【文章內(nèi)容簡介】 良狀況 。 ＊ 能及時并正確地找出不良原因 ,可使品質(zhì)穩(wěn)定 ,為最優(yōu)良之管制工具 . ? 缺點(diǎn) : ＊ 在制造過程中 ,需要經(jīng)常抽樣并予以測定以及計算 ,后需點(diǎn)上管制圖 ,較為麻煩而費(fèi)時間 . 計數(shù)值管制圖之優(yōu)缺點(diǎn) ? 優(yōu)點(diǎn) : ＊ 只在生產(chǎn)完成后 ,才抽取樣本 ,將區(qū)分為良品與不良品 ,所需數(shù)據(jù)能以簡單方法獲得之 . ＊ 對于工廠整個品質(zhì)情況了解非常方便 . ? 缺點(diǎn) : ＊ 只靠此種管制圖 ,有時無法尋求不良之真正原因 ,而不能及時采取處理措施 ,而延誤時機(jī) . 管制圖之繪制流程 搜集數(shù)據(jù) 繪制解析用管制圖 穩(wěn)定狀態(tài)？ 繪制直方圖 → 分布 → 層別研究 滿足規(guī)格？ 制程能力研究 管制用管制圖 Yes 消除非機(jī)遇原因 No 滿足 減少機(jī)遇原因 4M、 1E 分析 不滿足 提升製程能力 Z value 管制圖 ─ 制程控制的工具 ： ● 收集資料並畫在圖上 ： ● 監(jiān)控是否超出『管制上、下限』 → 非機(jī)遇原因 ● 計算所收集的資料，作為分析之用 ● 觀察『全距』的變化 ： ● 依所計算之結(jié)果，評估制程能力指數(shù) ● 監(jiān)控在『受控』狀態(tài)資料的變化，確定『機(jī)遇原因』『全距』 的變化，並採取措施 必要時，可修改『管制上、下限』，持續(xù)不斷的改善 解析用管制圖 管制用管制圖 第四章 : SPC管制圖 結(jié)合本公司實(shí)際情況 ,本教材只講解 P chart , U chart , Xbar – R chart 三種管制圖 一 . P chart不良率管制圖 (要 20組以上 ,檢驗(yàn)數(shù)可不相同 ) : 2. 計算 CL=P=∑di / ∑ ni =(5+6+6+……7) / (200+230+220+….210) = 3. 計算 UCL與 LCL (本例各檢驗(yàn)數(shù)均在檢驗(yàn)數(shù)總平均數(shù) +25%之內(nèi) ) UCL=P+3* P*(1P)/ni =+3* *()/ n = LCL=P3* P*(1P)/ni =* *()/ n = =0 注 : ni表示第 i…… 組之檢驗(yàn)數(shù) ,本例為 : 200,230,220…………, 但如所有檢驗(yàn)均在檢 驗(yàn)數(shù)總總平均數(shù) +25%之內(nèi) ,該 ni則可用 n代替 (若否則做出的圖下頁圖 2). n=(n1+n2+n3+…….)/K (K= 檢驗(yàn)組數(shù) ) 該例 n= (200+230+220+….210) / 20 = 203 當(dāng)管制下限計算出來是負(fù)數(shù)時 ,必須將其改為“ 0” 圖 1 圖 2 二 . C chart缺點(diǎn)數(shù)管制圖 (要 20組以上 ,檢驗(yàn)數(shù)需相同 ) : 組 數(shù) 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 檢驗(yàn)數(shù) 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 缺點(diǎn)數(shù) 5 6 9 5 6 7 8 6 9 7 5 4 2. 計算 CL=C=(C1+C2+C3+…….Ck)/k k= 組數(shù) CL=C=(5+6+9+……..4) / 12 = 3. 計算 UCL=C+3* C =+3* = 4. 計算 LCL=C3* C =* = 0 5. 圖示 三 . U chart單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 (要 20組以上 ,檢驗(yàn)數(shù)可不相同 ) : 組 數(shù) 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 檢驗(yàn)數(shù) 400 375 365 420 405 410 360 350 400 400 440 450 430 470 410 缺點(diǎn)數(shù) 23 19 18 26 20 18 12 10 18 22 28 20 19 31 17 單位 U 2. 計算 CL=U=(C1+C2+C3+…….Ci) / (N1+N2+N3+…..Ni) CL=U=(23+19+18+……17) / (400+375+365+……410) = 3. 計算 UCL=U+3* U / Ni 4. 