單晶x射線衍射實驗-資料下載頁
2025-04-17 00:03本頁面
【正文】 。 XLS程序主要用于對已有粗結果的數據進行還原及最小二乘修正，用計算的數據Fc與觀察的數據Fo作比較，兩者愈接近則表示修正得愈好，R因子會下降。 XP程序用于檢查XS和XL程序計算結果的圖像界面，并通過proj指令觀看結構模型的立體結構，pick指令刪除或命名原子，info指令列出原子和殘峰的位置和強度，bang指令計算并顯示指定的鍵長鍵角，pack指令觀看堆積結構等。2. 晶體結構解析的步驟3. 結構解析流程：六、晶體結構和晶體學參數分析1. 晶體學參數1）單晶結構分析結果主要由以下參數表達：晶胞參數、原子坐標參數、鍵長和鍵角、電子密度和結構振幅等。其中，晶胞參數、原子坐標參數、鍵長和鍵角等數據的準確度，通常采用最大可能的偏差值表示。結構振幅的計算值和實驗值的偏差，常用偏差因子R表示，R的數值小，表示結構的準確度高，正確的結構模型，經過精細修正。（Fo為實測的各面網的結構因子，Fc為對應結構因子的計算值）2）精修質量好壞的另一個指標是“擬合優(yōu)度”（S）：S 值也稱為GOOF值S = [(ΣwΔ2)/(m n)]1/2，m為衍射點數目，n為參加精修的參量數目。如果權重方案合適，結構正確，S值接近于1。3. 在數據解析完成后，（iucr），checkcif檢查有誤錯誤。 網址：七、晶體結構表達1. 某化合物得到的晶體結構圖 圖5 化合物的分子結構圖 圖6 化合物分子的結構堆積圖2. 鍵長、鍵角、晶胞參數等晶體學參數表達某化合物得到的晶體學數據表
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