測試方法簡介(編輯修改稿)
2024-10-03 11:29 本頁面
【文章內容簡介】 合物熱轉變溫度及各種熱效應的信息靜態(tài)熱―力分析 TMA分析原理：樣品在恒力作用下產生的形變隨溫度或時間變化譜圖的表示方法：樣品形變值隨溫度或時間變化曲線提供的信息：熱轉變溫度和力學狀態(tài)動態(tài)熱―力分析 DMA分析原理：樣品在周期性變化的外力作用下產生的形變隨溫度的變化譜圖的表示方法：模量或tgδ隨溫度變化曲線提供的信息：熱轉變溫度模量和tgδ透射電子顯微術 TEM分析原理：高能電子束穿透試樣時發(fā)生散射、吸收、干涉和衍射，使得在相平面形成襯度，顯示出圖象譜圖的表示方法：質厚襯度象、明場衍襯象、暗場衍襯象、晶格條紋象、和分子象提供的信息：晶體形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相結構和晶格與缺陷等掃描電子顯微術 SEM分析原理：用電子技術檢測高能電子束與樣品作用時產生二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線等并放大成象譜圖的表示方法：背散射象、二次電子象、吸收電流象、元素的線分布和面分布等提供的信息：斷口形貌、表面顯微結構、薄膜內部的顯微結構、微區(qū)元素分析與定量元素分析等原子吸收 AAS原理：通過原子化器將待測試樣原子化，待測原子吸收待測元素空心陰極燈的光，從而使用檢測器檢測到的能量變低，從而得到吸光度。吸光度與待測元素的濃度成正比。(Inductive coupling high frequency plasma)電感耦合高頻等離子體 ICP原理：利用氬等離子體產生的高溫使用試樣完全分解形成激發(fā)態(tài)的原子和離子，由于激發(fā)態(tài)的原子和離子不穩(wěn)定，外層電子會從激發(fā)態(tài)向低的能級躍遷，因此發(fā)射出特征的譜線。通過光柵等分光后，利用檢測器檢測特定波長的強度，光的強度與待測元素濃度成正比。Xray diffraction ,x射線衍射即XRDX射線是原子內層電子在高速運動電子的
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