品管管理基礎(chǔ)知識(shí)培訓(xùn)資料-資料下載頁(yè)
2025-06-19 21:23本頁(yè)面
【正文】 方法；配套元件的質(zhì)量等。D. 環(huán)境方法：包括生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的溫度、濕度、振動(dòng)、照明、現(xiàn)場(chǎng)污染等。E. 操作人員方面：作業(yè)員的技術(shù)水平熟練程度；質(zhì)量意識(shí)、責(zé)任心、管理程度等。3． 工序能力分析的意義：工序能力測(cè)試和分析是保證產(chǎn)品質(zhì)量的基礎(chǔ)工作；是提高工序能力的有效手段；為改進(jìn)質(zhì)量找出方向。二． 工序能力指數(shù)1． 工序能力指數(shù)的概念：質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)（T）與工序能力（B）之比值。 Cp(Capability of precision)是衡量工序能力大小的數(shù)值.2. 工序能力的計(jì)算:① 計(jì)量值為（雙側(cè)公差且分布中心和標(biāo)準(zhǔn)中心重合）情況下CP值的計(jì)算： S為標(biāo)準(zhǔn)偏差；Tu為質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)上限；TL為質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)下限。 u為樣本測(cè)量數(shù)據(jù)的平均值。 M為標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格中間值② 計(jì)量值為（分布中心和標(biāo)準(zhǔn)中心不重合）情況下CPK值的計(jì)算： ε為分布中心u對(duì)標(biāo)準(zhǔn)中心M 的絕對(duì)偏移量. ε= |Mu|,偏移系數(shù)。又因。T= TuTL,故:a. 當(dāng)u恰好位于標(biāo)準(zhǔn)中心時(shí),ε= |Mu|=0,則K=.b. 當(dāng)u恰好位于標(biāo)準(zhǔn)上限或下限時(shí),u= Tu或TL時(shí),則K=1.c. 當(dāng)u位于標(biāo)準(zhǔn)界限之外時(shí),即εT/2,則K 越小越好.當(dāng)分布中心偏離標(biāo)準(zhǔn)中心時(shí),其修正能力指數(shù)CPk=Cp(1K)③ 計(jì)量值為單側(cè)公差情況下Cp值的計(jì)算:單側(cè)公差:、光潔度、材料中有害雜質(zhì)、強(qiáng)度、壽命等。a. 只規(guī)定上限標(biāo)準(zhǔn)(見圖31): b. 只規(guī)定下限標(biāo)準(zhǔn)(見圖32) 統(tǒng)計(jì)量類別統(tǒng)計(jì)量含義計(jì)算公式（所用函數(shù)）Data Max最大值MAX函數(shù)Data Min最小值MIN函數(shù)Spread Center分布中心（Max+Min）/2Average平均值A(chǔ)verage函數(shù)Standard標(biāo)準(zhǔn)值規(guī)定（+/）公差規(guī)定Standard Max標(biāo)準(zhǔn)上線規(guī)定Standard Min標(biāo)準(zhǔn)下線規(guī)定Standard Width標(biāo)準(zhǔn)范圍規(guī)定K偏離度（平均值標(biāo)準(zhǔn)值）/公差范圍/2STDEV標(biāo)準(zhǔn)偏差STDEV函數(shù)CP短期能力（標(biāo)準(zhǔn)上限標(biāo)準(zhǔn)下限）/6σCPK長(zhǎng)期能力（標(biāo)準(zhǔn)上限標(biāo)準(zhǔn)下限）2ABS（平均值標(biāo)準(zhǔn)差）/6σZUSL上限σ值（標(biāo)準(zhǔn)上限 平均值）/σZLSL下限σ值（平均值標(biāo)準(zhǔn)下限）/σP（XUSL)超上限概率據(jù)ZUSL值計(jì)算或查表得P（XLSL)超下限概率據(jù)ZLSL值計(jì)算或查表得Pd總不良率P（XUSL)+P（XLSL)PPM不良PPMPd*1000000Yield直通率（1000000PPM）/1000000④ 計(jì)件值情況下Cp值的計(jì)算:平均不良率=抽取樣本中不良數(shù)之和(ΣnP)/抽樣總數(shù)(ΣKn=樣本大小n x 樣本組數(shù)K)u = n(平均不良數(shù))(nP)u 為允許樣本不良的數(shù)量。 