光波導(dǎo)理論與技術(shù)_表面等離子體子光波導(dǎo)傳感器-資料下載頁
2025-05-11 20:25本頁面
【正文】 、 11：前置放大器 10：相位計 14 ：計算機 2~6： SPR傳感器 SPR 傳感器其他應(yīng)用 其他應(yīng)用 ： – 航天醫(yī)學(xué)、 – 生物芯片（ 利用 SPR 相位調(diào)制檢測蛋白質(zhì)芯片 ）、 – 掃描近場光學(xué)顯微技術(shù)、 – 薄膜光學(xué)和膜厚測量、 – 全息成像技術(shù)、 Q開關(guān)、 – 精密角度測量等領(lǐng)域 。 SPR應(yīng)用于近場掃描光學(xué)顯微技術(shù) NSOM 的光纖微探針尖端無法做得很細 ,因此分辨率只能達到十幾納米 ,不能象 STM和 AFM那樣達到原子級分辨率。 SPW 在金屬表面?zhèn)鞑r ,遇到雜質(zhì)、缺陷等將會發(fā)生散射 ,此處共振的 SPW作圓錐輻射 ,圓錐頂角與入射角相同。 若 AFM的實心針尖在金屬表面掃描 ,將作為一個散射中心 ,輻射出的圓錐形光攜帶針尖處的信息 . 由于圓錐輻射光比較微弱 , 一般用一個鎖相放大器以 一定頻率驅(qū)動微懸臂 ,并檢 測光電轉(zhuǎn)換器件的輸出信 號中的同頻成分 . 薄膜光學(xué)和膜厚測量 在 Kretschmann型 SPR配置中的金屬膜上覆蓋待測薄膜 ,依據(jù)測得的 ATR 曲線 , 可以用雙層膜菲涅爾公式擬合計算待測薄膜的光學(xué)參數(shù)和膜厚。 如圖配置可通過銀膜和導(dǎo)電玻璃向液晶施加不同的電壓，通過測量和計算 ,可以得出不同電壓下液晶薄膜的厚度和介電常數(shù) ,并借以推斷不同電壓下液晶分子的排列方式。 與其他膜厚測量方法相比（如橢圓偏振儀）， SPR技術(shù)具有靈敏度高、分辨率高等優(yōu)點 ,特別適合納米量級的膜厚測量，而且可以測量不透光的薄膜 . 棱鏡 銀模 +液晶 +導(dǎo)電玻璃 全息成像技術(shù) 底片為玻璃基底 銀膜 光刻膠結(jié)構(gòu) , 銀膜厚度 35nm,光刻膠厚度 65nm. 記錄光路使用 0. 9mW的氦鎘激光 . 曝光時間為 25s. 顯影后將底片置于成像光路中。 成像光路結(jié)構(gòu)是 Kretschmann型SPR配置 . 銀膜表面共振的 SPW被全息照片上的刻痕散射并輻射光 ,從而產(chǎn)生全息虛像。 再現(xiàn)光束以 176。 , 60. 17176。 , 44. 94176。 (對應(yīng)波導(dǎo)層中的 3 個模式 TM0, TM1, TM2)射入時 ,觀察到了再現(xiàn)圖像 . 優(yōu)點是成像時不存在照明光的零級散射干擾 。記錄時的入射角和成像時的入射角無關(guān)。
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