【文章內(nèi)容簡介】 Precision Industry一 .平均值全距管制圖 (XbarRchart) ﹕ 子組容量的變化將影響期望的平均全距以及平均值圖的管制限。 為了調(diào)整新的子組樣本容量對應(yīng)的中心線和管制限 ﹐ 應(yīng)采取如下措施 ﹕ (用 σ表示 )﹐ 用現(xiàn)有的子組容量計算 ﹕ σ=R/D2?? 式中 R為子組全距的均值 (在全距受控時期 )﹐ D2隨 樣本容量變化的常數(shù)。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一 .平均值全距管制圖 (XbarRchart) d2﹑ D3﹑ D4 和 A2,計算新的全距和管制限 ﹕ R新 =σ/d2 UCLX= X+A2R新 UCLR = D4R新 LCLX= XA2R新 LCLR = D3R新Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一 .平均值全距管制圖 (XbarRchart) ﹕ 在一個生產(chǎn)過程中永遠無法達到一種完美的管制狀態(tài)。過程管制圖的目的不是完美的而 是合理 ﹑ 經(jīng)濟的管制狀態(tài) 。因此 ﹐ 在實踐中 ﹐ 一個受控的過程不是圖上無任何失控之處的過程。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一 .平均值全距管制圖 (XbarRchart) ﹕ 過程能力解釋的幾個假設(shè) ﹕ ? 過程處于統(tǒng)計穩(wěn)定狀態(tài) ﹔ ? 過程的各測量值服從正態(tài)分布 ﹔ ? 工程及其它規(guī)范準確地代表客戶的要求 ﹔ ? 設(shè)計目標值位于規(guī)范的中心 ﹔ ? 測量變異相對較小。 ? 能力反映普通原因引起的變異 ﹐ 并且?guī)? 乎總是要對系統(tǒng)采取管理措施來提高能力。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一 .平均值全距管制圖 (XbarRchart) 過程能力的評定 ﹐ 在一般情況下 ﹐ 將過程輸出的分布與工程規(guī)范相比 ﹐ 看是否始終滿足這些規(guī)范。 注意 ﹕ 任何能力分析技朮 ﹐ 不管它看起來多么精確 ﹐ 也只能得到大概的結(jié)果。這是因為 ﹕ ? 總是存在一些抽樣變異 ﹔ ? 沒有 “完全 ”受統(tǒng)計管制的過程 ﹔ ? 沒有一個實際的輸出 “準 確 ”服從正態(tài)分布。 Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一 .平均值全距管制圖 (XbarRchart) ﹕ 由于子組內(nèi)過程的變異性是通過子組的全距來反映的 ﹐ 所以可以使用平均全距 R來估計過程的標準準偏差 σ。 σ=R/d2= σR/d2 只要過程的全距和平均值兩者都處于統(tǒng)計管制狀態(tài)。則可用估計的過程標準偏差來評價過程的能力。?? ?Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一 .平均值全距管制圖 (XbarRchart) ﹕ 過程能力是指按標準偏差為單位來 描述的過程平均值與規(guī)范界限的距離 ﹐ 用 Z表示。 ? 對于單邊規(guī)格 ﹐ 計算如下 ﹕ Z=(USLX)/(σR/d2) 或 Z=(XLSL)/(σR/d2) 選擇合適的一個 ﹗??Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一 .平均值全距管制圖 (XbarRchart) ?對于雙邊規(guī)格 ﹐ 計算如下 ﹕ ZUSL=(USLX)/ (σR/d2) ZLSL=(XLSL)/ (σR/d2) Zmin= ZUSL和 ZLSL的最小值。 當 Z值為負值時說明過程平均值超過規(guī)范。 可使用 Z值和標準正態(tài)分布表來估計多少比例的輸出會超出規(guī)格值 ﹕??Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一 .平均值全距管制圖 (XbarRchart) ? 對于單邊規(guī)格 ﹐ 可直接查表可得。 ? 對于雙邊規(guī)格 ﹐ 分別計算超過上 ﹑ 下規(guī)格界限的百分比。 Zmin也可以轉(zhuǎn)化為能力指數(shù) Cpk﹕ Cpk= Zmin /3=min[CPU,CPL] Zmin=3的過程 ﹐ 其能力指數(shù) Cpk=﹔ 如果 Zmin=4﹐ 則過程能力指數(shù)為 Cpk=.Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一 .平均值全距管制圖 (XbarRchart) ﹕ 評價制程能力的基本的目標是對過程性能進行持續(xù)改進。 不論是對未滿足的能力指數(shù)值作出響應(yīng)﹐ 或是為超過最低能力指數(shù)要求對持續(xù)改進成本和品質(zhì)性能作出響應(yīng) ﹐ 所要求的措施是相同的 ﹕Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一 .平均值全距管制圖 (XbarRchart) ?通過減少普通原因引起的變異或?qū)⑦^程均值 調(diào)整到接近目標值 方法來改進過程性能 ﹐ 這通常意味著要采取措施來改進系統(tǒng) ﹔ 對比較緊急的情況 ﹐ 可采用以下臨時措施 ﹕ ?對輸出進行篩選 ﹐ 根據(jù)需要進行報廢或返工 處置 ﹔ ?改變規(guī)范使之與過程性能一致。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一 .平均值全距管制圖 (XbarRchart) ﹕ 為了提高過程能力 ﹐ 必須重視減少普通原因。必須將注意力直接集中在系統(tǒng)中 ﹐ 即造成過程變異性上。 一般來說 ﹐ 矯正這些造成不可接受的過程能力的系統(tǒng)原因可能會超出操作者或者他們的現(xiàn)場管理人員的能力。這是可以采取一些管理層介入的作一些基本的變化 ﹑ 分配資源 ﹐ 并為改進過程的整個性能進行協(xié)調(diào)。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一 .平均值全距管制圖 (XbarRchart) ﹕ 對過程采取措施后 ﹐ 其效果應(yīng)在管 制圖上表現(xiàn)出來。 在對過程實施改變時 ﹐ 應(yīng)仔細監(jiān)視管制 圖。 在變化時期的所有不穩(wěn)定的因素都能解 決后 ﹐ 應(yīng)評定新的過程能力并將它作為將來 操作新管制限的基礎(chǔ) ﹐ 通常情況下 ﹐ 變化后 用 25個子組的數(shù)據(jù)足以建立新的管制限。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry二 .平均值標準差管制圖 (Xbarschart) 由于全距容易計算且對樣本容量較小的子組(n≦ 9)較為有效 ﹐ 所以用全距圖來作為過程變異的度量。樣本的標準差 s是過程變異性更有效的指標 ﹐ 尤其是對于樣本容量較大的情況。但它計算較復(fù)雜。一般來說 ﹐ 當出現(xiàn)下列情況時用 s圖代替 R圖。 ? 數(shù)據(jù)是由電腦按實時時序記錄或掃描 的 ﹐ s較易計算。 ? 有方便的計算器使 s的計算能簡單按程 序算出。 Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry二 .平均值標準差管制圖 (Xbarschart) Xbarschart的詳細說明與 XbarRchart相似 ﹐ 不同之處如下 ﹕ ﹕ ? 如果原始數(shù)據(jù)量大 ﹐ 常將它們記錄在單獨 的數(shù)據(jù)表上 ﹐ 只有每組的 Xbar和 s出現(xiàn)在 圖上 ﹔ ? 利用下列公式之一計算每個子組的標準差 ﹕Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry二 .平均值標準差管制圖 (Xbarschart) s= Σ (XiX)2/(n1)或 s= (ΣXinX2)/(n1) (X1+X2+…+XnnX2)/(n1) S圖的刻度尺寸應(yīng)與相對應(yīng)的 Xbar圖的相同。22 2Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry二 .平均值標準差管制圖 (Xbarschart) ﹕ CLs = s CLX =X UCLs =B4s UCLX =X + A3s LCLs =B3s LCLX =X – A3s式中 ﹕ s為各子組樣本標準差的均值 ﹐ B3﹑ B4和 A3隨樣本容量變化的常數(shù)。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry二 .平均值標準差管制圖 (Xbarschart) ﹕ (與 XbarRchart相同 )。 如果過程服從正態(tài)分布 ﹐ 只要均值和標準差均處于統(tǒng)計管制狀態(tài) ﹐ 可用 σ 的估計值來直接評價過程能力。