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白盒測(cè)試之理論篇ppt課件-資料下載頁(yè)

2025-05-05 18:55本頁(yè)面
  

【正文】 而且語(yǔ)句 S定義的 X在語(yǔ)句 S′有效 ? 使用鏈的測(cè)試策略 要求每個(gè) DU鏈至少覆蓋一次 ? 可以證明 DU測(cè)試不能保證覆蓋程序的所有分支 循環(huán)測(cè)試 ? 循環(huán)測(cè)試是一種白盒測(cè)試技術(shù) , 著重于 檢查循環(huán)結(jié)構(gòu)的有效性 。 ? 有如下四種循環(huán): 簡(jiǎn)單循環(huán) 嵌套循環(huán) 串接循環(huán) 不規(guī)則循環(huán) 循環(huán)測(cè)試 ? 簡(jiǎn)單循環(huán) ? 整個(gè)跳過(guò)循環(huán) ? 只有一次通過(guò)循環(huán) ? 兩次通過(guò)循環(huán) ? m次通過(guò)循環(huán) , 其中 mn ? n1, n,n+1次通過(guò)循環(huán) ? 其中 n是允許通過(guò)循環(huán)的最大次數(shù) ? 嵌套循環(huán) ? 如果將簡(jiǎn)單循環(huán)的測(cè)試方法用于嵌套循環(huán) , 可能的測(cè)試數(shù)就會(huì)隨嵌套層數(shù)成幾何級(jí)增加 , 這會(huì)導(dǎo)致不實(shí)際的測(cè)試數(shù)目 ? 減少測(cè)試數(shù)的方法 對(duì)最內(nèi)層循環(huán)使用簡(jiǎn)單循環(huán) , 而使外層循環(huán)的循環(huán)參數(shù) ( 即循環(huán)計(jì)數(shù) ) 最小 , 并為范圍外或排除的值增加其它測(cè)試 由內(nèi)向外構(gòu)造下一個(gè)循環(huán)的測(cè)試 , 但其它的外層循環(huán)為最小值 , 并使其 它的嵌套循環(huán)為 “ 典型 ” 值繼續(xù)直到測(cè)試所有的循環(huán) 循環(huán)測(cè)試 ? 串接循環(huán) ? 如果串接循環(huán)的循環(huán)都彼此獨(dú)立 , 可是使用嵌套的策略測(cè)試 ? 如果兩個(gè)循環(huán)串接起來(lái) , 而第一個(gè)循環(huán)是第二個(gè)循環(huán)的初始值 , 則這兩個(gè)循環(huán)并不是獨(dú)立的 。 則可使用測(cè)試嵌套循環(huán)的方法進(jìn)行測(cè)試 ? 不規(guī)則循環(huán) ? 不能測(cè)試 , 盡量重新設(shè)計(jì)給結(jié)構(gòu)化的程序結(jié)構(gòu)后再進(jìn)行測(cè)試 域測(cè)試 ? 域是指程序的輸入空間 ? 輸入空間又可以劃分成若干個(gè)子空間 , 每個(gè)子空間對(duì)應(yīng)一種不同的計(jì)算 , 子空間的劃分是由分支語(yǔ)句的條件式?jīng)Q定的 ? 有時(shí)將一個(gè)域稱(chēng)為一個(gè)等介類(lèi) ? 域測(cè)試主要是針對(duì)域錯(cuò)誤進(jìn)行的測(cè)試 ? 域錯(cuò)誤 ? 如果程序的控制流有錯(cuò)誤 , 對(duì)于某些特定的正確輸入 , 可能執(zhí)行的是一條錯(cuò)誤的路徑 , 這種錯(cuò)誤稱(chēng)為域錯(cuò)誤 ? 域測(cè)試就是在分析輸入域的基礎(chǔ)上 , 選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試 ? 域測(cè)試的不足 ? 域測(cè)試對(duì)程序的限制較多 ? 當(dāng)程序中有很多的路徑時(shí) , 所需的測(cè)試點(diǎn)太多 Z路徑測(cè)試 ? 將程序中的循環(huán)次數(shù)加以限制,通常為循環(huán) 1次或 0次,這樣就將循環(huán)結(jié)構(gòu)變?yōu)榉种ЫY(jié)構(gòu),這種方法稱(chēng)為 Z路徑測(cè)試 ? Z路徑測(cè)試能有效降低被測(cè)程序的路徑數(shù) 面向?qū)ο蟮陌缀袦y(cè)試 對(duì)面向?qū)ο筌浖念?lèi)測(cè)試相當(dāng)于傳統(tǒng)軟件的單元測(cè)試。