shí)間關(guān)系。對(duì)兩個(gè)信號(hào)進(jìn)行時(shí)差調(diào)整，就可以求得相關(guān)函數(shù)的最大值，從而了解他們之間的相似程度。如果已知這兩個(gè)信號(hào)時(shí)相似的，則這個(gè)時(shí)差就等于他們之間的時(shí)間延遲。811 自選儀器設(shè)計(jì)題目，提出設(shè)計(jì)方案。91 與傳統(tǒng)儀器相比，虛擬儀器有哪些特點(diǎn)？P253（1） 軟件是VI的核心（2） VI具有良好的人機(jī)界面（3） VI性?xún)r(jià)比高（4） VI具有和其他設(shè)備互聯(lián)的能力92 在儀器開(kāi)發(fā)中為什么要用虛擬儀器軟件開(kāi)發(fā)平臺(tái)？請(qǐng)舉例說(shuō)明優(yōu)越性。P257VI應(yīng)用軟件具有被其他可復(fù)用源碼模塊繼承性調(diào)用能力，從而減低測(cè)試成本。而且，由于VI是基于模塊化軟件標(biāo)準(zhǔn)的開(kāi)放式系統(tǒng)，用戶(hù)可以選擇合適于自己應(yīng)用要求的任何測(cè)試軟件。例如，用戶(hù)完全可以定義最合適與自己生產(chǎn)線(xiàn)上涌的低成本測(cè)試系統(tǒng)，或?yàn)檠芯颗c開(kāi)發(fā)項(xiàng)目設(shè)計(jì)高性能的測(cè)試系統(tǒng)，而這些系統(tǒng)的軟件或硬件平臺(tái)可能是相同或兼容的。簡(jiǎn)而言之，采用基于VI的統(tǒng)一測(cè)試策略將有助于你面對(duì)當(dāng)今的測(cè)試挑戰(zhàn)而在積累的競(jìng)爭(zhēng)中處于優(yōu)勢(shì)地位。93 比較基于PCI總線(xiàn)（內(nèi)插DAQ卡）的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和基于USB總線(xiàn)的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的優(yōu)缺點(diǎn)。P251PCI利用PC軟硬件資源，是儀器設(shè)計(jì)靈活快捷，計(jì)算機(jī)的軟硬件的到了充分的利用，但是，他需要打開(kāi)機(jī)箱，攜帶也不方便，USB總線(xiàn)的出現(xiàn)，克服了PC插卡式儀器不能熱插拔以及外接式專(zhuān)用PC儀器的吞吐率受總線(xiàn)速度限制等缺點(diǎn)，這種儀器能夠?qū)崿F(xiàn)即插即用，方便靈活。94 兩種虛擬儀器專(zhuān)用總線(xiàn)VXI和PXI有何異同？與VXI相比，PXI具有更高的性?xún)r(jià)比，其堅(jiān)固緊湊的形狀特保證在惡劣的工業(yè)環(huán)境中應(yīng)用時(shí)的可靠性，還通過(guò)增加更多的儀器模塊擴(kuò)展槽以及高級(jí)觸發(fā)、定時(shí)、和高速通信性能，更好的滿(mǎn)足用戶(hù)的需要。95 labview軟件開(kāi)發(fā)平臺(tái)有哪些主要特點(diǎn)？簡(jiǎn)述采用labview進(jìn)行虛擬儀器軟件開(kāi)發(fā)的方法和步驟。主要特點(diǎn)：（1）圖形化的編程界面，采用“所見(jiàn)即可得”的可視化編程技術(shù)（2）內(nèi)置程序編輯器，采用編譯方式運(yùn)行32位應(yīng)用程序，速度快（3）具有靈活的調(diào)試手段，可設(shè)置斷點(diǎn)，單步運(yùn)行程序（4）集成了大量的函數(shù)庫(kù)（5）支持多中系統(tǒng)工作平臺(tái)（6）開(kāi)放式開(kāi)發(fā)平臺(tái)，提供DDL，OLE等支持（7）支持網(wǎng)絡(luò)功能方法和步驟：系統(tǒng)需求分析結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)階段細(xì)節(jié)設(shè)計(jì)階段編寫(xiě)代碼階段程序測(cè)試階段軟件維護(hù)階段96 隨著網(wǎng)絡(luò)技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)、微電子技術(shù)和為傳感器技術(shù)等現(xiàn)代信息技術(shù)的發(fā)展，請(qǐng)展望測(cè)控儀器的未來(lái)。