透射電鏡圖象解釋ppt課件-資料下載頁
2025-05-07 02:00本頁面
【正文】 原子的正常排列情況， 使的晶體中某一區(qū)域的原子偏離了原來正常位置而產(chǎn)生了畸變， 這種畸變使缺陷處晶面與電子束的 相對(duì)位相發(fā)生了改變 ，它與完整晶體比較，其滿足布拉格條件就不一樣，因而造成了有缺陷區(qū)域與無缺陷的完整區(qū)域的衍射強(qiáng)度的差異，從而產(chǎn)生了 襯度 。 根據(jù)這種襯度效應(yīng)。人們可以判斷晶體內(nèi)存在什么缺陷和相變。 缺陷矢量 R、應(yīng)變場(chǎng)襯度、第二相粒子襯度 R的數(shù)值合符號(hào)取決于缺陷的種類和性質(zhì) 對(duì)于給定缺陷， R是確定的，選用不同的 g成象同一缺陷將出現(xiàn)不同的襯度特征。 如果 g R=n， n=0,1,2,3, …… 則 ei α=1，此時(shí)缺陷襯度將消失，即在圖象中缺陷不可見。如果 g R =1/n， n≠0,1,2,3, …… 則 ei α ≠ 1，此時(shí)缺陷將顯示襯度。顯然，不同的晶體缺陷引起完整晶體畸變不同，即 R存在差異，因而相位差又不同，產(chǎn)生的衍襯象也不同。 g R=0在衍襯分析中具有重要意義，它表明缺陷雖然存在，但由于操作反射矢量 g與點(diǎn)陣位移矢量 R垂直，缺陷不能成象， 常稱 g R=0為缺陷的“不可見性判據(jù)” ，它是缺陷晶體學(xué)定量分析的重要依據(jù)和出發(fā)點(diǎn)，有很大用途，例如，可以利用它來確定位錯(cuò)的柏氏矢量 b。 位錯(cuò)線、位錯(cuò)環(huán)、位錯(cuò)釘扎、位錯(cuò)纏結(jié)、胞狀結(jié)構(gòu)。
教學(xué)課件相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1