【文章內(nèi)容簡介】 38晶片尺寸晶片尺寸是指探頭晶片的面積，斜探頭用長寬表示，直探頭用直徑表示。參見4339探頭前沿探頭前沿是指斜探頭的入射點至探頭最前端的距離。參見43 310探頭頻率探頭頻率是指探頭中晶片固有（諧振）頻率。參見43311工件聲速工件聲速是指聲波在工件中傳播的速度。參見43312表面補償表面補償是指由于工件表面粗糙度等原因而對靈敏度進行的補償，補償后回波出現(xiàn)變化，但DAC/AVG曲線不會變化，即回波當量值出現(xiàn)改變。參見411 313判廢偏移判廢偏移是指DAC曲線中判廢線（RL線）與母線可選擇的偏移量。參見411 314定量偏移定量偏移是指DAC曲線中定量線（SL線）與母線可選擇的偏移量。參見411 315評定偏移（測長偏移）評定偏移是指DAC曲線中評定線（測長線）（EL線）與母線可選擇的偏移量。參見411316濾波頻帶濾波頻帶可選，分為：， MHz， wide。通過選擇與探頭頻率相配的頻帶，可以獲得最佳的信噪比和分辨力，務(wù)必使用與探頭頻率相一致的濾波頻帶。參見43317按鍵聲音按鍵時是否伴有聲音。參見411318探頭阻尼探頭阻尼可調(diào)，分為：50和400歐姆。選擇與探頭及探頭線相匹配的探頭阻尼，可以獲得最佳的信噪比及分辨力。阻尼一般指并聯(lián)在輸出端的阻尼電路，其作用是電路衰減、阻抗匹配、縮短前沿等，以便在使用頻率不同類型的超聲探頭時獲得高靈敏度或高分辨率等較佳效果，推薦使用HD/400。參見44319發(fā)射電壓發(fā)射電壓可調(diào)，分為：100V、200V、400V和800V。發(fā)射電壓的高低影響儀器的信噪比。發(fā)射電壓高，發(fā)射的脈沖超聲波就越強。但脈沖電壓提高到一定值時，輸出趨于飽和，此時反而會因脈沖加寬而增加盲區(qū)?？紤]到發(fā)射的脈沖電壓高低與上升時間有關(guān)，因此本儀器為兼顧不同需要將發(fā)射電壓分為四檔，儀器默認為MV/400V。參見44320第四章 鍵盤及其功能在非測試狀態(tài)，用戶按設(shè)置、測試、選項、標準、功能 、和查詢六鍵會出現(xiàn)相應(yīng)菜單，其它鍵代表相應(yīng)的含義，具體功能在本章詳細說明；在數(shù)據(jù)輸入狀態(tài)，各鍵為數(shù)字鍵及小數(shù)點，用于輸入數(shù)值；在出現(xiàn)菜單或?qū)υ捒蚝?，各鍵代表相關(guān)標號選擇。本章內(nèi)容與其它章節(jié)內(nèi)容有較大關(guān)聯(lián)，在閱讀時可前后對照，以便加深理解，更有利于日后的探傷工作。該型儀器鍵盤見下圖。記錄1_/()波門2abc通道/設(shè)置 3def零點/測試 4ghi增益/補償 5jkl功能9wxyz+聲程/標度 6mno延時/抑制 0；+聲速/標準 7pqrs選項 ←返回＃K值8tuv查詢確認/2ndf 記錄數(shù)字式探傷儀的一大特點是能對探傷數(shù)據(jù)進行處理，可以打印、存儲探傷中發(fā)現(xiàn)的缺陷波及相關(guān)數(shù)據(jù)，這有助于提高探傷報告的可靠性和權(quán)威性。如果 “回波包絡(luò)”或“峰值記憶”功能被啟用，按記錄鍵會提示是否存儲包絡(luò)或峰值，按y鍵則存儲包絡(luò)或峰值（參見71），按n鍵則存儲原波形；如果這兩項功能都未啟用，則直接出現(xiàn)存貯數(shù)據(jù)提示。（光標閃爍，提醒輸入文件名），反復(fù)按返回鍵可以切換輸入法。若探傷時設(shè)置了“焊縫圖示”功能，按記錄鍵后，照儀器提示進行則可。記錄功能使用詳見第七章。按返回鍵可退出記錄菜單。 41波門（A門/B門）波門鍵為復(fù)合功能鍵，可分別用于調(diào)節(jié)門A（進波門）和門B（進波門/失波門）的位置、寬度和高度。按波門鍵儀器處于門參數(shù)更改狀態(tài)，屏幕左上角出現(xiàn)提示，在提示后有當前參量的數(shù)值，按確認可在門A和門B之間切換，反復(fù)按波門鍵可在門位、門寬和門高之間切換。按 ╋ 、 ━ 鍵可對當前參量進行調(diào)節(jié)。A門有直方門和DAC門兩種，可在功能菜單中切換。參見465。 失波門高如果調(diào)為0%，失波門將不會在屏幕上顯示，同時其失波報警功能也會失去；如果將進波門寬調(diào)為最小值，參數(shù)區(qū)會顯示該波門所處位置回波的實時參數(shù)，因此利用最小波門寬度可讀出屏幕上任一點的位置值（如讀回波前沿）。