minitablespc(編輯修改稿)
2025-01-26 19:11 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 ^6σS C4^5. 過程能力的度量指數(shù)216。CP 為能力指數(shù) ,定義為不考慮過程偏移時(shí) ,公差 寬度除以過程固有偏差的 6σ范圍 ,公式如下 :CP= USLLSL6σR d2^或 CP= USLLSL式中 : USL=規(guī)格上界限 LSL=規(guī)格下界限^ =過程固有偏差=估計(jì)的過程標(biāo)準(zhǔn)差R=子組內(nèi)數(shù)據(jù)極差的平均值d2=常數(shù) ,查表可得S=子組樣本標(biāo)準(zhǔn)差的平均值 ,其中 :S=2C4=常數(shù) ,查表可得n=子組樣本容量21216。CPU 為上限能力指數(shù) ,定義為規(guī)格上界限與平均值之差除以過程固有偏差的 3σ范圍 .表示如下 :式中 : USL=規(guī)格上界限 σR d2^ =過程固有偏差CPU= USLX3σR d2^ X=所有樣本的平均值216。CPL 為下限能力指數(shù) ,定義為平均值與規(guī)格下限之差除以過程固有偏差的 3σ范圍 .表示如下 :式中 : LSL=規(guī)格下界限 σR d2^ =過程固有偏差CPL= XLSL3σR d2^ X=所有樣本的平均值22216。CPK 是考慮過程偏移時(shí)的能力指數(shù) , 定義為 CPU和CPL中的最小值 ,它等于過程均值與最近的規(guī)范之差除以過程固有偏差的 3σ范圍 .表示如下 :CPK=Min[CPL, CPU]216。PP 為性能指數(shù) ,定義為不考慮過程偏移時(shí) ,公差 寬度除以過程總偏差的 6σ范圍 ,公式如下 :PP= USLLSL6σS^式中 : USL=規(guī)格上界限 LSL=規(guī)格下界限n=所有樣本的數(shù)量6σS^ =過程總偏差 σS=^ 223216。PPU 為上限性能指數(shù) ,定義為規(guī)格上界限與平均值之差除以過程總偏差的 3σ范圍 .表示如下 :式中 : USL=規(guī)格上界限PPU= USLX X=所有樣本的平均值216。PPL 為下限性能指數(shù) ,定義為平均值與規(guī)格下限之差除以過程總偏差的 3σ范圍 .表示如下 :式中 : LSL=規(guī)格下界限PPL= XLSL X=所有樣本的平均值
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