質(zhì)量控制習(xí)題及答案-資料下載頁
2025-06-19 13:42本頁面
【正文】 缺點(diǎn)數(shù)推移圖。 計(jì)量值: 。AQL與AOQLAql:接受質(zhì)量限，指當(dāng)一個(gè)連續(xù)系列批被提交抽樣檢驗(yàn)時(shí)，可允許的最差過程平均質(zhì)量水平。Aql描述的不是某一批產(chǎn)品的質(zhì)量水平，而是生產(chǎn)過程的平均質(zhì)量水平的上限U控制圖與C控制圖C圖是一種計(jì)數(shù)型控制圖，它繪制的是每個(gè)樣本中的缺陷數(shù)(不符合性)。當(dāng)所有樣本具有相同的樣本量時(shí)，C圖便是一種很實(shí)用的選擇。U圖：是一種計(jì)數(shù)型控制圖，它繪制的是每個(gè)樣本中的單位平均缺陷數(shù)，即描述了樣本數(shù)變化時(shí)每個(gè)單元的缺陷數(shù)。這里要注意不合格數(shù)和缺陷數(shù)的區(qū)別，不合格品數(shù)是針對(duì)樣本本身來說的(要么合格，要么不合格)；缺陷數(shù)是針對(duì)樣本內(nèi)部的，說明樣本的符合性，而不是針對(duì)樣本本身。 質(zhì)量數(shù)據(jù)有哪幾種典型數(shù)學(xué)分布？寫出表達(dá)試。P28 闡述工序能力指數(shù)分級(jí)判斷和處置方法？p128 畫出一次抽樣檢查流程圖（用N、n、Ac、Re表示批量、樣本、合格及不合格判定數(shù)？p69 簡述產(chǎn)品失效規(guī)律，畫出失效率曲線 ？p200某產(chǎn)品的清潔度X（單位：毫克）服從正態(tài)分布N（48,122）。清潔度是望小特性（愈小愈好的特性），其規(guī)定的上規(guī)范限Tu=85毫克，求不合格品率。 （8 分）答：故在清潔度指標(biāo)上，該部件的不合格品率為968ppm，其中1ppm=10的6次方某批零件孔徑設(shè)計(jì)尺寸的上、下限分別為TU=,TL=,求該工序的工序能力指數(shù),并根據(jù)計(jì)算結(jié)果評(píng)價(jià)工序能力。P126用GB/T28282003對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行檢驗(yàn)，規(guī)定N=2000，AQL=1%,選用檢查水平(IL)為Ⅱ。查表求批產(chǎn)品正常、加嚴(yán)、放寬一次抽樣的抽樣方案（n,Ac）。P107查表已知N=3000的一批產(chǎn)品提交作外觀檢驗(yàn),若用（20，1）的抽樣方案，在不合格率P=1％的條件下，試用二項(xiàng)分布計(jì)算接收概率L(p) 解：電阻器的規(guī)范限為80177。4kΩ。已知該電阻器的阻值服從正態(tài)分布N（,）,則其低于下規(guī)范限和超過上規(guī)范限的不合格品率分別是多少? 已知產(chǎn)品批不合格率P=,利用泊松分布計(jì)算一次抽樣方案(80,1)的接收概率L(p)和平均出廠質(zhì)量AOQ值. P71 p89產(chǎn)品交驗(yàn)批量N=2000pcs，其合格質(zhì)量水平AQL=%,選用檢查水平(IL)為Ш。試求出正常、加嚴(yán)、放寬的一次抽樣方案。P107 某微電路生產(chǎn)線氧化工序?qū)︶樋兹毕萁控制圖，每批選擇5個(gè)晶片檢測(cè)針孔，下表是20批樣本的缺陷數(shù)據(jù)，計(jì)算控制限。批號(hào) 1234567891011121314151617181920缺陷1012814101611710159571112681075P59，5個(gè)部件的故障率分別為：λ1=，λ2=，λ3=，λ4=，λ5=。求（1）系統(tǒng)的可靠度函數(shù)及故障率。（2）求系統(tǒng)的MTBF答：某零件內(nèi)徑尺寸公差為Ф20＋,加工數(shù)量為100件的一批零件后,求（1）該工序的工序能力指數(shù),并根據(jù)計(jì)算結(jié)果評(píng)價(jià)工序能力.（2），標(biāo)準(zhǔn)偏差不變，求工序能力指數(shù),并根據(jù)計(jì)算結(jié)果評(píng)價(jià)工序能力.19 /
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