計算 LCU=U3* U / Ni 注 : 如所有 N均在 N的 +25%之內(nèi) ,則 Ni=N 本例 Ni=N(因?yàn)樗?Ni均在 N+25%內(nèi) ) 若否則做出圖如下下頁圖 2 N= (400+375+365+……410) / 15 = UCL=U+3* U / N = + 3* / = LCL=U3* U / N = 3* / = 圖 1 圖 1 四 . XR chart (一般要有 25子組以上的數(shù)據(jù)才有分析價值 ) : 50+10 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 NO1 51 53 51 50 48 47 50 49 50 49 50 50 50 52 49 55 52 50 46 48 NO2 48 47 49 52 48 53 53 52 48 52 52 53 50 50 51 46 52 49 51 54 NO3 53 48 50 50 50 51 45 51 55 50 52 47 51 52 48 50 51 52 48 51 NO4 51 50 53 48 49 51 49 49 53 52 53 51 50 50 52 52 51 54 49 49 NO5 51 52 50 45 47 52 52 52 48 50 55 51 50 45 51 49 51 48 48 48 X 50 50.6 49 48.4 50.8 49.8 50.6 50.8 50.6 52.4 50.4 50.2 49.8 50.2 50.4 51.4 50.6 48.4 50 R 5 6 4 7 3 6 8 3 7 3 5 6 1 7 4 9 1 6 5 6 2. 計算總體平均值 X= X1+X2+X3+….Xi K =XCL K: 表示組數(shù) ,該例 K=20 X=XCL=(+++………) / 20 = 3. 計算全距平均值 R=(R1+R2+R3+……Ri) / K = RCL K: 表示組數(shù) ,該例 K=20 R=RCL=(5+6+4+…..….6) / 20 = 4. 計算管制上下限 XUCL=X+A2R 平均數(shù)管制上限 XCL=X 平均數(shù)中心限 XLCL=XA2R 平均數(shù)管制下限 RUCL=D4R 全距管制上限 RCL=R 全距中心限 RLCL=D3R 全距管制下限 A2,D3,D4 均查第二章第 8節(jié)的 XbarR常數(shù)表 XUCL=+A2R=+*= XCL=X= XLCL==*= 圖表如下 : RUCL=D4R=*= RCL=R= RXLCL=D3R=0 圖表如下 : 第五章 : 制程能力分析 關(guān)於 Ca , Cp , Cpk ,Pp ,Ppk等有多種算法 ,本教材只取一種 ?確切了解要調(diào)查的 品質(zhì)特性 與 調(diào)查範(fàn)圍 ，並 收集數(shù)據(jù) ?製作 解析用管制圖 ，確定製程處於 受控狀態(tài) 之中 ?計算 制程能力指數(shù) ( Short Term : Cpk ) ?判斷制程能力 是否足夠 ，如不夠時或不穩(wěn)定時，則加以改善 ?以解析用管制圖之『管制上、下限』，作為『管制用管制圖』之監(jiān)控，並 於一段期間後，再計算 制程能力指數(shù) ( Long Term : Ppk ) 5 04 03 02 01 01 41 31 21 11 0I n d e xCO2ShrtC O 2 L e v e l s f o r 5 5 T i m e P o i n t s過程實(shí)績 : 全部散布包括 Shifts 和 Short Term (Pp Ppk) 能力 : 只有隨機(jī)的或短期的散布 (Cp Cpk) Cpk – 在一穩(wěn)定制程下的『能力指數(shù)』某一天、某一班次、某一批、某一機(jī)臺 其組內(nèi)的變異 ( Rbar / d2 or Sbar / c4 ) Ppk – 性能指數(shù) 量試階段的『能力指數(shù)』、 某一產(chǎn)品長期監(jiān)控下的『能力指數(shù)』 Cpk / Ppk 準(zhǔn)確度 精密度 高 低 高 低 Precision Accuracy ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ??? ? ? ? ? ? ? ? ? 制程準(zhǔn)確度 (Capability of Accuracy) 衡量自產(chǎn)品中所獲得產(chǎn)品資料的 實(shí)績平均值 (X),與 規(guī)格中心值 (u)其間 偏差的程度 ,是 期望製程中生產(chǎn)的每個產(chǎn)品的實(shí)際值能與規(guī)格中心值一致 (1) Ca之計算方式如下： 實(shí)績平均值 規(guī)格