現(xiàn)代材料分析方法(7-xps)(編輯修改稿)
2025-09-12 02:35 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 X有一定的線性關系 。 XPS ? XPS中的化學位移 ? 化學位移的經(jīng)驗規(guī)律 ? 對少數(shù)系列化合物 ， 由 NMR(核磁共振波譜儀 )和 Mossbauer譜儀測得的各自的特征位移量同 XPS測得的結(jié)合能位移量有一定的線性關系 。 ? XPS的化學位移同宏觀熱力學參數(shù)之間有一定的聯(lián)系 。 XPS ? XPS分析方法 ?定性分析 同 AES定性分析一樣 ， XPS分析也是利用已出版的 XPS手冊 。 XPS ? XPS分析方法 ? 定性分析 譜線的類型 ? 在 XPS中可以觀察到幾種類型的譜線 。 其中有些是 XPS中所固有的 ， 是永遠可以觀察到的；有些則依賴于樣品的物理 、 化學性質(zhì) 。 ? 光電子譜線 ： 在 XPS中 ， 很多強的光電子譜線 一般是對稱的 ， 并且很窄 。 但是 ， 由于與價電子的耦合 ， 純金屬 的 XPS譜也 可能 存在明顯的 不對稱 。 XPS ? XPS分析方法 ? 定性分析 譜線的類型 ? 譜線峰寬： 譜線的峰寬一般是譜峰的自然線寬 、 X射線線寬和譜儀分辨率的卷積 。高束縛能端弱峰的線寬一般比低束縛能端的譜線寬 1~4 eV。 絕緣體的譜線一般比導體的譜線寬 eV。 XPS ? XPS分析方法 ? 定性分析 譜線的類型 ? Auger譜線： 在 XPS中 ， 可以觀察到 KLL, LMM, MNN和 NOO四個系列的 Auger線 。 ? 因為 Auger電子的動能是固定的 ， 而 X射線光電子的束縛能是固定的 ， 因此 ， 可以通過改變激發(fā)源 (如 Al/Mg雙陽極 X射線源 )的方法 ， 觀察峰位的變化與否而識別 Augar電子峰和 X射線光電子峰 。 XPS ? XPS分析方法 ? 定性分析 譜線的類型 ? X射線的伴峰： X射線一般不是單一的特征 X射線 ， 而是還存在一些能量略高的小伴線 ， 所以導致 XPS中 ， 除 K?1,2所激發(fā)的主譜外 ， 還有一些小的伴峰 。 XPS ? XPS分析方法 ? 定性分析 譜線的類型 Mg陽極 X射線激發(fā)的 C1s主峰及伴峰 XPS ? XPS分析方法 ? 定性分析 譜線的類型 ? X射線 “ 鬼峰 ” ： 有時 ， 由于 X射源的陽極可能不純或被污染 ， 則產(chǎn)生的 X射線不純 。 因非陽極材料 X射線所激發(fā)出的光電子譜線被稱為 “ 鬼峰 ” 。 Contaminating Radiation Anode Materials Mg Al O (K?) Cu (L?) Mg (K?) Al (K?) XPS ? XPS分析方法 “震激 ” (shake up)效應的伴線和 “ 震離 ” (shake off)效應 當光電離發(fā)生在芯電子能級時，由于失去了一個屏蔽電子，有效的核電荷突然改變，價電子必須重組，其結(jié)果可能激發(fā)
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