【導(dǎo)讀】中可能遭遇的各種情況，這類的這些測(cè)試是從性能要求測(cè)試中挑選出來(lái)的。這一類包括選自可靠性測(cè)試當(dāng)中的一些測(cè)試，以及與可靠性相關(guān)的制。造過(guò)程中的要求和成品的性能。此文檔適用于用戶或采購(gòu)人員、制造商、供應(yīng)商或單模連接器和跳線購(gòu)買者。此文檔包含的信息分成了10個(gè)部分。第五部分描述要求達(dá)到產(chǎn)品滿足節(jié)4所述標(biāo)準(zhǔn)的程度的測(cè)試程序和設(shè)施。保持和GR-326-CORE第二版的延續(xù)性。參考提供對(duì)Telcordia和外部文檔資源的引用。ROI索引索引給出所有要求和目標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)的頁(yè)碼。言，該特征或功能是必要的。不符合該需求會(huì)造成產(chǎn)品在應(yīng)用上的限制，導(dǎo)致不。當(dāng)?shù)墓δ芑虿僮鞯姆恋K。假如客戶指定，就該被視同必要需求。在文中以大寫(xiě)英文字母“CR”表示。須與通訊運(yùn)用的光纖線需求兼容。

　　

【正文】 次清潔動(dòng)作。 O443 [56] 耐久性目標(biāo) 在執(zhí)行全部 200 次插拔后，產(chǎn)品必須符合表 42 與 43 中標(biāo)示“ 測(cè)試中，不加負(fù)荷”該行所列之插入損失與反射比目 標(biāo)之準(zhǔn)則， 其中每次連接最多可以執(zhí)行二次清潔動(dòng)作。 【 原理闡述 】 耐久性準(zhǔn)則主要針對(duì)產(chǎn)品的磨損。假如在 200 次插拔后產(chǎn)品性能依然良好，則此產(chǎn)品是耐用的，即使需要許多次清潔以得到良好的性能。 O444 [57] 可清潔性目標(biāo) 假如連接器在 200 次插拔后不符，藉由后續(xù)一次或二次雙面的清潔達(dá)到符 合，對(duì)準(zhǔn)則而言是不符的。 【 原理闡述 】 假如一個(gè)產(chǎn)品是容易清潔的， 那么 200 次插拔后的清潔應(yīng)該能使旋光性能符合規(guī)格，即使有碎屑產(chǎn)生。假如需要清潔許多次，表示第一次的清潔不是完全有效，如此可清 潔準(zhǔn)則是不符的。 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) 結(jié)束 表 61 中包含的所有測(cè)試都完成后，一下標(biāo)準(zhǔn)使用： R445 [58] 光學(xué)要求：應(yīng)當(dāng)滿足表 4 43 中“測(cè)試后”行中的標(biāo)準(zhǔn)。 O446 [59] 光學(xué)目標(biāo)：期望滿足表 4 43 中“測(cè)試后”行中的標(biāo)準(zhǔn)。 R447 [60] 插芯端面幾何形狀：應(yīng)滿足 中的標(biāo)準(zhǔn)。 R448 [61] 損傷：測(cè)試結(jié)束后連接頭和適配器都應(yīng)滿足 4.. 中的要求。 【 原理闡述 】 連接器暴露在嚴(yán)苛的環(huán)境下其性能的改變時(shí)常是 因?yàn)樘兹Χ嗣鎺缀蔚母淖儭? 光纖的凹洞或腐蝕或是其它的損害。 材料和環(huán)境測(cè)試 塵埃測(cè)試 a． 從樣品＃ 1～ 5中分離一個(gè)插頭，留下剩余的插頭作為放水裝置，即連接在適配器上。清洗所有的連接器插頭和放水裝置。 b． 重新連接 10 個(gè)連接器組件，并測(cè)量損失和反射比。 c． 對(duì)步驟“ g”和“ h”，重復(fù)另外 2次。仍然留在適配器中的插頭可以用罐裝空氣、酒精和棉簽來(lái)清洗。一般要從每一個(gè)連接器組裝件中移除同一個(gè)插頭。 d． 從適配器中分開(kāi)所有的插頭，用分別對(duì)于插頭和適配器來(lái)說(shuō)合適的流程來(lái)徹底的清洗。 e． 象前面一樣再次連接所 有的插頭和適配器，對(duì)所有 10 個(gè)連接器組件測(cè)量其損失和反射比。 f． 對(duì)步驟“ j”和“ k”，重復(fù)另外 2次。 