【正文】 靈敏度調(diào)節(jié)的方法 ： ?（ 1）底波法； ?（ 2）試塊法。 ? 底波法 ? 優(yōu)點(diǎn)：（ 1）不需考慮耦合差； ? （ 2）不考慮材質(zhì)、距離衰減補(bǔ)償； ? （ 3）不需要試塊。 ? 條件： X≥3N 平行底面、規(guī)則圓柱曲面 。 . ?方法：計(jì)算同聲程條件下大平底與標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的平底孔反射波高度差的分貝差值，然后再調(diào)節(jié)。 ? 第一步計(jì)算： ? A、平底面 B與同距離處平底孔 ф 分貝差 ? △ =20㏒ (db) ? B、空心圓柱曲面（同距離處曲底面與 ф 的分貝差） ? △ =20㏒ 177。 10㏒ (db) ? 22fDX??22fDX??Dd?第二步調(diào)節(jié)：（數(shù)字機(jī)） ? A、探頭放在無(wú)缺陷部位； ? B、找出底面回波，調(diào)至一定波高，記下此時(shí)分貝數(shù)值，在此基礎(chǔ)上增益計(jì)算出的同距離處 Φ2 平底孔與大平底的分貝差，基準(zhǔn)靈敏度調(diào)節(jié)完畢。 ? C、增益 6dB—— 掃查靈敏度 檢出缺陷后 應(yīng)回復(fù)到基準(zhǔn)靈敏度，定量。 . ?第二步調(diào)節(jié) （模擬機(jī)） ? A、探頭放在無(wú)缺陷部位； ? B、 ‘ 衰減器 ’ 予留（△ +10dB）調(diào) ‘ 增益 ’ B1— 60%； ? C、用 ‘ 衰減器 ’ ，增益△ dB （基準(zhǔn)靈 敏度調(diào)好） ? D、用 ‘ 衰減器 ’ 增益 6dB—— 掃查靈敏度 檢出缺陷后 應(yīng)回復(fù)到基準(zhǔn)靈敏度，定量。 . ?例 1： 用 ，軸向探測(cè) ф200mm 、長(zhǎng) 500 mm的實(shí)心圓柱體鍛件，問(wèn)如何利用底波調(diào)節(jié) 500/ф2 靈敏度？ ? 解： X=500mm ? CL=5900 m/s λ=C/f=? N=D2/4λ=20 2/（ 4*） ? = ? 3N=*3= ? X＞ 3N . ? (1)計(jì)算同距離處大平底與 ф2平底孔分貝差 ?△ =20㏒ =20㏒ = dB 22fDX?? ???第二步調(diào)節(jié)：（數(shù)字機(jī)） ? A、探頭放在無(wú)缺陷部位； ? B、找出底面回波，調(diào)至一定波高，記下此時(shí)分貝數(shù)值，在此基礎(chǔ)上增益 46分貝，基準(zhǔn)靈敏度調(diào)節(jié)完畢。 ? ? (2)調(diào)節(jié)（模擬機(jī)） : ? A、探頭對(duì)準(zhǔn)完好部位 ,衰減器預(yù)留56dB. ? B、調(diào) ‘ 增益 ’ B1—— 60% ? C、用 ‘ 衰減器 ’ 增益 46dB（讀數(shù)為10 dB） ?Ф2基準(zhǔn)靈敏度調(diào)好。 . ?例 2： 用 ф1000mm, 內(nèi)徑 ф100mm 的空心圓柱體鍛件 ,外圓徑向探測(cè) ,如何調(diào)節(jié) ф2 靈敏度 ? 解 : D=1000mm d=100mm ? X=（ Dd)/2=(1000100)/2 =450 mm λ=C/f=? N=Di2/4λ=20 2/（ 4*）= ? 3N=*3= ? X＞ 3N . ? (1)計(jì)算 : 同距離處凸曲面與 ф2 平底孔分貝差 ? ? △ =20㏒ +10㏒ ? =20㏒ +10㏒ = dB ? (2)調(diào)節(jié) :A、探頭對(duì)準(zhǔn)完好部位，衰減預(yù)留 45dB； ? B、調(diào) ‘ 增益 ’ B1—— 60%； ? C、用 ‘ 衰減器 ’ 增益 35dB（讀數(shù)為10dB）， ф2 基準(zhǔn)靈敏度調(diào)好。 