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基于brm下白光oled恒定應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)分析機(jī)械設(shè)計(jì)制造及自動化專業(yè)畢業(yè)設(shè)計(jì)畢業(yè)論-資料下載頁

2025-06-05 15:27本頁面
  

【正文】 ) l n l n 1 ( )mm t t Ft? ???? ?? ? ? ? ???? ??? ??? () 位置參數(shù) 0t 由式 ()及式 ()推得: 1220 111ln1 ( )t11l n l n1 ( ) 1 ( )mmmttFttttF t F t??????????? ?????? ? ? ??? ? ? ???? ? ? ? () 以上 3 個關(guān)于 m、 0t 以及 ? 計(jì)算公式可以分別記為: ? ? ? ? ? ?1 0 0 2 3 0m = f , f , ,t t m f m t??? () 顯然, m與 0t 是互為現(xiàn)成的迭代算式。對于 ? ?10m=ft 和 ? ?02ftm? 兩曲線相交的情況: (1)兩曲線相交:首先可以斷定,兩曲線必定相交且交于一點(diǎn),若不相交則可解釋為數(shù)據(jù)不服從威布爾分布,相交兩點(diǎn)以上在實(shí)際物理意義上無法解釋; (2)兩曲線為緩和單調(diào)降:因?yàn)楣乐当旧淼暮x就是一種平滑作用。由威布爾分布的特性可知:假設(shè) 0t 增大,則 m得減少,反之亦然; (3)兩曲線的定義域:對于 ? ?10m=ft ,兩曲線的定義域顯而易見為 ? ?0 min0tt? , 。對于? ?02ftm? ,顯而易見為 m0,且實(shí)際中要求 m不要太大,一般取 7m? 。 下面設(shè)計(jì)迭代求解的算法: (1)給任一 m初值,一般為 ? ?+m / 2mm? 下 限上 限 ; (2)由 ? ?02ftm? 得一 0t 值,再由 ? ?10m=ft 得一 m*值; (3)若 m*m,則減少 m;若 m*m,則增大 m。 由此得以循環(huán); (4)當(dāng)計(jì)算滿足精度即 ? ?8* =10mm ???? 時,計(jì)算停止。 當(dāng) m和 0t 求解后,將 m和 0t 代入 ? ?30,f m t?? 即可求得 ? [22]。 壽命計(jì)算 公式 威布爾分布下 OLED 在正常電流應(yīng)力下的平均壽命 ? 和中位壽命 : 0010 .5 0 011,1ln0 .5mt mtt???? ??? ? ? ???? ????? ??????? ??? ( ) 式中: ??? 為伽馬函數(shù), ? 為 0I 下的尺度參數(shù)。 0I 下的形狀參數(shù) m可取加權(quán)平均 : 上海電力學(xué)院本科畢業(yè)設(shè)計(jì)(論文) 19 3311m/i i iiin m n????? ( ) 式中: ( 1,2,3)ini? 為每個電流應(yīng)力下的樣品個數(shù)。 第四章 試驗(yàn)數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)分析及壽命估計(jì) 對于高可靠電子產(chǎn)品,人們有時采用步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)來評價這類產(chǎn)品的可靠性水平。步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)固然能節(jié)省試驗(yàn)時間和樣品,但這種試驗(yàn)方法有其本身固有的缺點(diǎn),主要是試驗(yàn)數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)精度較低。應(yīng)用恒定應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)來評價其可靠性水平,雖然通常需要較長的試驗(yàn)時間和較多的樣品。特別是在低應(yīng)力水平下,產(chǎn)品的壽命試驗(yàn)沒有明顯的加速性。這樣,評價高可靠的產(chǎn)品可靠性水平通常需花費(fèi) 較大的代價。盡管如此,為了追求高精度,我們?nèi)赃x擇恒定應(yīng)力的方法 [23]。 試驗(yàn)數(shù)據(jù) 試驗(yàn)方案的三組恒定應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)得到的白光 OLED試驗(yàn)樣品的失效時間列于表,試驗(yàn)樣品正常工作時的電流為 I0= 。 表 I I I3恒定電流應(yīng)力試驗(yàn)樣的失效時間 電流應(yīng)力 /mA 失效時間 /h t1 t2 t3 t4 t5 t6 t7 t8 t9 t10 I1= I2= I3= — 威布爾參數(shù)估計(jì) 針對表 中的失效數(shù)據(jù),采用文中所述的 BRM 方法求出各電流應(yīng)力下的形狀參數(shù)im 、尺度參數(shù) i? 和位置參數(shù) 0it ,如表 所示。 表 每個電流應(yīng)力下的 im 、 i? 