【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 σ)u (u+3σ)u =P( ──── z ( ────) a a 代入 X Z Z )1,0(~),(~ NZNX ????????????????210?? 例 (2) σ= X~N(25,2) ?求 P(Z≧ ) ?求 P(Z≦ ) )( ????? ? ?ZP %)( ??????? ? ?ZP X ~ N(μ,a) P(μ3σ＜ X＜ μ+3σ) = P(3＜ Z＜ +3) = % (目標(biāo)值與製程平均值 μ重疊 ,沒(méi)有 SHIFT) ? Cpu(單邊 UPPER ) ? CpL (單邊 Lower ) ? Cp製程潛能指數(shù) (雙邊 ) )(??UUSLZZUUSL???????? 3433 ????? ZLSL?? )( ???????? ??? LSLUSLLPLCpL u x (D)、 製程能力 : μ177。3σ 為 %良率 USL=u+4σ u4σ= LSL 4σ +4σ TARGET σ 使 容許度愈大則 Cp愈大愈好 使 製程穩(wěn)定，減少變異亦可使 Cp增大 ★要達(dá)成上述 HIGH Cp值唯一方法就是 TEAM WORK共同參與產(chǎn)品設(shè)計(jì)和流程設(shè)計(jì)， 亦即是利用同步工程和模擬工程原理 ? Cpk實(shí)際製程能力指數(shù) =Min.(CPU,CPL) 因此在 μ平均值與目標(biāo)值一致時(shí) Cp = Cpk ?????? ZUSLCpu ? ? )4( ??????? ??USLUCpL ??? ??????????LSLUSLCpCpLCpuCpOR (i) ),( ?? MinCpk )()1( ????? CaCp(ii) ???? ??? LSLUSL TARCa?(iii) ?????? ? ??? ?USL 設(shè)計(jì)規(guī)格容許度 USLLSL Cp = ────── = ──── 製程能力 177。3σ TARGET (有 SHIFT 分配 ) USL LSL 4σ + 4σ (原來(lái)分配 ) ? DPU=總?cè)秉c(diǎn)數(shù) /總檢查數(shù) ? DPU與卜氏分配 (POISSON DISTRIBUTION) 當(dāng)製程穩(wěn)定時(shí)， DPU呈現(xiàn)一常數(shù)，此時(shí)產(chǎn)品含有缺點(diǎn)數(shù)機(jī)率可用卜氏分配來(lái)計(jì)算 μ = 平均數(shù) ? DPU X = EVENTS ? q ★ FTY=FIRST TIME ，其機(jī)率為初產(chǎn)生機(jī)率 (FTY) 因此，以 q=0 代入 則 FTY=eDPU ( 如有四個(gè)流程其 DPU為 a , b , c , d 則其 FTY=e(a+b+c+d) ) ? TDU (TOTAL Defects per unit) 重要特性功能不良 (Design) 零件不良 (MAT’ L) 製程不良 (Workmanship , process , machine) ? DPU用途： (A) 預(yù)測(cè)產(chǎn)品品質(zhì)： 例 有 1000產(chǎn)品含有 519不良 (a) DPU=? (DPU=519/1000=) (b) q由 0 6 ,所含此不良產(chǎn)品數(shù) ? ? ? ? !)(! q eDPUqPX eXP DPUqX ???? ??? ? !)( q eDP UqP DPUq ??DPUDPUDPUTDU??????(E)、 認(rèn)識(shí) DPU q P{q； D/U} UNITS Defects 0 595 0 1 309 309 2 p(2) = 80 80X2=160 3 p(3) = 14 14X3=42 4 p(4)= 2 4X2=8 5 p(5)= ψ － － 6 p(6)= ψ － － 7 p(7)= ψ － － 1 1000 519 (B) 計(jì)劃和設(shè)計(jì)流程： 例 若檢查效率為 80%，要設(shè)計(jì)一個(gè)流程符合 ESCAPING DPU LEVEL 800PPM !1 *)()1(!)()0(?????????DPUDPUDPUqePeq eDPUPSUBMITTED DPU LEVEL ESCAPING DPU LEVEL = 800PPM DPU = 3,200 PPM OBSERVED DPU LEVEL DPU = 4,000 PPM Eff 80% (C) 用作不良預(yù)算工具 (Defect budgeting TOOL)以改進(jìn)品質(zhì)： ? 流程內(nèi)多檢查站分類登錄各項(xiàng)不良之 DPU ? 計(jì)算製程能力 Cp,Cpk ? 建立 Target 對(duì)產(chǎn)品 DPU最大值 ? 假設(shè)檢查站之 Eff. ? 由 SCAPING DPU往前算 SUBMITED DPU ? 分類管制 SUBMITED所訂定 DPU LEVEL ? 若有超過(guò) LEVEL暫時(shí)可加 INSP/TEST，永久解決則改進(jìn)或重設(shè)計(jì)更佳流程以降低 DPU增加 Cp,Cpk ? Cpk是計(jì)算不正常 LATENT ，若 DPU減少增加 Cpk亦即減少 LATENT (D) 用作績(jī)效分析： ? 在同樣設(shè)計(jì)和管制程度下， DPU與產(chǎn)品內(nèi)會(huì)製造不良機(jī)會(huì)成正比 ? 在產(chǎn)品或設(shè)備上， DPU與零件數(shù)成正比 ? 在軟體上， DPU與 Code Lines數(shù)成正比 ? 在半導(dǎo)體上， DPU與其 Die程序和 Layers,mask,sets bonds成正比 ? 同一種產(chǎn)品，在二個(gè)以上工廠生產(chǎn)， DPU會(huì)與管理不善工廠成正比 (E) 用作競(jìng)爭(zhēng)基準(zhǔn) Benchmarking： ? 產(chǎn)品設(shè)計(jì) Benchmarking(以 DPMO=(DPUX