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tft基本架構(gòu)與測試原理-資料下載頁

2025-02-21 13:20本頁面
  

【正文】 : 1G *1D*1C, 2G *2D*1C, 2G *3D*1C…… 深圳市宇順電子股份有限公司 第 28頁 共 31頁 CELL測試模式 — nG *nD*nC波形說明 三、 TFT在 CELL段的測試 Com信號 Data信號 Gate信號 1G *1D*1C波形驅(qū)動下只有灰皆畫面。 2G *2D*1C波形驅(qū)動下只有灰皆畫面,但可出現(xiàn)水平和垂直的奇偶畫面,對于特定不良檢測有效。 2G *3D*1C波形驅(qū)動下有灰皆畫面,還可以出現(xiàn) R, G, B等單色畫面,對于特定不良檢測有效。 深圳市宇順電子股份有限公司 第 29頁 共 31頁 亮點(diǎn)的檢測 三、 TFT在 CELL段的測試 亮點(diǎn)形成機(jī)理:異常像素 TFT與 CF間電壓差比周圍像素低。至于導(dǎo)致電壓低的原因很多,最常見的有上下 ITO短路,TFT與 COM短路, TFT結(jié)構(gòu)異常(電阻過大,漏電等)。 亮點(diǎn)的檢測方法: /灰畫面(不同程度的灰皆畫面)。 。 。 深圳市宇順電子股份有限公司 第 30頁 共 31頁 線缺陷的檢測 三、 TFT在 CELL段的測試 線缺陷形成機(jī)理:異常線路的電壓信號無法正常輸入至顯示區(qū)。原因最常見的有 Data或者Gate線路刮傷導(dǎo)致斷路。 Data或者 Gate之間短路。 Data或者 Gate 線路橋接處異常(電阻過大,漏電等)。 線缺陷的檢測方法: /灰畫面(不同程度的灰皆畫面)。 。 深圳市宇順電子股份有限公司 第 31頁 共 31頁 THE END! 謝謝!
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