哈工大近代光學(xué)實(shí)驗(yàn)報(bào)告(已修改)
2025-01-29 12:17 本頁面
【正文】 《近代光學(xué)創(chuàng)新實(shí)驗(yàn)》雙曝光全息照相技術(shù)介紹院 （系） 航天學(xué)院 專 業(yè) 光學(xué)工程學(xué) 生 許禎瑜 學(xué) 號 1132130123 班 號 21301 2013年6月雙曝光全息照相技術(shù)介紹摘要：雙曝光全息照相技術(shù)是指在拍攝靜態(tài)全息圖曝光過程中，如果拍攝物產(chǎn)生了微小位移（或微小形變），則這張全息圖再現(xiàn)時(shí)在像的表面上就會產(chǎn)生若干條黑條紋，從而可以根據(jù)全息圖片再現(xiàn)的物象條紋完成對拍攝物體表面，諸如形變、位移、振動等多種物理量的研究和測量工作。通過最近幾年的發(fā)展，全息干涉測量法已經(jīng)在無損檢測、微小位移或振動的監(jiān)測等領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用，成為全息照相技術(shù)的一個(gè)重要分支。關(guān)鍵詞：激光全息干涉技術(shù)；雙爆光；測量0 引言 雙曝光法即在全息光路布局中，用一張全息底片分別對變形前后的物體進(jìn)行兩次全息照相。這時(shí)，物體在變形前后的兩個(gè)光波波陣面相互重疊，固定在一張全息圖中。如全息圖用拍攝時(shí)的參考光照明，再現(xiàn)的干涉條紋圖即表征物體在兩次曝光之間的變形或位移。雙曝光全息干涉法是簡單易行的常用方法，可獲得高反差的干涉條紋圖。 自激光全息術(shù)發(fā)明以來，激光全息技術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域和范圍不斷拓展，對相關(guān)技術(shù)和行業(yè)的影響越來越大，尤其是近年來隨著激光全息技術(shù)與其它學(xué)科技術(shù)的綜合運(yùn)用，激光全息技術(shù)更展現(xiàn)了它的巨大應(yīng)用前景。全息干涉測量技術(shù)是全息技術(shù)應(yīng)用于實(shí)際的最早也是最主要的技術(shù)之一，它把普通的干涉測量同全息技術(shù)結(jié)合起來，有如下特點(diǎn)：(1) 一般干涉測量只可用來測量形狀比較簡單的高度拋光表面的工件，而全息干涉測量能夠?qū)哂腥我庑螤詈痛植诒砻娴娜S表面進(jìn)行測量，精度可達(dá)光波波長數(shù)量級。(2) 由于全息圖再現(xiàn)的像具有三維性質(zhì)，故用全息技術(shù)就可以通過干涉測量方法從許多不
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