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry第四章 計數(shù)型數(shù)據(jù)管制圖為什么使用計數(shù)型數(shù)據(jù)管制圖 ?? 計數(shù)型數(shù)據(jù)的情況存在于任何技朮或行政管理過程中 ﹐ 困難的是對不合格下個準確的定義 ﹔? 在檢驗 ﹑ 要求修理的書面記錄 ﹑ 拒收材料的篩選等使用計數(shù)型數(shù)據(jù)的情況下只是將數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化成管制圖的工作 ﹔? 在必須收集新數(shù)據(jù)的地方 ﹐ 獲得計數(shù)型數(shù)據(jù)通常很快且不需很多費用 ﹐ 并且由于使用簡單的量具 ﹐ 不需專業(yè)化的收集技朮 ﹔? 許多用于管理總結(jié)報告的數(shù)據(jù)是計數(shù)型的并且可以從管制圖分析中獲益。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry第 1節(jié) 不良率管制圖 (pchart) Pchart用來測量在一批檢驗項目中不合格品 (不符合或缺陷 )項目的百分比率。這可以評價一個特性值或是許多特性值 ﹐ 重要的是﹕ ? 把被檢查的每一個元件 ﹐ 零件或項目記 錄成合格或不合格 ﹔ ? 把這些檢驗的結(jié)果按一個有意義的基礎(chǔ) 條件分組 ﹐ 并且把不合格的項目用占子 組大小的百分比來表示。 Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry第 1節(jié) 不良率管制圖 (pchart)在使用 pchart以前需采取的幾個預(yù)備步驟 ﹕? 建立適合于實施的環(huán)境 ﹔? 定義過程 ﹔? 確定管制特性 ﹕216。客戶的需求 ﹔216。與生產(chǎn)關(guān)系密切的特性 ﹔216。經(jīng)常發(fā)生問題的特性 ﹔216。關(guān)鍵制程的特性 ﹔216?？闪繙y的特性。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry第 1節(jié) 不良率管制圖 (pchart)?定義量測系統(tǒng) ﹔?使不必要的變異最小化 ﹔ ﹑ 頻率及數(shù)量 ﹕ ﹕ 用于計數(shù)型數(shù)據(jù)的管制圖一般要求較大 的子組容量 (50~200或更多 )以便檢驗出性能的一 般變化。對于顯示可分析的圖形的管制圖 ﹐ 子組 容量應(yīng)大到每個組內(nèi)包括幾個不合格品。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry第 1節(jié) 不良率管制圖 (pchart) ﹕ 應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和矯正發(fā)現(xiàn)的問題。時間間隔短則反饋快 ﹐ 但可能與大的子組容量要求矛盾 ﹔ ﹕ 收集數(shù)據(jù)的時間應(yīng)足夠長 ﹐ 使得能找到所有可能的影響過程的變異源。一般情況下 ﹐ 也應(yīng)包括25或更多的子組 ﹐ 以便很好地檢驗過程的穩(wěn)定性﹐ 對過程性能也可產(chǎn)生可靠的估計。 Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry第 1節(jié) 不良率管制圖 (pchart) (p)﹕ p=(np)/p 其中 n被檢項目的數(shù)量 ﹔ np發(fā)現(xiàn)的不良項目的數(shù)量。 ﹕ 描繪數(shù)據(jù)點用的圖應(yīng)將不良率作為縱坐 標 ﹐ 子組識別作為橫坐標?？v坐標的刻度應(yīng) 從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不良率值 2倍的值。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry第 1節(jié) 不良率管制圖 (pchart) ﹕ 描繪每個子組的 p值 ﹐ 將這些點連成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。 當點描繪完后 ﹐ 大致看看是否合理。如發(fā)現(xiàn)任意一點比別的高出或低出許多 ﹐ 檢查計算是否正確。 記錄過程的變化或者可能影響過程的異常狀況 ﹐ 將它們記錄在管制圖