當門A為進波門、門B為失波門時，屏幕只實時顯示門A范圍內(nèi)最高回波的位置、當量等參數(shù)；若門A和門B同時設(shè)為進波門，則屏幕能分別顯示兩個門內(nèi)最高回波的信息。（讀數(shù)時，波需處于門寬的范圍內(nèi)，并且波峰應(yīng)處于屏幕視覺范圍內(nèi)；而門的高度對讀數(shù)無影響，門高僅對報警有影響。）門功能的特殊應(yīng)用：1）當B門設(shè)為進波門時，可讀出B門內(nèi)最高波與A門內(nèi)最高波的間距差，波形區(qū)右上方有間距差讀值顯示。此法可用于測厚，且用多次波測量，數(shù)據(jù)更精確。2）為方便判斷，該儀器設(shè)計了波處于門高線之上或之下位置時顏色的區(qū)分。即當門內(nèi)最高波的波峰高于門高線時，該最高波的右半部分即變?yōu)榕c門同一顏色。42通道/設(shè)置由于在現(xiàn)場探傷時往往要探測多個工件、更換多個探頭，這就需要在儀器調(diào)校時能根據(jù)不同情況測試并存儲多組探傷設(shè)置，且現(xiàn)場探傷時可直接調(diào)用。在此儀器中，一個通道可存儲一組探傷工藝數(shù)據(jù)，多個通道則可預(yù)先測試并存儲多組不同的探傷設(shè)置，現(xiàn)場直接調(diào)用而無需再調(diào)試儀器，使工作更輕松方便。按通道鍵使儀器處于通道更改狀態(tài)，儀器右側(cè)通道“X”將高亮顯示，此時按 ╋ 、 ━ 鍵更改通道，通道顯示數(shù)有0—9共十個通道，屏幕顯示內(nèi)容將隨通道參數(shù)的不同而發(fā)生改變。該儀器通道可擴充至數(shù)百個。方法為：在某通道調(diào)試后，按記錄鍵，則將該通道參數(shù)及探傷工藝存儲起來，之后，查詢出該數(shù)據(jù)，將其調(diào)用至“9通道”中操作，即存儲的通道工藝若調(diào)出使用均在“9通道”中進行。參見76。探傷過程中，增益、聲程、延時、波門、零點等參量需經(jīng)常更改，并且在更改時能立刻起到作用，在調(diào)節(jié)以上參量時，只需通過快捷的操作即可完成更改；而其它參量在探傷過程中一般無須更改或很少更改，這些參量可以預(yù)先在設(shè)置菜單中設(shè)置。按通道/設(shè)置鍵兩次后，出現(xiàn)設(shè)置菜單如下： 第1頁共2頁1. 探頭類型：直探頭/ 斜探頭/ 雙晶/ 穿透 2. 探頭頻率： MHz3. 晶片尺寸：1313mm4. 折射角度：176。5. 工件聲速：3230m/s6. 探頭前沿： mm7. 通道標準：Custom8. 濾波頻帶： MHZ/ MHZ/ wide確定鍵生效返回鍵取消第2頁共2頁1. 探頭阻尼：LD/50，HD/400 2. 發(fā)射電壓：LV/100V，ML/200V，MH/400V，HV/800V確定鍵生效返回鍵取消如果需要查看或更改某項參數(shù)，按參數(shù)所在頁選擇參數(shù)前的序號即可對該項參數(shù)進行設(shè)置。在輸入負數(shù)時，━鍵為負號鍵，即在輸入負數(shù)時先按━，再輸入一個數(shù)字則代表輸入一個負數(shù)（參見98）。下面對各項參數(shù)分別說明：1． “探頭類型”為四選一，按1鍵選取后出現(xiàn)子菜單，有“直探頭”、“斜探頭”、“雙晶”和“穿透”四個選項供選擇，按數(shù)字鍵1~4選中；該項參數(shù)變更后，儀器須重新調(diào)校。2． “探頭頻率” 和“晶片尺寸”兩項參數(shù)按探頭標稱值輸入?！熬叽纭币豁椩谳斎霑r可用小數(shù)點代號，比如輸入9. 13意為913，如果是直探頭，直接輸入直徑即可；這兩項參數(shù)決定探頭的近場區(qū)長度，由于制作AVG曲線時，理論上只計算三倍近場區(qū)之后的曲線，在此之前為一條直線，在制作AVG前應(yīng)選擇合適的探頭，并將正確的參數(shù)輸入。 3． “折射角度”：斜探頭一般先輸入標稱值，之后在測試時將得到實測折射角度值，如果已知實際折射角度值則直接輸入。參見52，48。4． “工件聲速”一般在“測零點”時測量，但也可在設(shè)置菜單中輸入，聲速應(yīng)在200 ~ 9999m/s之間，超出范圍儀器將不接受輸入；當此項發(fā)生更改時，儀器須重新調(diào)校。5． “探頭前沿”在“測零點聲速”時測量，也可在設(shè)置菜單中輸入，如果前沿值已輸入，則參數(shù)顯示區(qū)顯示的實時水平值將是已減去前沿的數(shù)值，對此應(yīng)予以注意，不能重復(fù)相減；此外此值輸入不準確，會影響缺陷的水平定位。