組 A 和組 B 中的產(chǎn)品經(jīng)過(guò)最后一次清洗后，應(yīng)滿足表 “負(fù)載測(cè)試” 行中列出的損失和反射比 要求 標(biāo)準(zhǔn)。 粒子尺寸 181。m 重量百分比 成分 重量百分比 0－ 5 39 SiO2 65— 75 5－ 10 18 Al2O3 11— 17 10－ 20 16 Fe2O3 — 20－ 40 18 Na2O 2— 4 40－ 80 9 CaO 2— 5 MgO 1— 2 TiO — 粘結(jié)力測(cè)試 用一個(gè)無(wú)孔的陶瓷毛坯（尺寸和公差要求見(jiàn) ）替換掉連接中的一個(gè)連接頭與另一個(gè)連接頭對(duì)接，毛坯上施加 2 磅（ ）的負(fù)荷。樣本總體要求 5 個(gè)全新的連接頭，測(cè)試前檢測(cè)端面幾何參數(shù)，在溫度 65 度，濕度不控制的環(huán)境中測(cè)試 7 天。之后其端面幾何參數(shù)仍能滿足 和 的標(biāo)準(zhǔn)。 如果做過(guò)高溫老化測(cè)試，那么作黏著性測(cè)試可以減少到 24小時(shí) 。 空氣污染 樣品分兩組。 A 組，在測(cè)試中兩個(gè)連接器插頭將要連接起來(lái)， B 組，將有一個(gè)連接器插頭沒(méi)有連接起來(lái)。插 頭都要包起來(lái)。 測(cè)試過(guò)程如下： g． 清洗接頭和適配器，組裝連接器的組件。 h． 測(cè)量損耗和反射比。 i． 從樣品 6~10 中拆下每一個(gè)樣品的一個(gè)接頭，并套上相應(yīng)的插頭和適配器 j． 讓所有的樣品進(jìn)行空氣污染物測(cè)試 k． 把樣品從實(shí)驗(yàn)室中移除，不要分開(kāi)任何插頭和移除任何灰塵帽，清洗連接器組件暴露的表面和暴露在空氣污染物中光纜部分?？梢酝ㄟ^(guò)刷，擦（用一條干和 /或濕的抹布），和用罐裝壓縮空氣吹來(lái)做完清洗工作。 l． 只對(duì)于暴露于污染物中的樣品，即樣品＃ 1～ 5，測(cè)量損失和反射比。 m． 從樣品＃ 1～ 5中分離一個(gè)插頭（插頭 a）。留下剩余的插頭（插頭 b）作為 放水裝置 (bulkhead configration)，即，連接在適配器上。清洗所有的連接器插頭和放水裝置 n． 重新連接 10 個(gè)連接器組件，并測(cè)量損失和反射比。 o． 對(duì)步驟“ g”和“ h”，重復(fù)另外 2次。仍然留在適配器中的插頭可以用罐裝空氣、酒精和棉簽來(lái)清洗。一般要從每一個(gè)連接器組裝件中移除同一個(gè)插頭。 p． 直接檢查（目視）插頭和連接器的金屬部分，看是否有腐蝕跡象，不用放大。 q． 用 18 倍的放大鏡檢查插頭和連接器的金屬部分，看是否有腐蝕跡象，不用放大。 產(chǎn)品應(yīng)該滿足“無(wú)負(fù)載測(cè)試” 中列出的損失和反射比要求標(biāo)準(zhǔn)。 空氣污染物測(cè) 試用氣體 持續(xù)事件 （天） 氣體濃度 (ppb) CI2 H2S NO2 SO2 20 20 100 200 200 鹽霧 表 412 鹽霧測(cè)試的操作參數(shù) 測(cè)試步驟如下： a、 清潔接頭和適配器并裝好連接器。 b、測(cè)量損耗和反射。 c、 從 6?！?10＃的樣品中各拆下一個(gè)接頭（接頭 a） ，將各接頭和適配器戴上防塵帽（見(jiàn)圖 59B） 。 d、將所有樣品按下圖 進(jìn)行分組并按 GR326CORE 節(jié)要求進(jìn)行鹽霧測(cè)試。 圖 59 鹽霧測(cè)試樣品 分組 e、 從鹽霧箱中取出樣品，不用拆開(kāi)任何接頭或取下任何的防塵帽，將連接頭和暴露在鹽霧中的那段光纜的表面清潔干凈。清潔可以用刷子、擦除（用干的或者濕的布）和用罐裝壓縮空氣吹干凈。 f、 只測(cè)量那些在鹽霧測(cè)試中保持對(duì)接的樣品（ 1?！?5＃）的損耗和反射。 g、從樣品 1＃～ 5＃中各拆開(kāi)一個(gè)接頭（接頭 a） ，余下的接頭（接頭 b）作為一個(gè)一體結(jié)構(gòu)，如，仍然連接在適配器上。清潔所有已拆下的接頭和一體結(jié)構(gòu)（見(jiàn)圖 59B） 。 h、再次連接并測(cè)量全部 10 各 連接器的損耗和反射。 i、 再重復(fù)步驟“ g”和“ h”兩次，與適配器一直連接的接頭的清潔可以用罐裝空氣、酒精和棉簽。