電路仿真與pcb設(shè)計(jì)機(jī)考分析報(bào)告(編輯修改稿)
2025-08-18 20:48 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 f為5k、10k、15k、20k、25k、30k、35k、40k、45k、50k時(shí)，IC(Q1)在溫度范圍為30度～50度內(nèi)的變化情況。 Rf5k10k15k20k25k30k35k40k45k50kIC(Q1)Min/mAIC(Q1)Max/mAMaxMin/mA 分析仿真結(jié)果，整理如下表所示： 可以看出隨著反饋電阻Rf的增大，IC(Q1)在溫度變化范圍為30度～50度之間時(shí)的改變量越來(lái)越大，即電路的不穩(wěn)定性增大了。由此猜測(cè)Rf過(guò)大，其負(fù)反饋性能就差了，所以考慮到電路在溫度變化時(shí)的工作穩(wěn)定性，Rf不宜過(guò)大。第二大題： 畫(huà)圖過(guò)程中遇到的第一個(gè)問(wèn)題就是在現(xiàn)存的庫(kù)中找不到U1和U2,后來(lái)才發(fā)現(xiàn)必須是自己
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