【導(dǎo)讀】考點(diǎn)一平面直角坐標(biāo)系。點(diǎn)P(x,y)在第一象限?點(diǎn)P(x,y)在第四象限?點(diǎn)P(x,y)既在x軸上,又在y軸上?思為坐標(biāo)平面內(nèi)任取一點(diǎn)就有一個(gè)有序?qū)崝?shù)對(duì)與之對(duì)應(yīng);考點(diǎn)二平面直角坐標(biāo)系內(nèi)點(diǎn)的坐標(biāo)特征??键c(diǎn)四平面直角坐標(biāo)系中的平移與對(duì)稱點(diǎn)的坐標(biāo)。位長(zhǎng)度,可以得到對(duì)應(yīng)點(diǎn)是______;以上規(guī)律可歸納為:誰(shuí)對(duì)稱誰(shuí)不變,另一個(gè)變號(hào),類型之四確定位置的方法。例4[2020·濰坊]如圖,雷達(dá)探測(cè)器測(cè)得六個(gè)目標(biāo)A,B,C,D,E,F(xiàn).按照規(guī)定的目標(biāo)表示方法,目標(biāo)C,