拆開(kāi)時(shí)總是拆各連接組成固定一邊的接頭。 j、 從適配器中拆除所有接頭，按程序?qū)m配器和接頭各自進(jìn)行徹底的清潔。 k、按前樣子重新連接全部連接頭和適配器，測(cè)量此 10 個(gè)連接組成的損耗和反射。 l、 再重復(fù)步驟“ j”和“ k”兩次。 m、 接頭和適配器的金屬部分要進(jìn)行不放大的目視檢測(cè)，以查看是否有腐蝕。 n、接頭和適配器的金屬部分要進(jìn)行 18X 的放大目視檢測(cè)，以查看是否有腐蝕。 浸沒(méi) /腐蝕測(cè)試 5個(gè)成對(duì)的連接 器組件（ 10 個(gè)插頭）和 5 個(gè)不成對(duì)的插頭浸沒(méi)在 250 毫升 850C除去離子的或蒸餾的水中 2個(gè)星期 。 地下水浸沒(méi) 在溫度為 22177。 2℃（ 72177。 40F）中浸泡 7天。在浸泡時(shí)測(cè)量損失和反射比， 24 小時(shí)后測(cè)試一次，在 7 天測(cè)試周期的末再測(cè)一次，這時(shí)候連接器仍然浸泡在溶液中。 1） 有機(jī)物溶液 連接應(yīng)該浸在溶液中進(jìn)行。 2） 清潔劑 一種合適的浸泡溶液應(yīng)該是在自來(lái)水中含有 1%的 LAS（重量比） 3） 氯水 采用 1升的蒸餾水加入 10 毫升的洗衣的漂白粉。這種溶液應(yīng)該每 4 天補(bǔ)充 1次。 4） 燃料 60%的庚烷， 20%的甲苯， 20%的乙醇（ 按體積比 5） 5） 氨水 測(cè)試需要浸泡在 10%的氨水中。這個(gè)濃度是為了反映氨在水中的很高的溶解性。 . 幾何要求 . 無(wú)角度實(shí)體接觸連接器之套圈端面幾何 如圖 46 所示，連接器之套圈端面幾何參數(shù)有三種。套圈端面曲率半徑是靠近光纖附近的局部值，光纖內(nèi)縮或突出量是光纖相對(duì)于曲率半徑定義的球面頂點(diǎn)的距離，球頂偏移量是光軸中心 (光纖核心 )到套圈球頂?shù)木嚯x。 要保持對(duì)接的連接器實(shí)體接觸光纖內(nèi)縮量 (x)和突出量 (y)必須保持在必要需求限定的范圍內(nèi)。較大的內(nèi)縮量會(huì)阻礙實(shí)體接觸，特別是在高溫 時(shí)。較大的突出量會(huì)導(dǎo)致連接器對(duì)接時(shí)推擠的問(wèn)題。 端面幾何必要需求是以假設(shè)套圈材料為氧化鋯 (楊氏系數(shù)大約 15000kgf/mm2) ，或是物理性質(zhì)相似的材料，當(dāng)作前提，假如使用其它性質(zhì)的材料則必要需求可能不同。 R467 [80] 光纖內(nèi)縮量與突出量 如圖 46 所示光纖內(nèi)縮量 (x)必須符合 IEC6087414n 的要求，其中 n 是指任何一種適用的 (單模，單芯，實(shí)體接觸 )，已經(jīng)公布的， IEC6087414n已有詳細(xì)規(guī)格的連接器。在這些詳細(xì)的規(guī)格中，套圈曲率半徑需在 10mm 到 25mm 之間。也就是說(shuō)，光纖內(nèi)縮量 (單位是 nm)不能大于 ++325，這里 R是曲率半徑，單位是 mm。當(dāng)曲率半徑在 7mm 到 10mm 之間時(shí)，光纖內(nèi)縮量不能大于 125nm。參考圖 47。 如圖 46 所示，對(duì)于所有的曲率半徑而言光纖突出量必須小于 50nm。 附注 量測(cè)光纖端面位置的設(shè)備有可能以 +/來(lái)定義突出量 /內(nèi)縮量，為了避免混淆，設(shè)備習(xí)慣使用的符號(hào)定義必須被指定，同時(shí)光纖位置應(yīng)該以突出量或內(nèi)縮量來(lái)紀(jì)錄 。 R468 [81] 套圈端面半徑 套圈曲率半徑必須在 7mm 到 25mm 之間。 R469 [82] 球頂偏移量 套圈球頂偏移量必須小于 50um。 圖 46 插筒端面幾何 圖 47 當(dāng)曲率半徑在 7mm 到 10mm 之間時(shí)，光纖內(nèi)縮量最大值 . 有角度實(shí)體接觸連接器之套圈端面幾何 R470 [222] 有角度實(shí)體接觸連接器之套圈端面幾何參數(shù)必須符合 IEC60874146 中對(duì) 9176。