6． “通道標準”用于設(shè)置當前通道使用何種標準，此標準設(shè)置好后在“初始化”菜單中執(zhí)行初始化“當前通道”后，通道內(nèi)的標準依然為之前設(shè)置的標準不變。只有執(zhí)行“所有通道”或“儀器”后，會將所有通道內(nèi)的標準設(shè)為儀器默認的標準。7． “濾波頻帶”為三選一，按數(shù)字1～、wide。通過選擇與探頭頻率相配的頻帶，可以獲得最佳的信噪比和分辨力。8． “探頭阻尼”為二選一，按數(shù)字1和2分別可選低阻尼LD/50和高阻尼HD/400，選擇與探頭及探頭線相匹配的阻尼可以獲得最佳的信噪比及分辨力。9． “發(fā)射電壓”為四選一，按數(shù)字1～4可分別可選電壓LV/100V 、ML/200V、MH/400V，HV/800V。發(fā)射電壓的高低影響儀器的信噪比。當菜單中某項或多項參數(shù)有誤或取值超出范圍，則儀器會提示“數(shù)據(jù)取值不當”，應(yīng)檢查需輸入數(shù)值的各參數(shù)項，重新輸入正確值；按返回鍵，則放棄輸入并退出參數(shù)設(shè)置菜單。注意：更改的數(shù)據(jù)在按 191。 鍵確認退出設(shè)置菜單后才生效。 43零點/測試按零點/測試鍵，屏幕左上角的提示為“探頭零點”字樣，按 ╋ 、 ━ 鍵可對零點進行設(shè)置（手工調(diào)節(jié)零點的詳細方法參照82）。零點值變化后，回波會相應(yīng)的水平移動，其參數(shù)也會變動，但DAC/AVG曲線沒有同步變化，即回波定位及當量值將會改變，因此儀器在測試完DAC/AVG曲線之后不能改變零點，以免出現(xiàn)錯誤。自動或手動測試零點后，也可按零點/測試鍵，使屏幕出現(xiàn)“零點”兩字，查看所測的零點值。在初始狀態(tài)，儀器的各參量是預(yù)置的固定數(shù)值，跟實際情況可能不符（如探頭K值、工件聲速、零點等），如果直接探傷，在缺陷的定位、定量時會不準確，甚至不能查找出缺陷，因此儀器在探傷前需進行一些前期校驗工作，對一些重要參量進行調(diào)試，從而使得探傷時操作輕松、結(jié)果正確。這些前期工作我們將其組合在測試菜單中，以方便使用。按零點/測試鍵兩次（或先按零點/測試鍵，再按確認鍵）后屏幕波形區(qū)右上方出現(xiàn)調(diào)校菜單：1． 測零點聲速2． 測折射角度3． 制作DAC4． 制作AVG5． 測儀器性能6． 測缺陷高度按標號16即選中相關(guān)測試，出現(xiàn)相應(yīng)菜單，根據(jù)提示輸入數(shù)據(jù)或進行相應(yīng)選擇后即可開始測試，測試過程及具體操作詳見第五章。按返回或確認鍵退出調(diào)校菜單。44增益（基本/補償）增益鍵為復(fù)合功能鍵，可分別用于調(diào)節(jié)系統(tǒng)增益和補償增益。增益的調(diào)節(jié)由增益 鍵與 ╋ 、 ━ 鍵完成。其步驟如下：按增益鍵，在“增益”狀態(tài)下，再按 ╋ 、 ━ 鍵，便完成了回波幅度的調(diào)節(jié)。該儀器的基本增益設(shè)置了四檔調(diào)節(jié)步長：增益 ━━━━；增益 ━━━━調(diào)節(jié)步長按1dB增減；增益 ━━━━調(diào)節(jié)步長按2dB增減；增益 ━━━━調(diào)節(jié)步長按6dB增減。增益步長的選擇操作步驟為：反復(fù)按增益鍵，便可交替選擇增益步長。在探傷中長按增益鍵實現(xiàn)自動增益功能，使門內(nèi)回波升高或降低到預(yù)定的標準波高（一般為80％），但在自動調(diào)節(jié)過程中總增益量不會超過80dB；其增益值加于基本增益之上。補償增益設(shè)置四檔調(diào)節(jié)步長：增益 ━━━━自動調(diào)節(jié)增益；增益 ━━━━；增益 ━━━━調(diào)節(jié)步長按2dB增減；增益 ━━━━調(diào)節(jié)步長按6dB增減。，按加號鍵可調(diào)節(jié)補償增益的大小使門內(nèi)回波升高或降低到預(yù)定的標準波高（一般為80％），但在自動調(diào)節(jié)過程中總增益量不會超過80dB。按鍵可使補償增益迅速歸為0，波形還原至原先狀態(tài)。（標準波高見選項菜單第2頁第6項）在增益狀態(tài)下，該儀器