質(zhì)量過程控制及改善培訓(xùn)教材(編輯修改稿)
2025-02-09 09:00 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 0 . 8 3C L 下 限 0 . 6 9C L 上 限 0 . 9 8P p 0 . 8 6整 體 能 力潛 在 （ 組 內(nèi) ） 能 力P P M L S L 1 0 0 0 0 . 0 0P P M U S L 1 0 0 0 0 . 0 0P P M 合 計(jì) 2 0 0 0 0 . 0 0實(shí) 測 性 能P P M L S L 6 1 2 4 . 5 0P P M U S L 1 9 4 7 . 1 1P P M 合 計(jì) 8 0 7 1 . 6 1預(yù) 期 組 內(nèi) 性 能P P M L S L 8 1 5 0 . 5 7P P M U S L 2 8 1 8 . 7 1P P M 合 計(jì) 1 0 9 6 9 . 2 8預(yù) 期 整 體 性 能組 內(nèi)整 體電 纜 直 徑（ 使 用 9 5 . 0 % 置 信 ）解釋結(jié)果 如果要解釋過程能力統(tǒng)計(jì)量，則數(shù)據(jù)應(yīng)近似服從正態(tài)分布。這一要求似乎已得到滿足，正如上方重疊有正態(tài)曲線的直方圖所示。但是，可以看到過程平均值 () 略小于目標(biāo) ()。并且分布的兩個尾部都落在規(guī)格限之外。這意味著，有時會發(fā)現(xiàn)某些電纜直徑小于 厘米的規(guī)格下限或大于 厘米的規(guī)格上限。 Ppk 指數(shù)表明過程生產(chǎn)的單位是否在公差 限內(nèi)。此處， Ppk 指數(shù)為 ，表明制造商必須通過減少變異并使過程以目標(biāo)為中心來改進(jìn)過程。顯然，與過程不以目標(biāo)為中心相比，過程中的較大變異對此生產(chǎn)線而言是嚴(yán)重得多的問題。 同樣， PPM 合計(jì)（預(yù)期整體性能）是其受關(guān)注的特征在公差限之外的百萬分?jǐn)?shù) 部件數(shù) ()。這意味著每一百萬條線纜中大約有 10969 條不符合規(guī)格。制造商未滿足客戶的要求，應(yīng)通過降低過程變異來改進(jìn)其過程。 12. 連續(xù)數(shù)據(jù)能力分析 綜合能力分析 解釋結(jié)果 在控制圖和 R 控制圖上，點(diǎn)都是隨機(jī)分布在控制極限之間的，表明這是穩(wěn)定過程 。但是，還應(yīng)比較 R 控制圖與 控制圖上的點(diǎn)，以查看它們是否彼此相似。本例中的這些點(diǎn)并非這樣，再次表明這是穩(wěn)定過程。最后 20 個子組的控制圖上的點(diǎn)隨機(jī)地水平散開，沒有趨勢或偏移，這也表明過程是穩(wěn)定的。 如果要解釋過程能力統(tǒng)計(jì)量，則您的數(shù)據(jù)應(yīng)近似服從正態(tài)分布。在能力直方圖上，數(shù)據(jù)近似服從正態(tài)曲線。在正態(tài)概率圖上，點(diǎn)近似呈一條直線，并落于 95% 置信區(qū)間內(nèi)。這些模式表明數(shù)據(jù)是正態(tài)分布的。但是，從能力圖 可以看出，整體過程變異的區(qū)間（整體）比規(guī)格限的區(qū)間（規(guī)格）寬。這意味著有時線纜的直徑會超出公差 限 [, ]。此外， Ppk 的值 () 落于要求的目標(biāo) 之下，表明制造商需要改進(jìn)過程。 1 91 71 51 31 1975310 . 5 60 . 5 40 . 5 2樣本均值__X = 0 . 5 4 6 4 6U C L = 0 . 5 7 1 3 4L C L = 0 . 5 2 1 5 81 91 71 51 31 1975310 . 1 00 . 0 50 . 0 0樣本極差_R = 0 . 0 4 3 1U C L = 0 . 0 9 1 2L C L = 02 01 51 050 . 