【文章內(nèi)容簡介】 = % ndc =(PV/GRR） =( / ） = ~5 MSA 量測系統(tǒng)分析 17 佳聲企管 策動企業(yè)競爭力 MSA 量測系統(tǒng)分析 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10A 123平均值 X a =極差 Ra =B 123平均值 X b =極差 Rb =C 123平均值 X c =極差 Rc =零件平均值RXD I F F=*2 次測量時 D4= 3 . 2 7 , 3 次測量時 D4= 2 . 5 8 。 U CLR 代表個別 R 值的控制限。圈出那些超出控制限的點，查明其原因并采取糾正措施。重復以相同的評價人使用相同的量具讀取這些值；或剔除這些數(shù)值，并從其余的觀測值中重新平均和計算 R ，以及其限值。注：量具重復性和再現(xiàn)性數(shù)據(jù)收集表評價人/ 試驗次數(shù)零件平均值([Ra = ]+ [Rb = ]+ [Rc = ])/ [ 評價人數(shù) = ］ =XD I F F=[ 最大值 X = ] － [ 最小值 X = ]=* U CLR= [R= ] － [D4= ]=X= Rp 18 佳聲企管 策動企業(yè)競爭力 PPAP生產(chǎn)性零組件承認程序 佳聲企管 策動企業(yè)競爭力NO需求之文件（客戶如有規(guī)定表單，依客戶規(guī)定） 層級 1 層級 2 層級 3 層級 4 層級 5R S S * RR R R * RR S S * R2 工程變更文件（如發(fā)生時） R S S * R3 客戶工程核準（如要求時） R R S * R4 D F M E A R R S * R5 制造流程圖 R R S * R6 P E M E A R R S * R7 初樣尺寸檢查書 R S S * R8 初樣材質(zhì) / 性能測試報告書 R S S * R9 初期制程能力研究 R R S * R10 量測系統(tǒng)分析研究 R R S * R11 認可實驗文件 R S S * R12 管制計劃 R R S * R13 送件保證書（ P S W ） S S S S R14 外觀核準報告書（ AAR ）（如被指定時） S S S * R15 散裝材料要求查核表（適愛散裝材料） R R R * R16 產(chǎn)品樣品 R R S * R17 標準樣品 R R R * R18 檢驗輔助設備 R R R * R19 完整記錄（含客戶特定要求） R R S * RSR*須提送客戶核準，并保留影本記錄或文件于適當區(qū)域及制造場所。保存于適當區(qū)域及制造場所，并隨時借妥提供給有需求之客戶。保存于適當區(qū)域，并依客戶要求送件。1零組件之設計資料 ◎所有零組件 / 詳細 ◎所有其他零組件 / 詳細19 SPC 統(tǒng)計制程管理 佳聲企管 策動企業(yè)競爭力 目的：偵測－允許浪費 預防－避免浪費 如何選用適當之管理制圖 確定管理特性 是計量值嗎？ 是否依不良數(shù)計？ 是否依缺點數(shù)計？ 抽樣數(shù)是否固定？ 采用 P 抽樣數(shù)是否固定？ 采用 U 采用 P或 NP 特性相同嗎？ 或不可進行分組 抽樣嗎？ 每組平均值是否容易計算？ 每組抽樣術(shù)是否 9 每組標準差異 S 是否容易計算 采用 XR 采用 XR 采用 C或 U 采用 XR 采用 XR 您知道計量值數(shù)據(jù)的抽樣計劃，其允收規(guī)范為零點嗎？您知道CPK值與 PPK值的涵意與對策嗎？ NO NO NO NO NO NO NO NO YES YES 采用 X。 Rm YES YES YES YES YES 20 精稅顧問團隊 策動企業(yè)競爭能力 SPC統(tǒng)計過程控制 講師：張世忠 先生 21 SPC統(tǒng)計過程控制 管（控）制圖 ?管 (控 )制圖于西元 1924年由美國品管大師修華特博士所倡，因為方法簡單且且效果顯著，逆成為實施品質(zhì)管制時不可缺少的主要工具之一。 ?通常管制產(chǎn)品品質(zhì)是以間接管制其 [品質(zhì)特性 ]來達到目標的。但是即使是同一臺機器，同一個人利用同樣原料制造，這種品質(zhì)特性絕對不會固定在某一個點上，而是以目標中心值而左右晃動變化。 ?發(fā)生這種變異有兩種原因； （ 1）機遇原因（正常） 如：由于天氣的變化，環(huán)境的影響，原料及作業(yè)標準范圍內(nèi)的變化 … 等，對于這種機遇原因通常我們無法完全避免只好承認。 （ 2）非機遇原因（異常） 如：機器發(fā)生主病，不按照作業(yè)標準工作，使用標準以外的原料，工作不力，訂定的標準不合理 … 等，這種變異大部份都是人為的或人力可以控制的，就應迅速分析原因，采取整改措施，盡全力消除之。 ?當過程在受控狀態(tài)下（管制界限內(nèi)）進行，即可延長管制界限于下交次的生產(chǎn)活動，并每天抽樣檢驗點繪予控制圖上， 以事前檢測過程的變異，此取即為管（控）制圖運用的原理。 佳聲企管 策動企業(yè)競爭力 22 良率 — 常態(tài)分布 佳聲企管 策動企業(yè)競爭力 6O 5O 4O 3O 2O 1O 0 O 1O 2O 3O 4O 5O 6O ppm LSL USL Defective 317300 45500 2700 63 % % % % % % 23 【均值 ? 極差圖 範例】 在成形過程後對某部件厚度作量度，每小時取樣一次每次四個。連續(xù) 20 小時所得 80 個數(shù)據(jù)超出 吋之千分位數(shù)值 如下： 數(shù)組 數(shù)值 均值 極差 1 1 4 6 4 5 2 3 7 5 5 4 3 4 5 5 7 3 4 6 2 4 5 4 5 1 6 7 3 6 6 8 3 6 4 5 7 7 5 6 6 2 8 5 3 4 6 3 9 4 5 9 2 7 10 7 5 6 5 2 數(shù)組 數(shù)值 均值 極差 11 4 5 6 5 2 12 6 7 8 5 3 13 3 3 7 3 4 14 6 3 2 9 7 15 7 3 4 3 4 16 6 4 6 5 2 17 5 5 0 5 5 18 6 4 6 3 3 19 6 4 4 0 6 20 6 2 5 4 4 統(tǒng)計過程控制（ SPC) 佳聲企管 策動企業(yè)競爭力 24 佳聲企管 策動企業(yè)競爭力 0246810均值差值0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 總均值 X = 上控制界限 下控制界限 均值 ? 極差圖 XBar R 均差值 R = 統(tǒng)計過程控制（ SPC) 25 管制 圖 方法 ? 單獨一點逸出界限 管制上限 ? 管上 A 三點中有二點在此處或更高處 ? 制半 B 五點中有四點在此處或更處 ? 圖部 C 八點連串在此或更高處 ? 管下 C 八點連串在此處或更低處 ? 制半 B 五點中有四點在此處或更低處 ? 圖部 A 三點中有二點在此處或更低處 ? 單獨一點逸出界限 管制下限 ?中心線 佳聲企管 策動企業(yè)競爭力 26