和 0it 應(yīng)力水平 /mA I1= I2= I3= im /i h? 0/th 加速壽命方程 將三組恒定應(yīng)力下的數(shù)據(jù)點(diǎn) ? ?0ln , ln( )i i iIt?? 繪于圖 ,采用最小二乘法進(jìn)行擬合,求解出式( )的加速參數(shù) ??? ? ?、 ,則加速壽命方程為: 基于 BRM 下白光 OLED 恒定應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)分析 20 0l n ( ) 11. 637 8 825 l ntI? ? ? ? () 加速壽命曲線,即 OLED壽命特征圖,如圖 ,其決定系數(shù) 2 ? ,接近 1,說明擬合程度非常好 [24]。 圖 壽命特征圖 分布擬合的校驗(yàn) 這里,采用 KS 理論 [25]來進(jìn)行檢驗(yàn) ,計(jì)算得到觀測的 KS 統(tǒng)計(jì)量 nD 分別為1 2 30 . 2 , 1 0 0 . 2 , 1 0 0 . 2 , 90 .1 4 5 5 0 .3 2 3 0 = 0 .1 3 8 9 0 .3 2 3 0 = 0 .1 4 5 3 0 .3 3 9 0n n nD D D D D D? ? ? ? ? ? ?, , ,這說明通過了 KS 檢驗(yàn)。 正常應(yīng)力下的壽命預(yù)測 將表 中的 im 代入式 ()可求出正常工作電流應(yīng)力 0= mA 下的形狀參數(shù)0= = 。再將 OLED 客戶實(shí)際使用最小壽命的平均值作為 OLED 的位置參數(shù) 0t ,即0 =,結(jié)合式 () 便可得到 OLED 在正常電流應(yīng)力下的尺度參數(shù)0=? 。 由此 利用求得的 0m 、 0? 、 0t , 并結(jié)合式 ( ) 即可計(jì)算出 OLED 平均壽命為 =? 。 第五章 結(jié)論 通過對 OLED 恒定應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)分析,得出結(jié)論如下: 1)本文中各應(yīng)力下的失效時間均通過了 KS 檢驗(yàn),表明白光 OLED 產(chǎn)品的壽命服從三參數(shù)威布爾分布; 2)加速壽命曲線的擬合系數(shù) R2= 很接近于 1,證 實(shí)白光 OLED 符合加速模型的上海電力學(xué)院本科畢業(yè)設(shè)計(jì)(論文) 21 假定; 3)利用 Matlab 編程使得復(fù)雜的白光 OLED 加速壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析變得簡單,得到的壽命信息比較接近白光 OLED 的實(shí)際壽命,這為 OLED 生產(chǎn)廠商進(jìn)行壽命設(shè)計(jì)提供技術(shù)指導(dǎo)。 參考文獻(xiàn) [1] Kapil Sakariya, Clement K. M. Ng, Peyman Servati, and Arokia Nathan. Accelerated stress testing of aSi:H pixel circuits for AMOLED displays[J]. IEEE Transactions on Electron Devices, 2021, 12(52): 25772583. [2] Barr D R, Davidson T. A KolmogorovSmirnov test for censored samples [J]. Technometrics,1973, 15(4): 739757. [3] C. W. Tang, S. A. VanSlyke, Organic electroluminescent diodes[J]. Applied Physics Letters, 1987, 51: 913915. [4] Jan Birnstock. PIN OLEDs Improved structures andmaterials to enhance device lifetime [J]. Journal of the SID, 2021, 16(2): 221 229. [5] 陳金鑫 . OLED 有機(jī)電致發(fā)光材料與器件 [M]. 北京:清華大學(xué)出版社, 2021: 134. [6] 張方暉,席儉飛,王秀峰.硫系玻璃薄膜封裝層對 OLED 壽命的影響 [J].半導(dǎo)體光電,2021, 31(1): 3033. [7] , RVN, Melnik, F. Z. Lv. Stress induced polarization switching and coupled hysteretic dynamics in ferroelectric materials[J]. Frontiers of Mechanical Engineering, 2021, 6(3): 287291. [8] Adachi C, Tsutsui T, Saito S. Organic electroluminescent device having a hole conductor as an emitting layer[J], Applied Physics Letters, 1989, 55(15): 14891491. [9] 尹盛,劉衛(wèi)忠,劉陣,等.