n為抽取樣本中的平均不良數(shù)。 為抽取樣本的不良率.⑤ 計(jì)點(diǎn)值情況下Cp值的計(jì)算:平均缺陷數(shù)= 1/K(C1+C2+C3+…Ck) K為樣本組數(shù),如抽取樣本大小為n=50的樣本20組,(即K=20)。C為每組樣本的缺陷數(shù).u =(平均缺陷數(shù))Cu為允許樣本的缺陷數(shù)。 為每組樣本的平均缺陷數(shù).:,不良率為:P=2Φ(3*Cp) 如Cp=1,將Cp值帶入公式,得P=2Φ(3),查表31Φ(3)=,則P=2**100%=%,不良率為P=1Φ(3Cpk)+ Φ[(3Cp) (1+K)]或P= 1Φ[3Cp(1K)]+ Φ[3Cp(1+K)] 例：,隨機(jī)抽樣后計(jì)算出的樣本特性值=,S=,工序能力指數(shù)Cp=,K=,CPk=,求不良率P.P=1Φ(3*)+ Φ[(3*) (1+)]=1Φ()+ Φ()=3．查表法：根據(jù)計(jì)算的Cp及K值來(lái)查表得出不良率（見下表322）.::(即ε= |Mu|).如Cp是充分的,消除偏移量.(S),就可以減小分散程度. 減小分散程度措施:① 修訂工序改進(jìn)工藝方法。修訂操作規(guī)程優(yōu)化工藝參數(shù)。補(bǔ)充增加中間工序,推廣應(yīng)用新工藝、新技術(shù). ② 改善更新與產(chǎn)品質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)要求相適應(yīng)的設(shè)備,對(duì)設(shè)備進(jìn)行周期點(diǎn)檢,按計(jì)劃維護(hù)保養(yǎng).③ 提高工具、工藝裝備的精度，對(duì)大型工藝裝備進(jìn)行周期性點(diǎn)檢，加強(qiáng)維護(hù)保養(yǎng)，以保證工裝的精度。④ 按產(chǎn)品質(zhì)量要求和設(shè)備精度要求保證環(huán)境條件。⑤ 加強(qiáng)人員培訓(xùn)，提高操作員的技術(shù)水平和質(zhì)量意識(shí)。⑥ 加強(qiáng)現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制，設(shè)置關(guān)鍵、重點(diǎn)工序的工序管理點(diǎn)，開展QC小組活動(dòng)。C．修訂標(biāo)準(zhǔn)范圍。當(dāng)確信若降低標(biāo)準(zhǔn)要求和放寬公差范圍不致影響產(chǎn)品質(zhì)量時(shí)，就頭蛇尾可以修訂不切實(shí)際的現(xiàn)有公差的要求。 常用質(zhì)量數(shù)據(jù)特性值計(jì)量值數(shù)據(jù)：可以連續(xù)取值的數(shù)據(jù)，通常使用量具、儀器進(jìn)行測(cè)量而取得的。如長(zhǎng)度、溫度、重量、時(shí)間、壓力等。計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)：不能連續(xù)取值的，只能以個(gè)數(shù)計(jì)算的數(shù)據(jù)（是不需要用量?jī)x測(cè)量就可以數(shù)出來(lái)的，它具有離散性。）如不合格數(shù)，鑄件砂眼數(shù)，氣泡數(shù)等。① 平均值：指所有數(shù)據(jù)求和之平均值。（表示數(shù)據(jù)集中位置的特征值）＝ n樣本大小 Xi第I個(gè)數(shù)據(jù)② 中位數(shù)～X：將數(shù)據(jù)從小到大的順序排列，位于中間的數(shù)叫中位數(shù)。 X() n為奇數(shù)～X=[X()+X(+1)] n為偶數(shù)③ 極差（全距）R：指最大數(shù)與最小數(shù)之差。（表示數(shù)據(jù)離散程度的特征值）R=Xmax—Xmin Xmax最大值 Xmin最小值④ 方差2 ：對(duì)所有數(shù)據(jù)的偏差平方和求其平均值。 2＝ Xi：指某個(gè)數(shù)據(jù)與平均值之間的偏差⑤ 標(biāo)準(zhǔn)差：方差開平方。（反映數(shù)據(jù)的離散程度）。 =⑥ 與關(guān)系圖 ＜1 =1 ＞1
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