【正文】 則控制限為過程平均值加或減期望變差 允許值 . UCLp = p + 3 p ( 1 p ) / n SPC 70 UCLp = p 3 p ( 1 p ) / n 式中 : n 為恒定的樣本容量 . 注 : 當(dāng) p 很小或 n 很小時(shí) ,LCL的計(jì)算值有時(shí) 會(huì)為負(fù)值 ,在這種情況下則沒有下控制限 , 因?yàn)榧磿r(shí)極精確的時(shí)期內(nèi) P = 0 ,也在隨極 差變差極限內(nèi) . SPC 71 畫線並標(biāo)注 過程均值 (p) 水平實(shí)線 . 控制限 (UCL LCL) 水平虛線 . 上述給出的控制限計(jì)算公式適用于子組 容量相同的情況下 ,理論上 ,只要樣本容量改變 (即使是一個(gè)子組容量 ),控制限隨之變化 ,在對(duì) 每個(gè)具有不同樣本容量的子組應(yīng)分別計(jì)算各 SPC 72 控制限 .但實(shí)際應(yīng)用時(shí) ,當(dāng)各子組容量與其平均 值相差不超過正負(fù) 25% 時(shí) ,可用平均樣本容 量 ( n )來計(jì)算控制限 .合理的程序?yàn)?: ★ 確定可能超過其平均值 177。 25% 的樣本容 量范圍 ,找出樣本容量超出該范圍的所有 子組 。 ★ 按下式重新計(jì)算這些點(diǎn)準(zhǔn)確的控制限 : SPC 73 UCLp , LCLp = p 177。 3 p ( 1 p ) / n 式中 : n 為特殊子組樣本容量 ,點(diǎn)與點(diǎn)之間只 有 n 的值變化 . 目的 :找出過程不再以同一水平運(yùn)行的証據(jù) 即過程失控 並采取相應(yīng)的措施 .其 它的控制圖解釋同 XR圖解釋 . SPC 74 SPC a. 收集數(shù)據(jù) (除前面 p 圖所講的相同外 ,不同之處如下 ) ★ 受檢驗(yàn)樣本的容量必須相等 .分組的周 期應(yīng)按照生產(chǎn)間隔和反饋系統(tǒng)而定 .樣 本容量應(yīng)足夠大使每個(gè)子內(nèi)組內(nèi)都出 現(xiàn)幾個(gè)不合格品 ,在數(shù)據(jù)表上記錄樣本 的容量 。 75 部門 均值 = UCL= LCL= 平均樣本容量 : 500 頻率 : 每班應(yīng)記錄人員 , 材料 , 設(shè)備 , 方法 , 環(huán)境或測(cè)量系統(tǒng)中的任何變化 , 這些記錄將在控制圖上出現(xiàn)信號(hào)進(jìn)而幫助你采取糾正或改進(jìn)過程的措施日期 時(shí)間 514 全天 526 8:50AM 526 10:15AMP ( C □nP □ U □零件號(hào)及名稱 主動(dòng)力間斷計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖備注培訓(xùn)新的檢驗(yàn)員主動(dòng)力間斷工序號(hào)及名稱 :最終功能試驗(yàn)工廠 鬃UCLCL步驟 :. UCL=.0324+3 .0324?9676 / 500 =.0324+.0237=.0561 LCL=.03243 .0324?9676 / 500 =.=.0087步驟 :步驟P樣本 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500(n) 數(shù)量 12 15 19 13 9 26 18 14 17 18 16 24 11 31 16 10 16 17 20 15 8 13 1217 18 (np. ? 率 (p.? 日期.024不合格.030 .036 .026 .018 .052 .036 .028 .034 .036 .032 .048 .022 .062 .032 .020 .032 .034 .040 .030 .016 .026 .024 .034 .03665 月7 811 12 13 14 15 18 19 20 21 22 26 27 28 29 1 2 3 4 5 8 9 1076 SPC 不合格品數(shù)的 np 圖 np 圖用來度量一個(gè)檢驗(yàn)中的不合格品的 數(shù)量 .與 p 圖不同 , np 圖表示不合格品的實(shí)際 數(shù)量而不是與樣本的比率 . P 圖和 np 圖的使 用情況基本相同 ,當(dāng)滿足下列情況時(shí)可選用 np 圖 : 77 義或更容易報(bào)告 。 b. 各階段子組的樣本容量相等 . np 圖 與 p 圖的不同之處如下 : 1. 收集數(shù)據(jù) ★ 受檢驗(yàn)樣本的容量必須相等 .分組的周期 應(yīng)按照生產(chǎn)間隔和反饋系統(tǒng)而定 .樣本容 量應(yīng)足夠大使每個(gè)子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個(gè)不 合格品 ,在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量 . SPC 78 ★ 記錄並描繪每個(gè)子組內(nèi)的不合格品數(shù) . 2. 計(jì)算控制限 計(jì)算過程不合格品數(shù)的均值 : np = np1 + np2 +….+np k K 式中 : np1 , np2…. 為 K個(gè)子組中每個(gè)子組的 不合格數(shù) . 計(jì)算上 , 下控制限 : SPC 79 LCL np = np + 3 np ( 1 p ) LCL np = np 3 np ( 1 p ) 式中 : n = 子組的樣本容量 . p 圖 . p 圖 . SPC 80 不合格數(shù)的 C 圖 C 圖用來測(cè)量一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的不合格的數(shù) 量 (與描在 np 圖上的不合格品的數(shù)量不同 ). C 圖要求樣本容量恒定或受檢材料的數(shù)量恆定 , 它主要應(yīng)用于以下兩類檢驗(yàn) : ★ 不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上 (例如玻璃上 的氣泡或電線上絕緣層薄的點(diǎn) ),以及可以用 SPC 81 不合格的平均比率表示的地方 (如每 100m 維尼龍上的瑕庇 ). ★ 在單個(gè)的產(chǎn)品檢驗(yàn)中可能發(fā)現(xiàn)許多不同潛 在原因造成的不合格 . (參照 p 圖 ,不同之處如下 ) ★ 檢驗(yàn)樣本的容量要求相等 (如零件的數(shù)量 ), SPC 82 這樣描繪的 c 值將反映質(zhì)量性能的變化而 不是外觀的變化 ,在數(shù)據(jù)表中記錄樣本容量 ★ 記錄描繪每個(gè)子組的不合格數(shù) . 計(jì)算過程不合格均值 : c = c1 + c2 +….+c k k SPC 83 式中 : c1 , c2… 為 k 個(gè)子組內(nèi)每個(gè)子組的不合 格數(shù) . 計(jì)算控制限 : LCL c = c + 3 c LCL c = c 3 c 其它項(xiàng)目的解釋同 p 圖 . SPC 84 SPC 完