[建筑]白光led色度特性研究(編輯修改稿)
2025-09-17 16:55 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 表面 ,抽濾 、 洗滌和干燥 , 將熒光粉置入馬福爐中在 600 ℃ 和碳還原氣氛下燒 結(jié) 30 min , 燒 結(jié) 產(chǎn) 物 經(jīng) 研 磨 、 篩 后 得 到 包 覆 有 過 La2 O3 的熒光粉 。 ) 白光 L ED 封裝 : 首先在 In GaN 芯片上涂敷 3 非常薄的 AB 膠 ,然后取一定比例的 YA G 熒光粉與 AB 膠混合物涂敷在上面 , 最后采用傳統(tǒng)方法灌膠 、 固化 ,完成白光 L ED 封裝 。 3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析 3. 1 熒光強(qiáng)度的變化 從圖不難看出 , 包膜后的熒光粉熒光譜峰位置 ( 550 nm) 并沒有變化 , 只是熒光強(qiáng)度較未包膜的熒 光粉有一定程度的下降 。這是由于包膜后發(fā)光中心 Ce3 + 處于晶體內(nèi)部 , 影響了其對(duì)激發(fā)光的吸收和熒 光的出 射 。同 時(shí) , 包 覆 La2 O3 膜 的 熒 光 粉 較 包 覆 Al 2 O3 膜的 熒 光 粉 熒 光 強(qiáng) 度 下 降 較 小 , 這 是 因 為 La3 + 結(jié)構(gòu)和 Ce3 + 比較接近 , 基本上沒有破壞 YA G: Ce3 + 的 晶 狀 結(jié) 構(gòu) , 使 其 發(fā) 光 性 能 下 降 不 大 , 表 明 使用 RF25301 熒光分光光度計(jì)測量 YA G: Ce3 + 熒光粉的發(fā)射光譜 。用 460 nm 的藍(lán)光激發(fā) , 測量包 覆 Al 2 O3 膜的熒光粉和包覆 La2 O3 膜的熒光粉的發(fā) 射光譜 ,如圖 1 所示 。 圖1 未包膜熒光粉與包膜熒光粉的發(fā)射光譜 Fig. 1 Fluorescence spectra of no coated phosphor and coated phosphor 從圖 2 看到 ,開始時(shí) ,使用未包膜熒光粉的 L ED 發(fā)光強(qiáng)度和光通量都是最高 , 使用 La2 O3 包膜熒光 粉 L ED 次之 ,使用 Al 2 O3 包膜熒光粉 L ED 最低 , 說 明包膜后熒光粉的發(fā)光受到影響 , 但 La2 O3 包膜對(duì) 熒光粉的影響較 Al 2 O3 小得多 。同時(shí) , 在 L ED 連續(xù) 工作了 200 h 后 , 未包膜熒光粉封裝的 L ED 由于熱 效應(yīng)和光效應(yīng)作用 , 熒光粉性能劣化 , 發(fā)光強(qiáng)度已經(jīng) 下降到與 La2 O3 包膜熒光粉封裝的 L ED 相同水平 , 并有進(jìn)一步下降的趨勢 。在連續(xù)工作 200 h 后 ,未包 膜熒光粉 L ED 的光通量已經(jīng)下降到和 La2 O3 包膜 熒光粉 L ED 相同水平 ,其后 La2 O3 包膜熒光粉 L ED 的光通量超過未包膜熒光粉 L ED 的光通量 。 為了更清晰地觀察 3 種 L ED 的光衰趨勢 , 使用 一階函數(shù)對(duì)曲線進(jìn)行擬合 ,得到擬合直線的斜率如表 1 所示 。 第7期 王 晶等 : 白光 L ED 色度特性研究 表 1 種 L ED 發(fā)光強(qiáng)度和光通量曲線的斜率 3 Tab. 1 Slope of imitated line of intensity and luminous flux about three sorts L ED No coadted L uminous intensit y/ cd L uminous flux/ lum 0. 025 7 0. 002 85 Coadted wit h La 2 O 3 0. 011 7 0. 001 36 Coadted wit h Al 2 O 3 0.
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