【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 的而做 層 別。 2. 要使收集之 數(shù)據(jù) 能快速有效， 應(yīng) 以查 檢 表來(lái)收集 數(shù)據(jù) 。 3. 做好 與數(shù)據(jù) 相 關(guān) 的 重重層 別，得先明 確數(shù)據(jù) 的性 質(zhì) ，必 須做好 5W1H。 4. 層 別所得之情 報(bào)應(yīng)與 行 動(dòng)相結(jié)合 。 54 五 散 布圖 55 何 謂散布圖 ?一般 來(lái)說(shuō) ，一 種獨(dú)立數(shù)據(jù) (無(wú)相關(guān) )時(shí) ，直方 圖 、柏拉圖 就可以找到改善的 關(guān)鍵 。但是在相互有 關(guān)系的數(shù)據(jù)時(shí) ，作成散 布圖較 容易 了解 ?所 謂 「 散布圖 」就是成 對(duì) 的二 種數(shù)據(jù) ，在方格 紙 上以點(diǎn)來(lái) 表示二者之 間 相 關(guān) 情形的 圖 ，又 稱(chēng)為 「相 關(guān)圖 」。 56 在工程上，工程要因和品 質(zhì) 特性 (結(jié) 果 )，工程中的數(shù)個(gè) 品 質(zhì) 特性，有 數(shù)種數(shù)據(jù) ，有一 種數(shù)據(jù)連續(xù)變 化時(shí)，關(guān)連 其他 數(shù)據(jù) 有也 連續(xù)變化化時(shí) ， 稍 之互相有相 關(guān)關(guān)系 。 例如： 螺絲 的栓 緊轉(zhuǎn) 距和伸 張長(zhǎng) 度 溫 度和油的粘度 上 課時(shí)間 和疲 勞 度 /通用格式 /通用格式 /通用格式 /通用格式 /通用格式 /通用格式 /通用格式 /通用格式 /通用格式 /通用格式 /通用格式 /通用格式 /通用格式 /通用格式 /通用格式 /通用格式 /通用格式 /通用格式 /通用格式 /通用格式 /通用格式 /通用格式 數(shù)學(xué)成績(jī) 語(yǔ)文成績(jī) 散 布圖 的 用途 ? 知道 兩個(gè)變數(shù)間關(guān)系 ? 有 無(wú)差異 值存在 ? 尋 找代用特性 57 三、散布圖的制作方法 以橫軸（ x軸）表示原因，縱軸（ y軸）表示結(jié)果，作法如下： 收集成對(duì)的數(shù)據(jù)（ x1,y1),(x2,y2), … 整理 成數(shù)據(jù)表。 No. X Y 1 X1 Y1 2 X2 Y2 3 X3 Y3 4 X4 Y4 … … … 找出 x， y的最大值及最小值。 以 x， y的最大值及最小值建立 xy座標(biāo)，并決定 適當(dāng)刻度便于繪點(diǎn)。 將數(shù)據(jù)依次點(diǎn)于 xy座標(biāo)中，兩組數(shù)據(jù)重復(fù)時(shí)以 ◎表示，三組數(shù)據(jù)重復(fù)時(shí)以表示。 必要時(shí)，可將相關(guān)資料注記于散布圖上。 58 散 布圖 之 讀圖 １ )正相 間 Ｘ值增加 ， Ｙ值亦 隨 之增加，故可 謂 有 正 相 關(guān) 之 關(guān)系 。 59 ２ )弱正相 關(guān) Ｘ值增加，Ｙ值 雖 然亦有增加 ， 但是Ｙ值增加 趨勢(shì) 不如正相 關(guān) 明 顯 ，且Ｙ值增加 并 不完全受Ｘ值之原因所影 響 ，此此只表示出 兩 者 為 弱的正相 關(guān)關(guān)系 。 60 ３ )負(fù) 相 關(guān) Ｘ值增加，Ｙ值 欲 有退減之 趨勢(shì) ，故可 謂 有 負(fù) 相 關(guān) 之 關(guān)系 。 61 ４ )弱 負(fù) 相 關(guān) 同弱正相 關(guān) 之道理，此 圖顯示 出弱的 負(fù) 相 關(guān)關(guān)系 。 62 ５ )不相 關(guān) 圖 內(nèi) 點(diǎn) 的分 布略 呈 圖 形分，在此情況下即表示 兩 者是不相 關(guān)關(guān)系 。 63 實(shí)例 真空 蒸鍍的作業(yè)過(guò)程中，電子束的 強(qiáng)度影響 蒸鍍產(chǎn)品的膜 厚，希望 找出二者間的相互關(guān)系。 收集數(shù)據(jù)。 X＝強(qiáng)度（ KV） Y＝膜度 （ um) No. X Y 1 50 2 70 3 100 4 80 5 60 No. X Y 6 50 7 90 8 90 9 70 10 70 64 找出 x， y的最大值及最小值。 X max＝ 100 Y max＝ X min＝ 50 Y min＝ 劃出 XY軸的座標(biāo)并取適當(dāng)刻度。 將數(shù)據(jù)點(diǎn)繪 XY座標(biāo)中。 50 50 60 70 80 90 100 100 60 70 80 90 ： ： . . . . ： X=強(qiáng)度（ KV） Y=膜度（ um) 65 注意事項(xiàng) １ ) 在 兩種 因素 尋 找相 關(guān) 性 時(shí) 才使用 ２ ) 數(shù)據(jù) 至少 30組 以上 ３ ) 縱 、橫 軸 座 標(biāo)無(wú) 需 從 零 間開(kāi) 始，也 無(wú) 需考 濾 刻度之相同性。 ４ ) 正比例之 數(shù)據(jù)為 正相 關(guān) ；反比例之 數(shù)據(jù)為 負(fù)相 關(guān) ，不成比例之 數(shù) 據(jù)為無(wú) 相 關(guān) ５ ) 圖 形以正方形比例 為 最佳。 