【正文】 能力 只用制程的群內(nèi)變動評價執(zhí)行能力的指數(shù)。即意味著 Cp改善可能最大限度是 。 Capability Analysis(Normal) 168 ? 實際制程能力 指數(shù) Pp ? 考慮 偏移 的 實際制程能力 指數(shù) Ppk 實際制程能力 根據(jù)所有 DATA的變動值評價 制程 能力的指數(shù) Capability Analysis(Normal) 169 現(xiàn)在執(zhí)行能力 用 ppm表示實際 抽樣的 DATA偏離規(guī)格的程度。 Capability Analysis(Normal) 170 潛在的預(yù)想執(zhí)行能力 只考慮制程的群內(nèi)變動顯示正態(tài)分布時，數(shù)據(jù)表現(xiàn)為 偏離規(guī)格的預(yù)想 ppm Capability Analysis(Normal) 171 實際預(yù)想完成能力 對所有 DATA的變動值來顯示正態(tài)分布時， DATA表現(xiàn)偏離規(guī)格的預(yù)測 ppm 因制程平均以規(guī)格中心為基準(zhǔn)往 LSL方向傾斜，所以需要與制程變動的 減少一起 能與規(guī)格中心一致的制程平均的移動。 Capability Analysis(Normal) 172 1 91 71 51 31 1975316 0 0 . 05 9 9 . 55 9 9 . 0樣本均值__X = 5 9 9 . 5 4 8U C L = 6 0 0 . 3 2 1L C L = 5 9 8 . 7 7 51 91 71 51 31 1975313 . 01 . 50 . 0樣本極差_R = 1 . 3 4 1U C L = 2 . 8 3 5L C L = 02 01 51 056 0 1 . 56 0 0 . 05 9 8 . 5樣 本值6 0 1 . 5 06 0 0 . 7 56 0 0 . 0 05 9 9 . 2 55 9 8 . 5 05 9 7 . 7 5L S L U S LL S L 5 9 8U S L 6 0 2規(guī) 格6 0 26 0 05 9 8組 內(nèi)整 體規(guī) 格標(biāo) 準(zhǔn) 差 0 . 5 7 6 4 2 9C p 1 . 1 6C p k 0 . 9組 內(nèi)標(biāo) 準(zhǔn) 差 0 . 6 1 9 2 9 9P p 1 . 0 8P p k 0 . 8 3C p m *整 體C 1 的 P r o c e s s C a p a b i l i t y S i x p a c kX b a r 控 制 圖R 控 制 圖最 后 2 0 個 子 組能 力 直 方 圖正 態(tài) 概 率 圖A D : 0 . 8 4 4 ， P : 0 . 0 2 9能 力 圖173 附 : MINITAB上的工程能力分析 Q 1. 在旁邊的結(jié)果中 Cpk值與 ppk值為什么相同 ? Q 2. Cpk和 Cpl , Cpu的各個 含義是什么？ Q 3. 如果 Cpk 是負數(shù)的話 , 這意味著什么 ? Q 4. Cpk =0 這意味著什么 ? Q 5. Cp和 Cpk之中 哪個指數(shù)更有用 ? 3 53 02 52 01 51 0L S L U S LL S L 2 0T a r g e t *U S L 3 0S a m p l e M e a n 2 2 . 9S a m p l e N 4 0S t D e v ( W i t h i n ) 6 . 6 7 2 2 3S t D e v ( O v e r a l l ) 6 . 8 4 9 2 9P r o c e s s D a t aC p 0 . 2 5C P L 0 . 1 4C P U 0 . 3 5C p k 0 . 1 4P p 0 . 2 4P P L 0 . 1 4P P U 0 . 3 5P p k 0 . 1 4C p m *O v e r a l l C a p a b i l i t yP o t e n t i a l ( W i t h i n ) C a p a b i l i t yP P M L S L 3 7 5 0 0 0 . 0 0P P M U S L 2 0 0 0 0 0 . 0 0P P M T o t a l 5 7 5 0 0 0 . 0 0O b s e r v e d P e r f o r m a n c eP P M L S L 3 3 1 9 1 2 . 9 6P P M U S L 1 4 3 6 3 9 . 1 4P P M T o t a l 4 7 5 5 5 2 . 1 0E x p . W i t h i n P e r f o r m a n c eP P M L S L 3 3 6 0 0 1 . 2 3P P M U S L 1 4 9 9 6 0 . 3 9P P M T o t a l 4 8 5 9 6 1 . 6 3E x p . O v e r a l l P e r f o r m a n c eW i t h i nO v e r a l lP r o c e s s C a p a b i l i t y o f T o r q u e174 ? 假設(shè)前面所提到的例題的 Spec(Spec : 25 +/ 5)是相同但是其 Data是經(jīng)過長時間的 Data時我們要考慮異常原因 這時用 ???來反映工程能力是比較合理 . ? Minitab Menu : Stat / Quality Tools / Capability Analysis(Normal) ? 注意 Subgroup Size ??? Subgroup Number ??? Lot1 Lot2 Lot3 Lot4 Lot5 24 21 28 16 18 14 27 32 17 30 18 24 24 22 21 27 21 16 34 16 17 24 22 20 14 32 26 37 19 15 31 31 36 16 14 27 34 21 16 14 3 53 02 52 01 51 0L S L U S LL S L 2 0T a r g e t *U S L 3 0S a m p l e M e a n 2 2 . 9S a m p l e N 4 0S t D e v ( W i t h i n ) 6 . 2 1 5 6S t D e v ( O v e r a l l ) 6 . 