【導(dǎo)讀】成了任務(wù)書中規(guī)定的內(nèi)容，不弄虛作假，不抄襲別人的工作內(nèi)容。貢獻(xiàn)的個(gè)人和集體均已在文中注明。本人承擔(dān)相應(yīng)的法律責(zé)任。4．本人完全了解學(xué)校關(guān)于保存、使用畢業(yè)設(shè)計(jì)（論文）的規(guī)定，校保留畢業(yè)設(shè)計(jì)（論文）的復(fù)印件和電子版本，允許被查閱和借閱；以公布其中的全部或部分內(nèi)容。陸、空作戰(zhàn)平臺(tái)，因此，先進(jìn)的夜視技術(shù)對(duì)于控制戰(zhàn)場(chǎng)形勢(shì)具有至關(guān)重要的意義。性試驗(yàn)剖面”要求進(jìn)行各種應(yīng)力條件下的可靠性試驗(yàn)。儀可靠性試驗(yàn)裝備研究,還需開展與之相關(guān)的試驗(yàn)技術(shù)研究。強(qiáng)光應(yīng)力源系統(tǒng)研。究屬其中的主要研究?jī)?nèi)容之一。本文主要對(duì)微光瞄準(zhǔn)鏡中強(qiáng)閃光應(yīng)力系統(tǒng)進(jìn)行相關(guān)的研究。機(jī)控制的強(qiáng)閃光應(yīng)力源時(shí)基控制電路。

　　

【正文】 ，它需要穩(wěn)定的時(shí)鐘信號(hào)，因此在電源上電時(shí)，只有當(dāng) VCC 超過 低于 ，復(fù)位信號(hào)才被撤除，微機(jī)電路開始正常工作。 數(shù)碼管 共陰數(shù)碼管是指將所有發(fā) 光二極管的陰極接到一起形成公共陰極 (COM)的數(shù)碼管，共陰數(shù)碼管在應(yīng)用時(shí)應(yīng)將公共極 COM 接到地線 GND 上，當(dāng)某一字段發(fā)光二極管的陽極為高電平時(shí)，相應(yīng)字段就點(diǎn)亮，當(dāng)某一字段的陽極為低電平時(shí)，相應(yīng)字段就不亮。 LED 數(shù)碼管是由多個(gè)發(fā)光二極管封裝在一起組成“ 8”字型的器件，引線已在內(nèi)部連接完成，只需引出它們的各個(gè)筆劃，公共電極。 led 數(shù)碼管常用段數(shù)一般為 7 段有的另加一個(gè)小數(shù)點(diǎn)，還有一種是類似于 3 位“ +1”型。位數(shù)有半位，1， 2， 3， 4， 5， 6， 8， 10 位等等， LED 數(shù)碼管根據(jù) LED 的接法不同分為共陰和共陽兩類，了 解 LED 的這些特性，對(duì)編程是很重要的，因?yàn)椴煌愋偷臄?shù)碼管，除了它們的硬件電路有差異外，編程方法也是不同的。 數(shù)碼管要正常顯示，就要用驅(qū)動(dòng)電路來驅(qū)動(dòng)數(shù)碼管的各個(gè)段碼，從而顯示出我們要的數(shù)字，因此根據(jù)數(shù)碼管的驅(qū)動(dòng)方式的不同，可以分為靜態(tài)式和動(dòng)態(tài)式兩類。 圖 47 數(shù)碼管 JTAG 協(xié)議接口 JTAG 是一種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試協(xié)議（ IEEE 兼容），主要用于芯片內(nèi)部測(cè)試?，F(xiàn)在多數(shù)的高級(jí)器件都支持 JTAG 協(xié)議，如 DSP、 FPGA 器件等。標(biāo)準(zhǔn)的 JTAG接口是 4 線： TMS、 TCK、 TDI、 TDO，分別為模式選擇、時(shí)鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。 23 圖 48 JTAG接口 電路圖 圖 49 電路圖 24 系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)與實(shí)驗(yàn)結(jié)果 程序方框圖 上電復(fù)位 數(shù)碼管顯示時(shí)間 time 03599s 設(shè)置閃光時(shí)間 shine 否 time?shine 按鍵調(diào)節(jié)加 /減 shine 是 光耦工作，使達(dá)林頓 CE端導(dǎo)通 燈亮 圖 410 設(shè)計(jì)方框圖 實(shí)驗(yàn)結(jié)果 通過單片機(jī)控制燈泡閃光，閃光時(shí)間為 3 秒 /小時(shí)，時(shí)間為可調(diào)，調(diào) 整范圍是 1 秒 /小時(shí)到 10 秒 /小時(shí)。當(dāng)掃描到單片機(jī) PD5 引腳時(shí)，閃光時(shí)間加 1，掃描到 PD6 引腳時(shí)，閃光時(shí)間減 ，程序見附頁。 25 結(jié)論 微光瞄具的可靠性試驗(yàn)與測(cè)試對(duì)微光瞄具的研制和生產(chǎn)有重大的意義 ,但是 現(xiàn)有的測(cè)試系統(tǒng)一般只針對(duì)光應(yīng)力和電應(yīng)力兩個(gè)方面檢測(cè)。本文對(duì)微光瞄準(zhǔn)鏡中強(qiáng)閃光應(yīng)力系統(tǒng)進(jìn)行相關(guān)的研究。以單片機(jī)控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)強(qiáng)閃光應(yīng)力源時(shí)基電路的設(shè)計(jì)。 強(qiáng)閃光應(yīng)力源閃光時(shí)間標(biāo)準(zhǔn)為 3秒 /小時(shí)；閃光時(shí)間可調(diào)，調(diào)整范圍是 1秒 /小時(shí) 10 秒 /小時(shí)。電路包含數(shù)字電路和模擬電路。本文也介紹了微光瞄準(zhǔn)具的結(jié)構(gòu)與其組成以及武器瞄準(zhǔn)具可靠性試驗(yàn)的設(shè)計(jì)原理。 26 參考文獻(xiàn) [1]張振中 ,李其祥 .微光夜視技術(shù)的發(fā)展及評(píng)價(jià) [J].山西科技 .2020. 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