測試方法簡介-文庫吧在線文庫
【正文】 分析原理：在控溫環(huán)境中，樣品重量隨溫度或時間變化譜圖的表示方法：樣品的重量分數(shù)隨溫度或時間的變化曲線提供的信息：曲線陡降處為樣品失重區(qū)，平臺區(qū)為樣品的熱穩(wěn)定區(qū)熱差分析 DTA分析原理：樣品與參比物處于同一控溫環(huán)境中，由于二者導熱系數(shù)不同產(chǎn)生溫差，記錄溫度隨環(huán)境溫度或時間的變化譜圖的表示方法：溫差隨環(huán)境溫度或時間的變化曲線提供的信息：提供聚合物熱轉(zhuǎn)變溫度及各種熱效應的信息示差掃描量熱分析 DSC分析原理：樣品與參比物處于同一控溫環(huán)境中，記錄維持溫差為零時，所需能量隨環(huán)境溫度或時間的變化譜圖的表示方法：熱量或其變化率隨環(huán)境溫度或時間的變化曲線提供的信息：提供聚合物熱轉(zhuǎn)變溫度及各種熱效應的信息靜態(tài)熱―力分析 TMA分析原理：樣品在恒力作用下產(chǎn)生的形變隨溫度或時間變化譜圖的表示方法：樣品形變值隨溫度或時間變化曲線提供的信息：熱轉(zhuǎn)變溫度和力學狀態(tài)動態(tài)熱―力分析 DMA分析原理：樣品在周期性變化的外力作用下產(chǎn)生的形變隨溫度的變化譜圖的表示方法：模量或tgδ隨溫度變化曲線提供的信息：熱轉(zhuǎn)變溫度模量和tgδ透射電子顯微術(shù) TEM分析原理：高能電子束穿透試樣時發(fā)生散射、吸收、干涉和衍射，使得在相平面形成襯度，顯示出圖象譜圖的表示方法：質(zhì)厚襯度象、明場衍襯象、暗場衍襯象、晶格條紋象、和分子象提供的信息：晶體形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相結(jié)構(gòu)和晶格與缺陷等掃描電子顯微術(shù) SEM分析原理：用電子技術(shù)檢測高能電子束與樣品作用時產(chǎn)生二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線等并放大成象譜圖的表示方法：背散射象、二次電子象、吸收電流象、元素的線分布和面分布等提供的信息：斷口形貌、表面顯微結(jié)構(gòu)、薄膜內(nèi)部的顯微結(jié)構(gòu)、微區(qū)元素分析與定量元素分析等原子吸收 AAS
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