哈工大近代光學實驗報告-資料下載頁
2025-01-17 12:17本頁面
【正文】 的干涉條紋則是一系列等溫線，它反映了溫度場的分布。像面全息雙曝光法是將像面全息的記錄方式和雙曝光的干涉方法結合起來的一種全息方法。對于漫射體的測量，反射光太弱，若以此作為物光波，很難滿足干涉中物光強度和參考光強相差不大的條件，即使通過衰減參考光使其滿足，也會嚴重影響干涉圖的對比度和分辨率。采用像面全息可以增強物光波，滿足干涉光束的強度要求，從而提高全息圖的對比度。雙曝光法通過對比初始物光波面和變化后的物光波面，觀察二者之間的干涉條紋分布，測量物光波的變化。因此將像面全息的記錄方式和雙曝光的干涉方法結合起來，可以測量漫射體形變、位移、溫度場的分布圖5 雙曝光法測量溫度場5） 雙曝光法在無損檢測中的應用高壓合成絕緣子是電力工業(yè)上的一種重要的基礎元件，其制造水平對電力工業(yè)的發(fā)展有著非常重要的影響。由于其內部缺陷在外表很難看得出來，其硬度較低，粘合好后為細長件，剛性很差，對其進行在線檢測一直是該行業(yè)面臨的一道難題。尋找一套切實可行的檢測方法，提供一種實用的檢測設備，是高壓合成絕緣子生產上的迫切需要。 由于試件在變形前后的兩次曝光中，光路系統(tǒng)不變，兩次曝光物光的光程差主要是由試件的變形所引起。因此，全息干涉法具有全場非接觸測量和高靈敏度的優(yōu)點，可以有效地用于無損檢測。高壓合成絕緣子在檢測時，苦能給予適當加載，有內部缺陷的表面會呈現不均勻的變形。用全息干涉法測量表面位移場便可方便地揭示出其內部缺陷。[3]3 結論全息干涉技術在應力分析、位移與振動沖擊的測量，溫度、流量、表面粗糙度的測量以及工業(yè)無損檢測等方面有著廣泛的應用，其重要特點是非接觸、全場測量、高的測量精度等。[1] 李田澤 二次曝光全息干涉技術及其應用 微細加工技術 1997 [2] 郭昕 用于微小位移測量的雙曝光全息干涉計量 2005[3] 林功順 激光全息干涉技術在無損檢測中的應用 鄭州工業(yè)高專學報 [4] 王健 高文斌 二次曝光全息干涉計量技術研究應力場 杭州大學電子科技大學學報
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