和傳統(tǒng)軟件的單元測(cè)試不同,他往往關(guān)注模塊的算法細(xì)節(jié)和模塊接口間流動(dòng)的數(shù)據(jù),面向?qū)ο筌浖念?lèi)測(cè)試是由封裝在類(lèi)中的操作和類(lèi)的狀態(tài)行為所驅(qū)動(dòng)的。 面向?qū)ο筌浖y(cè)試的特點(diǎn): ? 因?yàn)閷傩院筒僮魇潜环庋b的,對(duì)類(lèi)之外操作的測(cè)試通常是徒勞的。封裝使對(duì)對(duì)象的狀態(tài)快照難于獲得。 ? 繼承也給測(cè)試帶來(lái)了難度,即使是徹底復(fù)用的,對(duì)每個(gè)新的使用語(yǔ)境也需要重新測(cè)試。 ? 多重繼承更增加了需要測(cè)試的語(yǔ)境的數(shù)量,使測(cè)試進(jìn)一步復(fù)雜化。如果從超類(lèi)導(dǎo)出的測(cè)試用例被用于相同的問(wèn)題域,有可能對(duì)超類(lèi)導(dǎo)出的測(cè)試用例集可以用于子類(lèi)的測(cè)試,然而,如果子類(lèi)被用于完全不同的語(yǔ)境,則超類(lèi)的測(cè)試用例將沒(méi)有多大用途,必須設(shè)計(jì)新的測(cè)試用例集。 類(lèi)測(cè)試方式 ? 類(lèi)測(cè)試一般有兩種主要的方式: 功能性測(cè)試和結(jié)構(gòu)性測(cè)試,即對(duì)應(yīng)于傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)化軟件的黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試。 功能性測(cè)試以類(lèi)的規(guī)格說(shuō)明為基礎(chǔ),它主要檢查類(lèi)是否符合其規(guī)格說(shuō)明的要求。例如,對(duì)于Stack類(lèi),即檢查它的操作是否滿足 LIFO規(guī)則; 結(jié)構(gòu)性測(cè)試則從程序出發(fā),它需要考慮其中的代碼是否正確,同樣是 Stack類(lèi),就要檢查其中代碼是否動(dòng)作正確且至少執(zhí)行過(guò)一次。 總結(jié): “ 白盒測(cè)試 ” 法全面了解程序內(nèi)部邏輯結(jié)構(gòu)、對(duì)所有邏輯路徑進(jìn)行測(cè)試。 “ 白盒 ” 法是窮舉路徑測(cè)試。在使用這一方案時(shí),測(cè)試者必須檢查程序的內(nèi)部結(jié)構(gòu),從檢查程序的邏輯著手,得出測(cè)試數(shù)據(jù)。貫穿程序的獨(dú)立路徑數(shù)是天文數(shù)字。但即使每條路徑都測(cè)試了仍然可能有錯(cuò)誤。 第一、窮舉路徑測(cè)試決不能查出程序違反了設(shè)計(jì)規(guī)范,即程序本身 是個(gè)錯(cuò)誤的程序; 第二、窮舉路徑測(cè)試不可能查出程序中因遺漏路徑而出錯(cuò)。 第三、窮舉路徑測(cè)試可能發(fā)現(xiàn)不了一些與數(shù)據(jù)相關(guān)的錯(cuò)誤。 白盒測(cè)試工具 ? 人工測(cè)試發(fā)現(xiàn) 70%~ 80%,白盒測(cè)試往往需要更多的人工測(cè)試,當(dāng)然在黑盒測(cè)試階段也需要很多的人工測(cè)試。但是白盒測(cè)試需要很大的工作量,人員和時(shí)間等資源,所以最好有測(cè)試工具的支持,可以減少手工工作量。 ? JUnit適用于 Java開(kāi)發(fā)人員在單元測(cè)試階段,進(jìn)行白盒測(cè)試,是進(jìn)行回歸測(cè)試的工具,進(jìn)行單個(gè)方法實(shí)現(xiàn)功能或者類(lèi)本身的測(cè)試 ? JUnit需要測(cè)試者自己編程,編寫(xiě)的測(cè)試代碼必須滿足JUnit框架的要求。 謝謝 ?
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