公差配合與技術(shù)測(cè)量第五章-資料下載頁(yè)
2025-05-12 06:37本頁(yè)面
【正文】 用協(xié)調(diào)。尺寸精度、 ? 形位精度高的部位 Ra值要??； ? （ 7）同公差等級(jí)軸比孔的 Ra值要?。? ? （ 8）有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)推薦使用的 Ra值依標(biāo)準(zhǔn)優(yōu) ? 先選取。 第五章 表面粗糙度及測(cè)量 ?表面粗糙度系列值與推薦配合使用值： ?表 51 表面粗糙度 Ra基本系列與補(bǔ)充 系列 ?表 56 表面粗糙度的標(biāo)注舉例 ?表 57孔軸配合的表面粗糙度推薦值 第五章 表面粗糙度及測(cè)量 ?表面粗糙度的測(cè)量 ? 比較法 —— 采用表面粗糙度樣板與實(shí)際表面的粗糙度進(jìn)行比較確定參數(shù)值。直觀、操作容易但分級(jí)程度不精密，常用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)。 ? 光切法 —— 光切顯微鏡將 一束平行光帶以一定角度投射與被測(cè)表面上，光帶與表面輪廓相交的曲線影像即為被測(cè)表面的微觀幾何形狀（光切原理）。 但當(dāng)峰谷高度超出一定的范圍，就不能在目鏡視場(chǎng)中形成清晰的真實(shí)圖像而導(dǎo)致無(wú)法測(cè)量或者測(cè)量誤差很大。 第五章 表面粗糙度及測(cè)量 ? 干涉法 —— 采用干涉顯微鏡利用光干涉原理對(duì)表面粗糙度進(jìn)行測(cè)量，可以達(dá)到~1um的精度。 ? 光干涉原理 —— 光投射到介質(zhì)（被測(cè)表面）表面，因表面粗糙度的存在造成折射率產(chǎn)生變化。不同的光強(qiáng)通過(guò)透鏡后被記錄成不同的光譜。根據(jù)光譜就可鑒定出表面粗糙度值的等級(jí)。 第五章 表面粗糙度及測(cè)量 ?針描法 —— 使用紅寶石（或藍(lán)寶石）制成測(cè)針頭與被測(cè)表面接觸，微觀幾何形狀誤差將令測(cè)頭產(chǎn)生振動(dòng)（位移）。通過(guò)微機(jī)將這種位移轉(zhuǎn)化為電平信號(hào)再處理成為圖樣輪廓。其輪廓就是被測(cè)表面的表面粗糙度形成的圖像。 第五章 表面粗糙度及測(cè)量
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