22fDX??Dd4 5 ???1000100. ? 試塊法 ? 優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)單、不需計(jì)算，聲程無(wú)限定（ 對(duì)大于 3N和小于 3N的鍛件都適用 ） 。 ? 缺點(diǎn)：需考慮耦合差、大量試塊、攜帶不方便。 ? 以下兩種情況應(yīng)使用試塊法調(diào)靈敏 度，不能使用底波法。 ? A、 X3N； ? B、底面粗糙、傾斜。 . ?需補(bǔ)償?shù)那闆r： ? A、表面曲率 : ? 試塊與工件不同； ? B、探測(cè)面粗糙度 : ? 試塊與工件不同； ? C、工件材質(zhì)與試塊不同。 ?要求： CSⅠ 試塊上 Φ2 平底孔聲程要等于或大于鍛件厚度。 ?耦合劑的選用： 透聲性好粘度大的耦合劑 . ?（ 1）單直探頭 ? 方法：在 CS CS2試塊上，選擇聲程與工件相同，探頭對(duì)準(zhǔn)平（ ф2），調(diào)‘ 增益 ’ 、 ‘ 衰減器 ’ ,使平底孔回波 ——60%、 80%（基準(zhǔn)波高），然后加入補(bǔ)償 dB值即可。 例 1： 用 50mm的鍛件 ,采用 CS1試塊 ,調(diào)節(jié) 50/ф2靈敏度 ,表面耦合差 3dB,如何調(diào)節(jié)探傷靈敏度 ? （不考慮工件材質(zhì)衰減） ? 解：（模擬） : 探頭對(duì)準(zhǔn) CS1試塊 ,ф2平底孔 ,距離為 13dB。調(diào) ‘ 增益 ’ ， Fф2—— 60%， ? 然后加入表面補(bǔ)償 3db(讀數(shù)為 10 dB)，即調(diào)好ф2探傷靈敏度。 ? 解：（數(shù)字機(jī)） ? 探頭對(duì)準(zhǔn) CS1試塊 ,ф2平底孔 ,距離為 ‘ 增益 ’ ， Fф2—— 60%，在增益 耦合差 3dB， 即調(diào)好 ф2探傷靈敏度。 例 2： 用 ,探測(cè)底面粗糙 ,厚度為400mm的鍛件，如何利用 100/ф4平底孔試塊調(diào)節(jié) 400/ф2靈敏度？表面耦合差為6dB。（不考慮工件材質(zhì)衰減） ? 解（ 1）首先計(jì)算出不同聲程、不同孔徑的 dB差 ? 即： 100/ф4—— 400/ф2 dB差 ?ф1=4 X1=100 ф2=2 X2=400 ?Δ=40㏒ =40㏒ =36 dB 1221XX??1 0 024 0 04??. ?（ 2）調(diào)節(jié)： ?探頭對(duì)準(zhǔn) 100/ф4平底孔，衰減器預(yù)留50dB，調(diào) “ 增益 ” 使 Fф4—— 60%。 ? 用 “ 衰減器 ” 增益 36+6dB(讀數(shù)為 8 dB)，這時(shí) 400/ф2靈敏度調(diào)好。 （ 2）雙晶直探頭 ?根據(jù)工件選擇相應(yīng)孔徑的 CSⅡ 2型平底孔試塊，依次測(cè)試直徑相同，距離不同的平底孔（至少三個(gè)）回波，使其中最高回波幅度達(dá)滿刻度 80%，不改變儀器參數(shù)，在此條件下測(cè)出其它平底孔回波最高點(diǎn)，將其標(biāo)在熒光屏上，連接些點(diǎn)成一條曲線，即為雙晶直探頭的平底孔距離 波幅曲線，以此為基準(zhǔn)靈敏度 。 五、缺陷位置和大小的測(cè)定 ?（一）缺陷位置的測(cè)定（定位） ? Xf=nτf 式中： Xf— 缺陷至探頭的距離； ? τf — 缺陷波在示波屏上的讀值； ? n— 掃描比例。 ?數(shù)字機(jī)直讀 ?平面位置，由探頭位置直接畫(huà)出，探頭中心移動(dòng)軌跡。 （ 二）缺陷大小的測(cè)定 ? ： ? ①當(dāng)量試塊直接比較法 ? 將缺陷回波高度與某平底孔試塊上聲程相同的某直徑平底孔回波比較，得出平底孔的當(dāng)量直徑值。 ? 