6 00 . 5 50 . 5 0樣 本值0 . 6 00 . 5 80 . 5 60 . 5 40 . 5 20 . 5 0L S L 目 標(biāo) U S LL S L 0 . 5 0目 標(biāo) 0 . 5 5U S L 0 . 6 0規(guī) 格0 . 6 00 . 5 50 . 5 0組 內(nèi)整 體規(guī) 格標(biāo) 準(zhǔn) 差 0 . 0 1 8 5 4 7 7C p 0 . 9C p k 0 . 8 3組 內(nèi)標(biāo) 準(zhǔn) 差 0 . 0 1 9 3 4 1 4P p 0 . 8 6P p k 0 . 8C p m 0 . 8 5整 體電 纜 直 徑X b a r 控 制 圖R 控 制 圖最 后 2 0 個 子 組能 力 直 方 圖正 態(tài) 概 率 圖A D : 0 . 2 3 3 ， P : 0 . 7 9 4能 力 圖解釋結(jié)果 P 控制圖表明有 1 個點(diǎn)不受控。累積缺陷百分比控制圖 顯示整體缺陷品率的估計(jì)值似乎停留在 22% 左右，但需要收集更多數(shù)據(jù)對此加以驗(yàn)證。缺陷品率似乎不受樣本大小的影響。過程 Z 大約為 ，非常差。此過程可能需要進(jìn)行大量改進(jìn) 。 13. 缺陷數(shù)據(jù)能力分析 缺陷品 1 91 71 51 31 1975310 . 2 60 . 2 40 . 2 20 . 2 0樣 本比率_P = 0 . 2 2 6 4 3U C L = 0 . 2 5 5 5 2L C L = 0 . 1 9 7 3 32 01 51 052 3 . 52 3 . 02 2 . 52 2 . 02 1 . 5樣 本%缺陷置 信 區(qū) 間 上 限 : 0 . 7 6 4 6% 缺 陷 : 2 2 . 6 4置 信 區(qū) 間 下 限 : 2 2 . 2 2置 信 區(qū) 間 上 限 : 2 3 . 0 7目 標(biāo) : 0 . 0 0P P M 缺 陷 : 2 2 6 4 2 7置 信 區(qū) 間 下 限 : 2 2 2 2 4 1置 信 區(qū) 間 上 限 : 2 3 0 6 5 4過 程 Z : 0 . 7 5 0 7置 信 區(qū) 間 下 限 : 0 . 7 3 6 7（ 9 5 . 0 % 置 信 ）摘 要 統(tǒng) 計(jì)2 0 0 01 9 2 01 8 4 02 62 42 22 0樣 本 數(shù) 量%缺陷2 42 01 61 284086420% 缺 陷頻率T a r1廢 品 的 檢 驗(yàn)P 控 制 圖使 用 不 相 等 樣 本 量 進(jìn) 行 的 檢 驗(yàn)累 積 % 缺 陷缺 陷 率直 方 圖 解釋結(jié)果 U 控制圖 表明有 3 個點(diǎn)不受控制。累積 DPU 控制圖 （每單位的缺陷數(shù) ）停留在值 附近，表明收集的樣本足以很好地估計(jì) DPU 平均值。 DPU 的比率似乎不受電線長度的影響。 13. 缺陷數(shù)據(jù)能力分析 缺陷品 9 18 17 16 15 14 13 12 11 110 . 0 7 50 . 0 5 00 . 0 2 50 . 0 0 0樣 本每單位樣本計(jì)數(shù)_U = 0 . 0 2 6 5 2U C L = 0 . 0 6 9 0 4L C L = 01 0 08 06 04 02 000 . 0 3 00 . 0 2 50 . 0 2 00 . 0 1 5樣 本DPUD P U 均 值 : 0 . 0 2 6 5置 信 區(qū) 間 下 限 : 0 . 0 2 3 7置 信 區(qū) 間 上 限 : 0 . 0 2 9 5最 小 D P U : 0 . 0 0 0 0最 大 D P U : 0 . 0 7 5 3目 標(biāo) D P U : 0 . 0 0
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