66 六 管制 圖 67 管制界限 的 構(gòu)成 ： 管制 圖是 以正態(tài) 分配中之三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差為理論依據(jù)，中心線為平均值 ，下 管制界限以平均數(shù)加減三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差 177。 3σ ）之值，以判斷制程中是否有問(wèn)題 發(fā) ，此即修哈特博士（ )所創(chuàng)之法 。 管制圖既以 3個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差為基礎(chǔ)，換言之，只要群體 為正態(tài) 分配，則自該 群體進(jìn)行取樣時(shí)，取出之?dāng)?shù)值加以平均計(jì)算來(lái)代表群體狀況，則每進(jìn)行 10000次之抽樣會(huì)有 27次數(shù)值會(huì)超出 177。 3 之外；亦即每 1000次約會(huì)有 3次， 此 3次是偶然機(jī)會(huì)，不予計(jì) 。 同樣平時(shí) 抽樣時(shí)如有超出時(shí)，即予判定 為異常 ，則誤判之機(jī)率亦為千 分 之 三，應(yīng)信其有；故管制界限以加減 3個(gè) 標(biāo)準(zhǔn)差 訂立之應(yīng)是最符合 經(jīng)濟(jì)效益 的 。 68 管制 圖的管制 界限系 將正態(tài)分布旋轉(zhuǎn) 90176。 后 ，于平均值處作成中心線（ CL），平均值加三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差處作成上管制界限（ UCL），于平均值減三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差作成下管制界限（ LCL） . 3σ μ ＋ 3σ 3σ 2σ 1σ μ ＋ 1σ ＋ 2σ ＋ 3σ % % % μ ＋ 3σ 3σ UCL LCL CL 90176。 69 ３、管制圖之種類(lèi) 依數(shù)據(jù)性質(zhì)分類(lèi)： （ 1）計(jì)量值管制圖：所謂計(jì)量值系指管制圖之?dāng)?shù)據(jù)屬于由量具實(shí)際量測(cè)而得； 如長(zhǎng)度、重量、濃度等特性均為連續(xù)性者。常用的有： a 平均數(shù)與全距管制圖（ XR Chart) b 平均數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖（ X Chart) c 中位數(shù)與全距管制圖（ XR Chart) d 個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖（ XRm Chart) e 最大值與最小值管制圖（ LS Chart) （ 2）計(jì)數(shù)值管制圖：所謂計(jì)數(shù)值系指管制圖之?dāng)?shù)據(jù)均屬于以單位計(jì)數(shù)者而得； 如不良數(shù)、缺點(diǎn)數(shù)等間斷性數(shù)據(jù)均屬之。常用的有： a 不良率管制圖（ P Chart) b 不良數(shù)管制圖（ Pn Chart) c 缺點(diǎn)數(shù)管制圖（ C Chart) d 單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖（ U Chart) 70 依管制圖之用途分類(lèi)： (1）分析 用管制圖：此種管制圖先有數(shù)據(jù)，后有管制界限。（ μ 與 σ 未知 之 群體） a 解決方針用 b 制程解析用 c 制程能力研究用 d 制程管制之 準(zhǔn)備 （ 2）管制用管制圖：先有管制界限，后有數(shù)據(jù)（ U和 σ 已知 之群體）其 用 主要途 為控制制程之品質(zhì)，如有點(diǎn)子超出管制界限時(shí)，即立即采取措施。 （原因追查 → 消除原因 → 再防止之研究） 71 ４、管制圖之繪制： 計(jì)量值管制圖： （ 1） XR管制圖： a、先行收集 100個(gè)以上數(shù)據(jù)，依測(cè)定之先后順序排列之。 b、以 2～ 5個(gè)數(shù)據(jù)為一組（一般采 4～ 5個(gè)），分成約 20～ 25組。 c、將各組數(shù)據(jù)記入數(shù)據(jù)表欄位內(nèi)。 d、計(jì)算各組之平均值 X。（取至測(cè)定值最小單位下一位數(shù)） e、計(jì)算各組之全距 R。（最大值 — 最小值＝ R） f、計(jì)算總平均 X。 X＝（ X1+X2+X3+……+X k） /k＝ ∑ Xi/k(k為組數(shù)） g、計(jì)算全距之平均 R： R＝（ R1+R2+R3+……+R k） /k＝ ∑ Ri/k 72 h、計(jì)算管制界限： X管制圖：中心線（ CL）＝ X 管制上限（ UCL）＝ X+A2R 管制下限（ LCL）＝ XA2R R管制圖：中心線（ CL）＝ R 管制上限（ UCL）＝ D4*R 管制下限（ LCL）＝ D3*R A2， D3， D4之值，隨每組之樣本數(shù)不同而有差異，但 仍遵循三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差之原理，計(jì)算而得，今已被整理成 常用系數(shù)表。 i、繪制中心線及管制界限，并將各點(diǎn)點(diǎn)入圖中。 j、將各數(shù)據(jù)履歷及特殊原因記入，以備查考、分析、判斷。 ＝ ＝ _ _ _ _ _