不可調(diào)連接器，以及 IEC60874147 中對(duì) 9176。可調(diào)連接器的要求 IEC 在 60874146(9176。不可調(diào) )與 60874147(9176?？烧{(diào) )中定義的SC/APC 連接器端面幾何參數(shù) 如下所述： ● 曲率半徑在 5mm 到 12mm 之間。 ● 球頂偏移量小于 50um。 ● 最大光纖內(nèi)縮量 (x)與突出量 (y)小于 100nm。參考圖 46。 此處”球頂偏移量”是定義為套圈中心到球型端面相對(duì)于角度參考平面之頂點(diǎn)的距離。 當(dāng)套圈在袖管中順時(shí)針與反時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí)，這尺寸會(huì)在二個(gè)位置被量測(cè)到。 球頂偏移量與角度誤差的關(guān)系可由下列公式定義： 球頂偏移量 =Rsinα 其中 R是曲率半徑，α 是如圖 48所示的角度誤差 圖 48 APC 連接器的球頂偏移量 . 測(cè)量區(qū)域之端面幾何 R471 [223] 端面幾何測(cè)量區(qū)域應(yīng)該符合 IEC61300323 中對(duì)測(cè)量曲率半徑與光纖內(nèi)縮量 /突出量的要求 IEC 測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)在的版本定義測(cè)量區(qū)域如圖 49所示，其中 “ D”等于 250um，” E”等于 140um，以及“ F”等于 50um。在 D與 E 之間的環(huán)狀區(qū)域是測(cè)量曲率半徑的適當(dāng)區(qū)域。在 E與 F 之間的環(huán)狀區(qū)域，正好在套圈與光纖的交界處，任何測(cè)量都應(yīng)避開(kāi)該區(qū)域。最后， F 內(nèi)的平均區(qū)域在光纖中心，通常用來(lái)測(cè)量 光纖位置。 【 原理闡述 】的比較， 以及當(dāng)作 必要需求的參考。 IEC 規(guī)定的數(shù)字被引用是因?yàn)檫@是唯一被廣泛接受的標(biāo)準(zhǔn)。然而光纖平均區(qū)域希望能小一點(diǎn) (約 10um)，以便增加測(cè)量的精準(zhǔn)度，同時(shí)這也是較佳的測(cè)量區(qū)域大小。有人懷疑在較小區(qū)域測(cè)量的可重復(fù)性， 因?yàn)橛脕?lái)平均的數(shù)據(jù)較少。 然而， 借著限定在 50um 的區(qū)域，在該限定的區(qū)域中取 10um 的區(qū)域取樣平均，可以得到更精準(zhǔn)，也可重復(fù)的測(cè)量值。強(qiáng)烈建議 訂定標(biāo)準(zhǔn)的團(tuán)體考慮采用更精準(zhǔn)的測(cè)量方法。 圖 49 連 接器端面幾何測(cè)量區(qū)域 圖 410 連接器的安裝測(cè)試 一個(gè)連接器應(yīng)該可以在如圖 410 所繪之空間受限制的機(jī)箱內(nèi)操作，未來(lái)則希望可以達(dá)到符合 135176。拉力傳輸試驗(yàn)特定情況需求。 試驗(yàn)程序： 1. 將轉(zhuǎn)接器固定在垂直平面上，如圖 410 所示。假如有超過(guò)一種的方法可以固定轉(zhuǎn)接器，則應(yīng)使用連接器的端面到嵌板之距離為最大的方法。 2. 插入一連接器，整理連著連接器的光纜使其有一公尺的長(zhǎng)度懸空由連接器尾 套支撐。 3. 用 1550nm 的光源測(cè)量插入損失。 4. 將一平板平行靠近連接器固定平面一固定 距離，如圖 410 所示。 x=70mm () 【 原理闡述 】 5. 用 1550nm 的光源測(cè)量插入損失。 R472 [224] 插入損失差異必要需求 在步驟 3 與步驟 5 之間的插入損失差異，應(yīng)該小于 。有直角尾套的產(chǎn)品則不能有插入損失增加。 【 原理闡述 】 增加到 其插入損失必要需求是需要的。直角尾套的產(chǎn)品在此試驗(yàn)中則不應(yīng)該有插入損失差異。 O473 [83] 插入損失差異目標(biāo) 在步驟 3 與步驟 5 之間的插入損失差異，應(yīng)該小于 。 CR474 [225] 直