8 4 9 2 9P r o c e s s D a t aC p 0 . 2 7C P L 0 . 1 6C P U 0 . 3 8C p k 0 . 1 6P p 0 . 2 4P P L 0 . 1 4P P U 0 . 3 5P p k 0 . 1 4C p m *O v e r a l l C a p a b i l i t yP o t e n t i a l ( W i t h i n ) C a p a b i l i t yP P M L S L 3 7 5 0 0 0 . 0 0P P M U S L 2 0 0 0 0 0 . 0 0P P M T o t a l 5 7 5 0 0 0 . 0 0O b s e r v e d P e r f o r m a n c eP P M L S L 3 2 0 4 0 4 . 3 7P P M U S L 1 2 6 6 6 7 . 1 6P P M T o t a l 4 4 7 0 7 1 . 5 4E x p . W i t h i n P e r f o r m a n c eP P M L S L 3 3 6 0 0 1 . 2 3P P M U S L 1 4 9 9 6 0 . 3 9P P M T o t a l 4 8 5 9 6 1 . 6 3E x p . O v e r a l l P e r f o r m a n c eW i t h i nO v e r a l lP r o c e s s C a p a b i l i t y o f C 2Case study 175 SQC ? SPC 176 控制點設(shè)哪？ PROCESS 原料 人 機 法 環(huán) 測量 測量 結(jié)果 好 不好 177 過程控制 Ys的現(xiàn)在能力是多少 , 對 Ys有影響的 Process輸入要素 Xs里有什么？ Process N1 N3 N2 雜音變量 (Noise) (不可控制的輸入變量 U) C2 C1 C3 可控制的 LSL USL 設(shè)定初期制程能力分析 品質(zhì)特性 : 輸出變量 Y1, Y2 等 X1 X2 X3 輸入變量 常數(shù) (Constants) 178 SPC之精神 制程參數(shù)的確是 SPC的焦點，但是我們應(yīng)深入探究 ── ?為什么挑出這些制程參數(shù)？ ?這些制程參數(shù)的控制條件是如何決定的？ ?這些制程參數(shù)與成品品質(zhì)間有因果關(guān)系可循嗎？ PROCESS 原料 測 量 結(jié) 果 針對產(chǎn) 品所做的仍只是在做 SQC 針對過 程的重要控制參數(shù) 所做的才是 SPC 參數(shù)設(shè)計 參數(shù)驗證 179 180 Dell Quality Improve 10 steps 181 1 Characterize Process 描述制程特性 The entire manufacturing process has been mapped and all tests and inspection operations identified. Map is version controlled and is accurate. 全部的制造過程已被圖文化，明確所有的測試及檢查工作。此過程圖版本受控并準(zhǔn)確。 2 Conduct Productivity Analysis 實施生產(chǎn)能力分析 Supplier has developed the Productivity Analysis matrix and is collecting and reporting Throughput Yields, RolledThroughput Yields and Normalized Yields. 供應(yīng)商已經(jīng)展開了生產(chǎn)能力分析的矩陣并在收集和報告生產(chǎn)合格率， 直通率 和 標(biāo)準(zhǔn)化產(chǎn)出 率。 3 Implement SPC for Attribute Data 實施計數(shù)型數(shù)據(jù)的統(tǒng)計制程控制 Supplier is charting throughput yields with a P chart. Each data point represents daily fraction nonconforming. 供應(yīng)商在使用 P圖繪制生產(chǎn)合格率的圖表。每個數(shù)據(jù)點表示每天的不合格部分。 4 Implement SPC for defects from yield failures 實施來自不良率的缺點的統(tǒng)計制程控制 Supplier has developed C or U charts and established a Pareto of defect categories. This Pareto is updated on a regular basis. 供應(yīng)商已經(jīng)展開 C圖或 U圖并建立缺陷種類的柏拉圖。這個柏拉圖定期被更新。 5 Cause and Effect Analysis 原因及后果分析 Conducts cause and effect analysis of major defect categories (Process, Material, Design, Environment, Human Factors and Measurement). Conducts Failure Analysis and FMEA to find root causes. 實施主要缺陷種類（過程、材料、設(shè)計、環(huán)境、人和測量的因素）的原因及后果分析。進行失效分析和潛在失效原因和后果分析來尋找根本原因。 182 6 Identify Critical Parameters 識別關(guān)鍵參數(shù) Based on Cause and Effect Analysis and inputs from Engineering department, critical processes and parameters are identified and listed with specification limits for variables. 根據(jù)原因和后果分析和工程部的輸入，關(guān)鍵過程和參數(shù)被確認并列出變量的規(guī)格界限。