有機(jī)電致發(fā)光器件的驅(qū)動技術(shù) [J].液晶與顯示, 2021, 18 (2): 106111. [10] 李曉峰,朱文清,曹進(jìn),等.多層白色有機(jī)發(fā)光器件的結(jié)構(gòu)和性能優(yōu)化 [J].光電子 ?激光, 2021, 19(9): 11661169. [11] 常天海,彭雙慶. OLED 應(yīng)用技術(shù)的 進(jìn)展 [J].真空與低溫, 2021, 14(2): 115118. [12] 葛廣平 . 我國加速壽命試驗(yàn)研究的現(xiàn)狀與展望 [M].?dāng)?shù)理統(tǒng)計(jì)與管理, 2021, 19(1): 2529. [13] 邱勇,萬博泉.關(guān)于我國發(fā)展 OLED 技術(shù)和產(chǎn)業(yè)的思考 [J].現(xiàn)代顯示, 2021, 33: 47. [14] 戴樹森,費(fèi)鶴良,王玲玲,等 . 可靠性試驗(yàn)及其統(tǒng)計(jì)分析 [M]. 北京:國防工業(yè)出版社,1983. [15] 李書明,董成利,黃燕曉 . 基于威布爾的發(fā)動機(jī)渦輪葉片壽命可靠性評估 [J]. 中國民航大學(xué)學(xué)報(bào) , 2021(04). [16] Jong In Park , Suk Joo Bae. Direct Prediction Methods on Lifetime Distribution of Organic 基于 BRM 下白光 OLED 恒定應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)分析 22 Lightemitting Diodes from Acceler ated Degradation Tests [J]. IEEE Transactions on Reliability, 2021, 59(1): 7490. [17] Anil R. Duggal. Large Area White OLEDs [J]. Journal of the SID, 2021: 2831. [18] 郭朋輝. OLED 器件技術(shù)及產(chǎn)業(yè)化進(jìn)展 [R]. 技術(shù)論壇, 2021, (1): 4650. [19] Zhang Jianping, Wang Ruitao. Reliability life prediction of VFD by constant temperature stress accelerated life tests and maximum likelihood estimation [J]. Journal of Testing and Evaluation, 2021, 37(4): 316320. [20] 茆詩松.加速壽命試驗(yàn)的加速模型 [J]. 質(zhì)量與可靠性 , 2021, (2): 1517. [21] 張建平,王睿韜.對數(shù)正態(tài)分布下基于 MAM 的 VFD 加速壽命試驗(yàn)研究 [J].電子器件, 2021, 31(6): 17351738. [22] 張建平,武文麗,朱文清 . Weibull 分布下基于 MLE 的紅外發(fā)光二極管壽命預(yù)測 [J],半導(dǎo)體光電, 2021, 32(1): 1725. [23] 陳循,張春華.加速試驗(yàn)技術(shù)的研究、應(yīng)用與發(fā)展 [J].機(jī)械工程學(xué)報(bào), 2021, 45(8): 130136. [24] 張志華.加 速壽命試驗(yàn)及其統(tǒng)計(jì)分析 [M].北京:北京工業(yè)大學(xué)出版社, . [25] Barr D R, Davidson T. A KolmogorovSmirnov test for censored samples [J]. Technometrics, 1973, 15 (4): 739757. 上海電力學(xué)院本科畢業(yè)設(shè)計(jì)(論文) 23 致謝 光陰似箭,日月如棱。四年的時間,在我們漫長的人生旅途中是那么的短暫,但是,這短短的四年是最真誠的青春,是最純真的歲月,是最美麗的大學(xué)生活。畢業(yè)設(shè)計(jì)階段帶給自己的指導(dǎo),從最初的資料收集,到寫作、修改, 到論文定稿,張老師和周廷君學(xué)長給了我耐心的指導(dǎo)和無私的幫助。為了指導(dǎo)我們的畢業(yè)論文,他們放棄了自己的休息時間,他們的這種無私奉獻(xiàn)的敬業(yè)精神令人欽佩,在此我向他們表示我誠摯的謝意。盡管張老師對我們的要求不低,但是這也是大學(xué)畢業(yè)前的最后一次試煉,從畢業(yè)設(shè)計(jì)中我學(xué)到了不少東西,為將來踏上社會迎接挑戰(zhàn)打好了基礎(chǔ)。 最后,感謝張老師和兩位學(xué)長,以及同組的大家,是你們陪伴著我度過了這難忘的畢業(yè)設(shè)計(jì)。也感謝大學(xué)的其他同學(xué)們,是你們和我一起走完了這四年。祝愿大家在將來在各方面都能越過越好,也希望自己不辜負(fù)大家對我的期待,在 事業(yè)上能有所作為。
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