外文翻譯----apd偏壓電路的最佳設計中文-資料下載頁
2025-05-12 11:51本頁面
【導讀】制方法，并詳細的分析了背景光和負載電阻對雪崩光電二極管檢測電路的影響。光電二極管偏置電路的設計建立了一種理想的溫度補償和負載電阻補償模型。實驗結果證實，本文提出的設計可以。很大程度的改善測距儀的性能。大程度的降低對前置放大電路性能的要求，并能提高檢測電路的信噪比。具有很廣泛的用途，如光纖通信、激光測距儀、微弱信號探測器等。獲得最佳檢測性能，APD的外部電壓需要接近最佳倍增因子時的電壓。設計一個復雜的反饋控制電路及時的調(diào)整雪崩光電二極管的偏壓。外，特別是APD內(nèi)部結構決定了其倍增增益M隨工作溫度變化而變化。對于C30737系列的APD，TC為V/℃，這意味著在相同條件下，當。恒流偏置，溫度補償和恒虛報警控制。方程５右邊前面兩項的和Δ1V表明負載電阻噪聲對最佳偏置的影響。模擬溫度傳感器置于APD附近監(jiān)測其工作溫度。調(diào)整輸入電阻值來調(diào)整直流適配器，這樣就能輸出合適的APD偏壓。
【正文】 檢測 電路造成的不良影響可以通過選擇合適的 cR 得到一定 的 補償，并 能夠改善 檢測 電路的性能。 圖３． ? ?csR不同時 apdV 和 bP 間的關系 圖 ４． ? ?csR不同時 iSNR 和 bP 間的關系 這 種 雪崩光電二極管激光 檢測 電路 已 廣泛地 運用于 汽車防撞激光測距儀 中 ，其性能測試的方法有兩種。途徑之一是 在恒定的背景光下 改變雪崩光電二極管 的 負載電阻， 這時 激光測距儀 測距 能力范圍 變化 很明顯。在明亮的背景光 下 ， cR 為 時的測量范圍比 cR 等于 5 MΩ 或 100 kΩ 的范圍大 10 ％ ～ 20 ％ 左右 。 另一種 方式 是 在 相同 的 測量 范圍 下 改變 APD 負載電阻 ， 這時測量 的抗 背景光 干擾能力具有明顯的差距。在同一測量范圍， cR 為 cR 等于 5 MΩ 或 100 kΩ 抗背景光 能力 增加了 20 ％ ～ 30 ％ 。 從 以上 理論分析和實驗結果，我們 發(fā)現(xiàn)基于 負荷電阻的溫度補償和背景光補償 的APD 偏 壓 控制方法可以大大 地 提高 相同 條件 下 APD 檢測 電路 的 檢測 能力范圍和抗背景光能力。 這種方法 的 電路設計特點是結構簡單，成本低，所以它是一個實際 可行 的項目。 參考文獻： [1]譚慶貴，胡渝，林培 .《激光光電子學》 .2020年 ， 17： 77. [2]孫春生，秦石喬，王興樹 .《 激光與紅外 》 .2020年 ， 36:632 . [3]魏正軍，廖常俊，王敬東 .《 光子學報 》 .2020， 35： 906 . [4]湯中華 .《 激光技術 》 .1992， 16： 262 . [5]霍 廉 政 .《 激光技術 》 .1993， 17： 137 . [6]譚獻玉 .《 光電技術 》 .2020年 ， 21： 129. [7]章在軒，郭寧，于向東 .《激光光電子學 學報 》 .1999， 10： 132 . [8]戎 太 平，苗林華 .《華中 科技 大學學報》 （自然科學版） .2020年 ， 32： 16 . [9]呂華 ， 汪 日 .《 紅外和激光工程 》 .2020年 ， 31： 44 . [10]繆家鼎， 許 文娟，謀同慎 .《光電技術》 . 杭州 ： 浙江大學出版社 .1987年， 141142. [11] YiRen Lai and PieYou Chien, Method and apparatus forreducing the noise in the receiver of a laser range finder, . Patent:5, 946 , 081, ,1999. [12] IJen Lai, PiYao Chien, and ChihWei Hung, Light receivingcircuit of laser range finder, . Patent: US2020/0033937 A1, Mar. 21, 2020. 本文譯自 ： OPTOELECTRONICS , 15 May 2020
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