一般用于缺陷位于 X＜ 3N區(qū)域內(nèi) ② 當(dāng)量計(jì)算法 ： ?適合于聲程 X3N遠(yuǎn)場(chǎng)的計(jì)算公式為： ? ，缺陷當(dāng)量。 ? △ Bf=20㏒ +2α （ XfXB） ? 式中： λ— 波長(zhǎng)； ? α— 材質(zhì)衰減系數(shù)； ? Xf— 平底孔缺陷至探測(cè)面的距離； ? XB— 底面至探測(cè)面的距離； ? Df— 平底孔缺陷的當(dāng)量直徑； ? △ BF— 底波與平底孔缺陷的回波分貝差。 BffXDX222??B. 空心圓柱體外圓徑向探測(cè)或內(nèi)圓徑向探測(cè)曲底面當(dāng)量 △ Bf=20㏒ 177。 10㏒ +2α（ XfXB） ? 式中： d— 空心圓柱體內(nèi)徑； ? D空心圓柱體外徑； ? “ +”— 外圓徑向探測(cè)； ? “ ”— 內(nèi)圓徑向探測(cè)； ? △ Bf— 圓柱曲底面與平底孔缺陷的分貝差。 BffXDX222??Dd. ? 例 1： 用 ,探測(cè) ф600 的實(shí)心圓柱體鍛件， α=, 利用鍛件底波調(diào)節(jié) 600/ф2 靈敏度 ,底波達(dá)基準(zhǔn)高度時(shí) ,衰減器讀數(shù)為 50dB,探傷中在 400mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷 ,缺陷波達(dá)基準(zhǔn)高度時(shí) ,衰減器讀數(shù)為 30dB,求此缺陷的當(dāng)量平底孔直徑 ? ? 解 : λ=C/f=? △ Bf=5030=20 dB α= dB/mm ? XB=600 mm ? Xf=400 mm . ?△ Bf=20㏒ +2α(XfXB) ? 20㏒ =△ Bf2α(XfXB) ? 20㏒ =202*(400600)=22 ? =1022/20 ? Df= = mm BffXDX222??BffXDX222??22????fD22????fD2????. ? 例 2: 用 1000mm，內(nèi)徑為100mm的空心圓柱體鍛件。 α=探測(cè)在 200mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷 ,其回波比內(nèi)孔回波低12dB,求此缺陷的當(dāng)量大小 ? ? 解 : λ=C/f=? d=100 mm ? D=1000 mm XB===450 mm ? △ Bf=12 dB ? Xf=200 mm α= dB/mm . ?△ Bf=20 ㏒ +10㏒ +2α（ XfXB） ? 20㏒ =△ Bf10㏒ 2α（ XfXB） ? =1210㏒ 2*(200450)= ? = ? Df= = mm BffXDX222??DdBffXDX222??Dd1000100BffXDX222?? 2????. ? C、用平底孔調(diào)節(jié)靈敏度，缺陷波回波高度與試塊平底孔的 dB差值計(jì)算缺陷當(dāng)量。 ?△ 2=40㏒ +2α（ X2X1） ?式中： ? △ 2—— 平底孔 2的 dB差 ф ф2— 平底孔 2的當(dāng)量徑； X X2— 平底孔 2的距離。 1221XX????. ?例： 用 ,探測(cè)厚 500mm的鍛件 ,ф2平底孔靈敏度 ,在 400mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷 ,其回波比靈敏度基準(zhǔn)波高 22dB,求此缺陷的當(dāng)量 ? (α=) ? ?解 : λ=C/f= X1=400 mm X2=500 mm ? Ф2=2 mm α=. ? 求不同距離、不同孔徑分貝差： ?△ 2=40㏒ +2α（ X2X1） ? 40㏒ =△ 22α（ X2X1） ? =222*(500400)=20 ? =1020/40 ?ф1= =